2019年X射线衍射分析原理与应用.ppt
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1、X射线衍射分析原理与应用,X射线衍射仪操作培训,第一讲 X射线衍射基本原理,X射线物理学基础 X射线衍射的方向 X射线衍射的强度,X射线物理基础,X射线的本质 X射线的产生 X射线谱,X射线的本质,1895年德国物理学家“伦琴”发现 X射线的性质特点 肉眼不可见,但能使气体电离,使照相底片感光,能穿过不透明的物体,还能使荧光物质发出荧光。 呈直线传播,在电场和磁场中不发生偏转;当穿过物体时仅部分被散射。 对生物细胞有杀伤作用。,X射线的本质,X射线是一种波长很短的电磁波,波长在108cm左右,具有波动性和粒子性。,X射线在电磁波谱中的位置,X射线的波粒二相性,波动性:,粒子性:,X射线的产生,
2、X射线的产生: X射线是高速运动的粒子与某种物质相撞击后猝然减速,且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。,X射线管,X射线管,(1)阴极(灯丝)发射电子。 由钨丝制成,加热后热辐射电子。 (2)阳极(靶)发射X射线。 使电子突然减速并释放X射线。 (3)窗口X射线出射通道。 既能让X射线出射,又能使管密封。窗口材料用金属铍或硼酸铍锂。窗口与靶面常成3-6的斜角,以减少靶面对出射X射线的阻碍。,X射线管,(4)高速电子转换成X射线的效率只有1%,其余99%都作为热而散发了。所以靶材料要导热性能好,常用黄铜或紫铜制作,还需要循环水冷却。因此X射线管的功率有限,大功率需要用旋转阳极。 (5)焦点阳
3、极靶表面被电子轰击的一块面积,X射线就是从这块面积上发射出来的。焦点的尺寸和形状是X射线管的重要特性之一。焦点的形状取决于灯丝的形状,螺形灯丝产生长方形焦点。,X射线管的性能,X射线衍射工作中希望细焦点和高强度: 细焦点提高分辨率 高强度缩短暴光时间、提高信号强度,旋转阳极,上述常用X射线管的功率为5003000W。目前还有旋转阳极X射线管、细聚焦X射线管和闪光X射线管。 因阳极不断旋转,电子束轰击部位不断改变,故提高功率也不会烧熔靶面。目前有100kW的旋转阳极,其功率比普通X射线管大数十倍。,X射线谱- 连续X射线谱,X射线强度与波长的关系曲线,称之X射线谱。 在管压很低时,小于20kv的
4、曲线是连续变化的,故称之连续X射线谱,即连续谱。,X射线谱- 特征X射线谱,当管电压超过某临界值时,特征谱才会出现,该临界电压称激发电压。当管电压增加时,连续谱和特征谱强度都增加,而特征谱对应的波长保持不变。 钼靶X射线管当管电压等于或高于20KV时,则除连续X射线谱外,位于一定波长处还叠加有少数强谱线,它们即特征X射线谱。 钼靶X射线管在35KV电压下的谱线,其特征x射线分别位于0.63和0.71处,后者的强度约为前者强度的五倍。这两条谱线称钼的K系,特征X射线的产生机理,特征X射线的产生机理与靶物质的原子结构有关。 原子壳层按其能量大小分为数层,通常用K、L、M、N等字母代表它们的名称。
5、但当管电压达到或超过某一临界值时,则阴极发出的电子在电场加速下,可以将靶物质原子深层的电子击到能量较高的外部壳层或击出原子外,使原子电离。 阴极电子将自已的能量给予受激发的原子,而使它的能量增高,原子处于激发状态。 如果K层电子被击出K层,称K激发,L层电子被击出L层,称L激发,其余各层依此类推。,特征X射线的产生机理,产生K激发的能量为WKhK,阴极电子的能量必须满足 eVWKhK,才能产生K激发。其临界值为eVKWK ,VK称之临界激发电压。处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向,此时外层电子将填充内层空位,相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时,多出的能量以X射线形式辐射
6、出来。因物质一定,原子结构一定,两特定能级间的能量差一定,故辐射出的特征X射波长一定。,当K电子被打出K层时,若L层电子来填充K空位,则产生K辐射。X射线的能量为电子跃迁前后两能级的能量差,即,特征X射线的命名方法,特征X射线的命名方法,同样当K空位被M层电子填充时,则产生K辐射。M能级与K能级之差大于L能级与K能级之差,即一个K光子的能量大于一个K光子的能量; 但因LK层跃迁的几率比MK迁附几率大,故K辐射强度比K辐射强度大五倍左右。 显然, 当L层电子填充K层后,原子由K激发状态变成L激发状态,此时更外层如M、N层的电子将填充L层空位,产生L系辐射。因此,当原子受到K激发时,除产生K系辐射
7、外,还将伴生L、M等系的辐射。除K系辐射因波长短而不被窗口完全吸收外,其余各系均因波长长而被吸收。 K双线的产生与原子能级的精细结构相关。L层的8个电子的能量并不相同,而分别位于三个亚层上。K双线系电子分别由L和L两个亚层跃迁到K层时产生的辐射,而由LI亚层到K层因不符合选择定则(此时l0),因此没有辐射。,X射线与物质的相互作用,当一束X射线通过物体后,其强度将被衰减,它是被散射和吸收的结果,并且吸收是造成强度衰减的主要原因。,当X射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,其振动频率与入射X射线的频率相同。 任何带电粒子作受迫振动时将产生交变电磁场,从而向四周辐射电磁波,
8、其频率与带电粒子的振动频率相同。 由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。相干散射是X射线在晶体中产生衍射现象的基础。,X射线的散射,X射线的吸收曲线,X射线通过物质时的衰减,是吸收和散射造成的。 如果用m仍表示散射系数,m表示吸收系数。在大多数情况下吸收系数比散射系数大得多,故mm。质量吸收系数与波长的三次方和元素的原子序数的三次方近似地成比例,因此,吸收限的应用 -X射线滤波片的选择,在一些衍射分析工作中,我们只希望是k辐射的衍射线条,但X射线管中发出的X射线,除K辐射外,还含有K辐射和连续谱,它们会使衍射花样复杂化。 获得单色光的方
9、法之一是在X射线出射的路径上放置一定厚度的滤波片,可以简便地将K和连续谱衰减到可以忽略的程度。,滤波片的选择规则,Z靶40时,Z滤Z靶-1 Z靶40时,Z滤Z靶-2,吸收限的应用-阳极靶材料的选择,在X射线衍射晶体结构分析工作中,我们不希望入射的X射线激发出样品的大量荧光辐射。大量的荧光辐射会增加衍射花样的背底,使图象不清晰。避免出现大量荧光辐射的原则就是选择入射X射线的波长,使其不被样品强烈吸收,也就是选择阳极靶材料,让靶材产生的特征X射线波长偏离样品的吸收限。 根据样品成分选择靶材的原则是: Z靶Z样-1;或Z靶Z样。 对于多元素的样品,原则上是以含量较多的几种元素中最轻的元素为基准来选择
10、靶材。,1895年伦琴发现X射线后,认为是一种波,但无法证明。 当时晶体学家对晶体构造(周期性)也没有得到证明。,1912年劳厄将X射线用于CuSO4晶体衍射同时证明了这两个问题,从此诞生了X射线晶体衍射学,X射线衍射,X射线衍射可归结为两方面的问题,衍射方向和衍射强度 衍射方向问题是依靠布拉格方程(或倒易点阵)的理论导出的; 衍射强度主要介绍多晶体衍射线条的强度,将从一个电子的衍射强度研究起,接着研究一个原子的、一个晶胞的以至整个晶体的衍射强度,最后引入一些几何与物理上的修正因数,从而得出多晶体衍射线条的积分强度。,布拉格定律的推证,当射线照射到晶体上时,考虑一层原子面上散射射线的干涉。当射
11、线以角入射到原子面并以角散射时,相距为a的两原子散射x射的光程差为: 当光程差等于波长的整数倍(n)时 ,在角方向散射干涉加强。即程差=0,从上式可得 即,只有当入射角与散射角相等时,同层原子面上所有原子的散射波干涉将会加强。因此,常将这种散射称从晶面反射。,布拉格定律的推证,X射线有强的穿透能力,晶体的散射线来自若干层原子面,各原子面的散射线之间还要互相干涉。 两相邻原子面的散射波的干涉,其光程差: 当光程差等于波长的整数倍时,相邻原子面散射波干涉加强,即干涉加强条件为:,射线在晶体中的衍射,实质上是晶体中各原子相干散射波之间互相干涉的结果。但因衍射线的方向恰好相当于原子面对入射线的反射,故
12、可用布拉格定律代表反射规律来描述衍射线束的方向。 在以后的讨论中,常用“反射”这个术语描述衍射问题,或者将“反射”和“衍射”作为同义词混合使用。 但应强调指出,x射线从原子面的反射和可见光的镜面反射不同,前者是有选择地反射,其选择条件为布拉格定律;而一束可见光以任意角度投射到镜面上时都可以产生反射,即反射不受条件限制。 因此,将x射线的晶面反射称为选择反射,反射之所以有选择性,是晶体内若干原子面反射线干涉的结果。,Bragg定律讨论-(1)选择反射,Bragg定律讨论-(2)衍射极限条件,由布拉格公式2dsin=n可知,sin=n/2d,因sin/2的晶面才能产生衍射。 例如的一组晶面间距从大
13、到小的顺序:2.02,1.43,1.17,1.01 ,0.90 ,0.83 ,0.76 当用波长为k=1.94的铁靶照射时,因k/2=0.97,只有四个d大于它,故产生衍射的晶面组有四个。如用铜靶进行照射, 因k/2=0.77, 故前六个晶面组都能产生衍射。,Bragg定律的讨论-(3)干涉面和干涉指数,为了使用方便, 常将布拉格公式改写成。 如令 ,则 可将(hkl)晶面的n级反射,看成(HKL)晶面的1级反射。 (HKL) 与(hkl)面互相平行,晶面间距为(hkl)晶面的1/n。 (HKL)晶面不一定是晶体中的原子面,而是为了简化布拉格公式而引入的反射面,常将它称为干涉面。,Bragg定
14、律的讨论-(3)干涉面和干涉指数,干涉指数有公约数n,而晶面指数只能是互质的整数。当干涉指数也互为质数时,它就代表一组真实的晶面。 可将干涉指数视为晶面指数的推广,是广义的晶面指数。,布拉格方程应用,布拉格方程是X射线衍射分析中最重要的基础公式,反映衍射时说明衍射的基本关系,所以应用非常广泛。从实验角度可归结为两方面的应用: 一方面是用已知波长的X射线去照射晶体,通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的面间距d,这就是结构分析- X射线衍射学; 另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试样发射出来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是X射线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从X射线的
15、波长还可确定试样的组成元素。电子探针就是按这原理设计的。,X射线的强度,X射线衍射理论能将晶体结构与衍射花样有机地联系起来,它包括衍射线束的方向、强度和形状。 衍射线束的方向由晶胞的形状大小决定 衍射线束的强度由晶胞中原子的位置和种类决定, 衍射线束的形状大小与晶体的形状大小相关。 下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、一个晶体、粉末多晶循序渐进地介绍它们对X射线的散射,讨论散射波的合成振幅与强度,一个原子对X射线的衍射,当一束x射线与一个原子相遇,原子核的散射可以忽略不计。原子序数为Z的原子周围的Z个电子可以看成集中在一点,它们的总质量为Zm,总电量为Ze,衍射强度为: 原子中所有电子并
16、不集中在一点,他们的散射波之间有一定的位相差。则衍射强度为: fZ f-原子散射因子,一个原子对X射线的衍射,原子中的电子在其周围形成电子云,当散射角2=0时,各电子在这个方向的散射波之间没有光程差,它们的合成振幅为Aa=ZAe; 当散射角20时,如图所示,观察原点O和空间一点G的电子,它们的相干散射波在2角方向上有光程差。 设入射和散射方向的单位矢量分别是S0和S,位矢: 则其相位差为 :,原子对X射线的衍射,对积分可求合成振幅Aa,原子散射因子f为下式 f的大小受Z,影响(见右图),一个晶胞对X射线的衍射,简单点阵只由一种原子组成,每个晶胞只有一个原子,它分布在晶胞的顶角上,单位晶胞的散射
17、强度相当于一个原子的散射强度。 复杂点阵晶胞中含有n个相同或不同种类的原子,它们除占据单胞的顶角外,还可能出现在体心、面心或其他位置。 复杂点阵单胞的散射波振幅应为单胞中各原子的散射振幅的矢量合成。由于衍射线的相互干涉,某些方向的强度将会加强,而某些方向的强度将会减弱甚至消失。这种规律称为系统消光(或结构消光)。,晶胞中原子对X射线的散射波的合成振幅,原子间的相位差: 合成振幅: 定义结构振幅为F,-称之结构因子,结构振幅的计算,结构振幅为: 可将复数展开成三角函数形式 则 由此可计算各种晶胞的结构振幅,结构振幅的计算1、简单点阵,单胞中只有一个原子,基坐标为(0,0,0),原子散射因数为f,
18、那么: 该种点阵其结构因数与HKL无关,即HKL为任意整数时均能产生衍射,例如(100)、(110)、(111)、(200)、(210)。能够出现的衍射面指数平方和之比是,结构振幅的计算2、体心点阵,单胞中有两种位置的原子,即顶角原子,其坐标为(0,0,0)及体心原子,其坐标为 (1/2,1/2,1/2) 1)当H+K+L=奇数时, ,即该晶面的散射强度为零,这些晶面的衍射线不可能出现,例如(100)、(111)、(210)、(300)、(311)等。 2)当H+K+L=偶数时, 即体心点阵只有指数之和为偶数的晶面可产生衍射,例如(110)、(200)、(211)、(220)、(310)。 这
19、些晶面的指数平方和之比是(12+12):22:(22+12+12):(32+12)=2:4:6:8:10。,结构振幅的计算3、面心点阵,单胞中有四种位置的原子,它们的坐标分别是(0,0,0)、 (0,1/2,1/2)、(1/2,0,1/2)、(1/2,1/2,0) 1)当H、K、L全为奇数或全为偶数时 2)当H、K、L为奇数混杂时(2个奇数1个偶数或2个偶数1个奇数) 即面心立方点阵只有指数为全奇或全偶的晶面才能产生衍射,例如(111)、(200)、(220)(311)、(222)、(400)。能够出现的衍射线,其指数平方和之比是:3:4:8:11;12:16=1;1.33:2.67:3.67
20、:4:5.33,三种晶体可能出现衍射的晶面,简单点阵:任何晶面都能产生衍射 体心点阵:指数和为偶数的晶面 面心点阵:指数为全奇或全偶的晶面 由上可见满足布拉格方程只是必要条件,衍射强度不为0是充分条件,即F不为0,粉末多晶体的衍射强度,衍射强度的计算因衍射方法的不同而异,劳厄法的波长是变化的所以强度随波长而变。其它方法的波长是单色光,不存在波长的影响。 我们这里只讨论最广泛应用的粉末法的强度问题,在粉末法中影响衍射强度的因子有如下五项,粉末多晶体的衍射强度,(1) 结构因子 (2)角因子(包括极化因子和罗仑兹因子) (3) 多重性因子 (4) 吸收因子 (5) 温度因子,(1) 结构因子和形状
21、因子,这个问题已经述及,就是前面公式所表达的,(2)角因子(罗仑兹因子),因为实际晶体不一定是完整的,存在大小、厚薄、形状等不同;另外X射线的波长也不是绝对单一,入射束之间也不是绝对平行,而是有一定的发散角。这样X射线衍射强度将受到X射线入射角、参与衍射的晶粒数、衍射角的大小等因素的影响。,角因子,将上述几种因素合并在一起,有 (1/sin2)(cos)(1/sin2)= cos/ sin22= 1/4 sin2cos。 与极化因子合并,则有: ()= (1+cos22)/ sin2cos。 这就是罗仑兹极化因子。它是的函数,所以又叫角因子。,晶粒大小的影响,1.晶体在很薄时的衍射强度 (1)
22、晶体很薄时,一些原本要干涉相消的衍射线没有相消。 (2)在稍微偏离布拉格角时,衍射强度峰并不是在对应于布拉格角的位置出现的一根直线,而是在角附近范围内出现强度。,半高宽 B= /t cos,在强度的一半高度对应一个强度峰的半高宽B,它与晶粒大小的关系是: B = /t cos (t=md,m晶面数,d晶面间距),参与衍射的晶粒数目的影响,理想情况下,参与衍射的晶粒数是无穷多个。由于晶粒的空间分布位向各异,某个(hkl)晶面的衍射线构成一个反射圆锥。由于角的发散,导致圆锥具有一定厚度。以一球面与圆锥相截,交线是圆上的一个环带。环带的面积和圆的面积之比就是参与衍射的晶粒百分数。,衍射线位置对强度测
23、量的影响,在德拜照相法中,底片与衍射圆锥相交构成感光弧对,这只是上述环带中的一段。这段弧对上的强度显然与1/sin2成正比。,(3) 多重性因子,对多晶体试样,因同一HKL晶面族的各晶面组面间距相同,由布拉格方程知它们具有相同的2,其衍射线构成同一衍射圆锥的母线。通常将同一晶面族中等同晶面组数P称为衍射强度的多重性因数。显然,在其它条件相间的情况下,多重性因数越大,则参与衍射的晶粒数越多,或者说,每一晶粒参与衍射的几率越多。 (100)晶面族的P为6 (111)晶面族的P为8 (110)晶面族的P为12 考虑多重性因数的影响,强度公式为,(4)吸收因子,x射线在试样中穿越,必然有一些被试样所吸
24、收。试样的形状各异,x射线在试样中穿越的路径不同,被吸收的程度也就各异。 1.圆柱试样的吸收因素, 反射和背反射的吸收不同。所以这样的吸收与有关。 2.平板试样的吸收因素, 在入射角与反射角相等时,吸收与无关。,(4)吸收因子,(5) 温度因子,原子本身是在振动的,当温度升高,原子振动加剧,必然给衍射带来影响:1.晶胞膨胀;2.衍射线强度减小;3.产生非相干散射。 综合考虑,得:温度因子为:e-2M,粉多晶末法的衍射强度,综合所有因数,射线的衍射积分强度为:,粉多晶末法的相对强度,德拜法的衍射相对强度 衍射仪法的衍射相对强度,衍射强度公式的适用条件,(1) 存在织构时,衍射强度公式不适用! (
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