实验4-5电光调制器性能的测试.ppt
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1、实验4-5 电光调制器性能的测试,南开大学基础物理实验教学中心 近代物理实验室,实验概述,外场对晶体宏观性质的影响,主要反映在晶体的折射率的变化上,这种变化虽小,但足以改变光在晶体中传播的许多特性,因而可以达到利用外场来控制光的传播方向、位相、强度、偏振态等,从而使输出光成为可利用的讯号光。,晶体的折射率因外加场而发生变化的现象为电光效应。折射率与外电场成比例改变的称为线性电光效应或普克尔效应,与外加场的二次方成比例改变的,称为二次电光效应或克尔效应。外电场可以是直流场或交变场,频率可高达超高频或微波的范围。 线性电光效应公式:,实验原理,双折射 o光和e光都是偏振光,振动方向互相垂直。o光的
2、折射率不随方向而变,e光的折射率则随方向而变。,折射率椭球 折射率椭球(习惯称光率体)是描述晶体光学性质常用的示性面,在各向异性介质的主轴坐标系中,光率体用下式描述:,式中n1 、n2 、n3为该光率体在主轴方向上的折射率,称为主折射率,输出光的干涉 在晶体的光学性质研究和应用电光效应时,经常要使用两个偏光镜,一个偏光镜用于产生线偏振光,称为起偏镜,另一个偏光镜称检偏镜或分析镜,它可使具有一定光程差的两个相干的线偏振光在同一个平面内振动,引起干涉而产生强度的变化。 右图为检偏镜和起偏镜偏振方向互相垂直情况下的干涉。,实验操作,本实验采用横向电光调制,起偏镜和检偏镜偏振方向互相垂直的情况下,输出
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