中小尺寸Quick驱动原理.ppt
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1、Page: 1Updated: Printer date: Rev Prepared by: 中小尺寸Quick驅動原理介紹 PE/江弘銘 Page: 2 Full Contact架構 Vcom path gate com data VG VD VD Page: 3 Full Contact訊號 Page: 4 Quick 架構(1D1G) gate com data VG VD VD VGG VG Vcom Page: 5 Quick 架構(2D1G) gate com data VD VGG VGate Vcom VDodd VDeven Page: 6 Quick 架構(VGG) Pag
2、e: 7 Quick訊號(Hi-Lock/Full on)-1G1D Page: 8 Quick訊號(Normal/Pulse)-2G3D Page: 9 Quick Pads 5.6“ IC bonding後: VGG-VGL Vgate-Vcom Vdata-Vcom Vcom-Vcom Page: 10 Quick測試優缺點 優點: 避免IC損失 節省測試機台成本 缺點: Fan out斷線無法檢出 Dot defect誤判為Line defect ITO-M2 short亮點漏放 Page: 11 Fan out斷線無法檢出 現象: 原因: Quick走線與Full Contact走線
3、不同 改善措施:導入Inner quick設計 Page: 12 Dot defect誤判為Line defect 現象: 原因: 漏電流經過VGG產生之壓降,影響VD訊號。 改善措施: 1.降低VGG阻值(設計變更) 2.建立教育sample(人員訓練) Page: 13 ITO-M2 short亮點漏放 現象:模組段微亮點(全黑) 亮點(上黑下白) Quick無法檢出 原因: 驅動訊號差異 改善措施: 1.變更VD測試訊號(測試機台成本增加) Page: 14 Quick訊號異常造成之defect 無畫面 畫面異常(全面性偏白 or 偏黑 ) 奇偶線 Flicker Page: 15 Qu
4、ick訊號異常分析手法 使用三用電表歐姆檔量測Quick Pads 尋找可能發生位置(layout圖面 or 顯微鏡) Laser repair機台驗證(repair or 惡化驗證) Page: 16 2501 No image 現象:無畫面 分析:框膠處Glass Fiber壓破Passivation layer導致Quick訊號短 路 改善措施:框膠處不可有金屬cross over Page: 17 7003 畫面異常 現象: 分析:外界異物造成Quick訊號短路(PDI走線處) 改善措施:更改PDI走線位置 Page: 18 8002 No image 現象:無畫面 分析:ESD da
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