技能培训专题 BTF020开发评估板使用说明书.pdf
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1、新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 1 BT F020BT F020 开发评估板使用说明书开发评估板使用说明书 Version: 1.0 目录 一BT F020 开发评估板功能简介 2 二BT F020 开发评估板测试程序详细说明 4 三Silicon Laboratories IDE 安装配置 7 四BT F020 开发评估板使用方法 8 新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 2 一 BT F020 开发评估板功能简介 1 1 产品简介产品简介 BT F020 是新华龙电子有限公司在推出 NCD-CIP51F020-A、B 两款实
2、验机后,为方便 用户使用、学习 C8051F020 单片机而设计制造的一款开发评估板。BT F020 开发评估板 具有以下特点: 主 MCU 是完全集成的混合信号系统级芯片(SoC)。 低价位、多功能的开发主板。 根据应用系统设计需要,通过输入输出插座附加扩展电路,用户无须设计整 个应用系统,即可以在 BT F020 评估板上轻松地开始应用软件的开发工作, 缩短开发周期。 附带的光盘提供完整的演示程序,有利于用户更快、更全面的学习和了解 C8051F 系列单片机的各种功能。 2.C8051F2.C8051F 单片机简介单片机简介 C8051F 单片机是完全集成的混合信号系统级芯片(SoC),具
3、有与 8051 单片机兼容 的高速的 CIP-51 内核,与 MCS-51 指令集完全兼容,片内集成了数据采集和控制系统中 常用的模拟、数字外设及其他功能部件;内置 FLASH 程序存储器、内部 RAM,大部分器 件内部存在 XRAM。C8051F 单片机具有片内调试电路,通过 4 脚的 JTAG 接口可以进行非 侵入式、全速的在线调试。 3 3 板上资源板上资源 MCU:C8051F020,片内 64K FLASH,4K XRAM; 片外:8M 位 FLASH,1M SRAM,256 字节的 EEPROM; 216 字符 LCD 显示器; 4 个按键; JTAG 调试接口; 2 通道 RS2
4、32 接口; SPI 接口; I2C/SMBUS 接口; 12 位的 ADC0、8 位的 ADC1 输入接口,2 路 DAC 输出接口; 新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 3 USB 接口; 4.4.开发板组成开发板组成 BT F020 评估开发板一块 一条 USB 线 一个 220V 变 9V 直流电源 软件光盘一张 5 5 开发板图片开发板图片 图图 1 1 6 6 BT F020BT F020 评估板的跳线说明评估板的跳线说明 J1/J1-1I/O 口 J2/J2-2I/O 口 J3/J3-3I/O 口 J4/J4-4I/O 口 J51 脚为 CP0+,
5、2 脚为 CP0-,3 脚为 CP1+,4 脚为 CP1-。 J61 脚为外部 2.5V 基准电压源,2 脚为 E_VREF。 J71 脚为 NC,3、5、7 脚为外部 2.5V 基准电压源,2 脚为内部基准输出,4 脚为 新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 4 VREFD,6 脚为 VREF0,8 脚为 VREF1。 J81 脚为 AIN0.0,2、3 脚为 AGND,4 脚为 AIN0.1。 J961 脚分别为模拟输入 AIN0.2AIN0.7 J10JTAG 口 J111 脚为 DAC0 输出2 脚 DAC1 输出 J1218 脚 AIN1.0AIN1.7
6、 或作为频率输出、高速输出等 J13UART0 输出口 J14UART1 输出口 J15MONEN 引脚 J16RS232/USB(1-2 为:RS232;2-3 为:USB)跳线 J17RS232/USB(1-2 为:RS232;2-3 为:USB)跳线 J18+5V(LCD 电源跳线) J19USB 接口 二二 BT F020BT F020 开发评估板测试程序详细说明开发评估板测试程序详细说明 1 1本公司提供的测试程序可以应用 Silicon Laboratories IDE 软件编译通过。IDE 配置方 案参考“三.Silicon Laboratories IDE 安装配置”内容。 2
7、.2.晶振的选择:系统时钟初始化后应用外部22.1184M晶振,如果不进行系统时钟初始化,系 统将使用内部晶振,默认值为2M,也可以通过设置OSCICN 寄存器改变内部晶振的大小(可 选值为2M、4M、8M、16M) 3.测试程序说明测试程序说明 所有测试程序在附带光盘的 SOFTWARE目录下, (1 1)模拟量模拟量(电压电压)的采样的采样(例程:ADC1_TEMP) 摘要摘要:本程序主要实现对模拟量(电压)的采样、AD转换、LCD显示并通过UART0发送 到PC机。实验时把ADC的工作基准VREF0同2.5V基准电压源相连(J7_5和J7_6或 J7_2和J7_6)且将LCD电源跳线(J
8、18_1和J18_2)联接好。 (2 2)温度测量程序温度测量程序(例程: ADC0_TEMP) 新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 5 摘要摘要:本程序使用C8051F020芯片的片内温度传感器,实现对芯片表面温度进行测量, 测量值通过LCD显示且从UART0发送至PC机,使用外部22.1184MHz晶振。 注注: LMV324 只对 AIN0.0、AIN0.1 这两个通道的信号进行调整,做 ADC0 应用实验 时一定要注意以下问题: . 在信号调理的输入端J8-1脚(J8的第1脚)可以输入+6/-6 的电压经过 LMV324调理后进行采样,也就是AIN0.0
9、能对调理后的+6/-6V的电压信号进 行采样。 . 在信号调整的输入端J8-4(J8的第4脚)可以输入420毫安的电流经 过电压跟随器输入到芯片的AIN0.1脚进行采样。(特别强调:该通道不能 输入+6/-6V的电压,虽然LMV324进行了信号的调整,但LMV324组成的电路 仅是一个电压跟随器,在J8-4脚输入多大的电压或电流都是直接加到芯片 的AIN0.1脚。如果用户不按该原则做实验,而损坏芯片本公司概不负责。) (3 3)数模转换输出数模转换输出(例程:DAC0_DTMF1) 摘要摘要: : 本程序是DA测试实验程序,使用外部22.1184MHz晶振。 功能功能: : 将数字量转化成模拟
10、信号输出,由T4定时控制DAC0输出DTMF信号。 (4 4)比较器比较器(例程:CP1) 摘要摘要: : CP1-接VREF,用电位器从3.3V分压输出至CP1+,使用外部22.1184MHz晶振。 实验时用跳线将CP-和VREF进行连接, 并外接一个用来输出03.3V电压的电路。 功能功能: : 由CP的CP+、 CP-的高低来控制红色LED灯亮/灭 (CP+ CP-则LED亮,相反灭) 。 可在中断程序中设断点观察。 (5 5)外扩外扩SRAMSRAM(例程: IS62LV1024test) 摘要摘要: : 本程序是外扩存储器的测试程序,实现对STC62WV1024的读写. 使用外部22
11、.1184MHz晶振。 功能功能: : 实现外部存储器IS62LV1024的数据读写操作,采用非复用地址方式,128K分块 操作。 (6 6)LCDLCD显示显示(例程: LCD1602A) 摘要摘要:本程序是LCD测试程序。用四位数据线驱动LCD,使用外部22.1184MHz晶振。 功能功能:运行程序,显示两行字符“BT F020 V1.0”和“” 新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 6 (7 7)SPISPI(例程: at45db081test) 摘要摘要:本程序是串行外设接口总线测试程序,对AT45db081进行读写操作,同时了解串 行外设接口(SPI)的
12、读写操作方法。 (8 8)I2C/SMBUSI2C/SMBUS(例程: 24c02test、I2C目录下) 摘要摘要:本程序是I2C总线/SMBUS读写程序,实现AT24C02、16、64 的读写操作。使用外 部22.1184MHz晶振。 (9 9)8 8位位PWMPWM(例程: PCApwm8) 摘要摘要:PCA工作在8位脉宽调制器工作方式,由P0.0输出一个占空比为00 xfe0的PWM 信号且重复输出,可用示波器观察占空比变化。使用外部22.1184MHz晶振。 (1010)PCAPCA捕捉捕捉(例程: PCA_PZ_test) 摘要摘要: PCA模块2工作在边沿触发的捕捉方式下,T3控
13、制P2.4输出脉冲信号,将脉冲信 号连接到P0.2(PCA模块2的入口)。在PCA中断程序中设断点观察,P2.4的上、下 沿变化时都会产生PCA中断。实验时短接P2.4和P2.0引脚. (1111)键盘扫描键盘扫描(例程: key) 摘要摘要: 这个程序扫描KEY1KEY4。 有按键按下后, 返回相应按键的字符: 1 , 2 , 3,4,并在LCD上显示出来(注:J18要短接,给LCD 供电), 使用外部 22.1184MHz晶振。 (1212)UART0UART0程序程序(例程: uart0) 摘要摘要:本程序实现由片内温度传感器测量MCU温度,温度值由UART0发送至上位机同时 接收一个来
14、自上位机的字符数据并在LCD显示。实验时把ADC0的工作基准VREF0 同2.5V基准电压源相连(J7_5和J7_6或J7_2和J7_6)且将LCD电源跳线(J18_1 和J18_2)联接好。交叉开关配置P0.0 P0.1 为UART0。使用外部22.1184MHz晶 振。 (1313)USBUSB与与RS232RS232转换实验转换实验(例程:uart0_usb) 摘要摘要:本实验是利用RS232与USB转换芯片(CP2102),转换出一个USB接口,同上位 机通讯。(J16:2-3联接;J17:2-3联接) 功能功能: : 测量芯片温度,通过LCD显示,并通过UART0和CP2102芯片经
15、USB线发送到上位 新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 7 机,使用串口调试工具进行通讯。 三三 Silicon Laboratories IDESilicon Laboratories IDE安装配置安装配置 1 1IDE 安装:自动运行附带光盘,点击“安装 Silabs IDE”,按提示进行安装即可。 2 2CP210X 驱动的安装:仅在选用 U_EC2 时需要安装此驱动程序。 自动运行附带光盘,点击“安装 CP210X 驱动”,按提示进行安装即可 3 3安装结束,打开 IDE 集成开发环境,在新建或打开原有的项目后,点击主菜单“Options” 选择“Co
16、nnection Options.”选项(如图 2 所示),进入图 3 界面。 图 2 (1)若调试器使用 U_EC3/ U_EC5,选择与图 3 相同选项, 点击 OK 即可进行连接、程序下载和在线调试。 (2)若调试器使用 U_EC2,图 3 中“Serial Adapter”框 选“RS232 Serial Adapter.”一项。其中, “COMPORT”的选 择要参照“设备管理器”的端口选项(图 4 中红色圆圈) 。已知 红色圆圈内容后,点击“COMPORT”复选框,选择“Other COM” 项,输入与“设备管理器”中相同的 COM 口值(如“3” ) ,则 “COMPORT”复选
17、框的内容为“COM3” 。点击 OK 即可进行连接、 程序下载和在线调试。 图 3 新华龙电子有限公司美国 SILABS 公司 MCU 产品中国区代理 8 图 4 四四BT F020BT F020 评估开发板使用方法评估开发板使用方法: 1 1将调试器用10芯扁平电缆连接到评估板的JTAG口。 2 2参照丝印层图片(附图)连接跳线。 3.3. 给评估板供电。提供电源的正确顺序:首先连接好调试器和评估板,然后接通评估板电源。不 可以先提供评估板电源,再连接调试器。 4.4. 打开IDE开发环境,选择好调试口。使用调试器对C8051F020芯片编程和在线调试。 123456 A B C D 654
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