测定Solution4答案.ppt
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1、1 / 18,1. 以下通过 Gage R&R不能得知的项目有:(4) ( B,D ) A) 部品间的变动 B) 测量仪器与部品的交互作用 C) 测量者间的变动 D) 测量仪的准确度 2. 标准品用同一仪器对同一特性值在不同时间下进行测定时,得到的测定值的变动体现 ?( 4 ) 再现性(Reproduce-ability) 反复性(Repeatability) 正确性(Accuracy) 安定性(Stability) 3. 合理性 Sub-grouping要求的最少 Sub-group数 ( 6个 )和 Sub-group当试料数( 5个 )是? ( 2 ) a:5, b:6 a:6, b:5
2、 a:30, b:30 a:5, b:5 4. 对CTQ的6设计目标(短期)短期是( 4 ) ZBENCH=6.0, ZUSL=6.0, ZLSL=6.0 ZBENCH=4.5, ZUSL=4.65, ZLSL=4.65 ZBENCH=4.5, ZUSL=4.5, ZLSL=4.5 ZBENCH=6.0, ZUSL=6.15, ZLSL=6.15 5. Gage R&R的ANOVA 分析结果 Operator间的P-Value值为 0.000,这意味着什么? = 测定者见存在差异的情况.对于同一试料,测定者间的数据统计不同. 测定者的目光,方法不同.通过教育同意标准 6. 6. ( 2, 4,
3、 9 ) 找出Gage R&R 中所有错误项. 评价者数,标本SIZE,反复数等要事先确定。 规格是 1/100单位时应使用 1/100单位的 Gage。 Gage R&R为27%时,限度Accept。 测定者自己随意确定测定方法进行测定。 试料应覆盖Spec是全范围。 Gage R&R的目的是对测定System的信赖度用客观方法得出。 长期性方法可以得知反复性和再现性占有率。 评价者应在操作仪器的日常作业者中选择。 测定不必Randam实施。 7. 以下是对测定System的说明,找出所有错误项?? ( 2,3 ) Project实行时一定要检讨测定System。 Sample parts不
4、必要包括spec的全范围。 不必要考虑Gage的区分能力。 Gage R&R 30% 时应树立改善计划。 8. 在测定阶段为了解现在的工程能力,体现对工程变动有影响的所有要素,应收集(层别) Data,算出 Z Level。 9. SMD工程中生产500 Unit,发现了26个Defect,Opportunity如果是60,DPU是(26/500=0.052 ),DPMO是 ( 26/(500*60) = 0.00087 ).,多人测定(人的再现 ),同一测试仪器的反复策定 (仪器反复),值的差异,环境变化的差异(时间差),10. Data的形态(种类)按Data可以分解测定的数字大小都有意义
5、的Data,叫做(连续型) ,Data不能分解,测定Data的数字要计数才有意义的叫做(离散型)。,11. 6根据测定的Data如果System有问题,则Data无信赖性,利用统计Tool对结果进行分析检验的方法是( Gage R&R ),2 / 18,12. 从长期观点看,想对PCB焊接不良的Z值进行换算。 检查张数 600Unit中检出了200个Defect,这时的长期机会数为10,请算出以下各项. 1) dpu : = 200/600=0.333 2) dpo : = 200/(600*10)=0.0333 3) dpmo : = 0.033333 * 1000000 = 33333.3
6、 4) Zlt : = 1.83 5) Zst : = Zlt+1.5 = 1.83+1.5= 3.33 13. 请把以下长期Data的工程能力分析结果用4 Block Diagram图 Plotting ,并对现况及改善方向进行说明。 ( Zshift=Zst_bench-Zlt_bench以上公式计算),从Bench结算来看 Z lt-bench = 3 * Ppk = 3 * 0.24 = 0.72 Z st-bench = 3 * Cp = 3 * 0.32 = 0.96 Zshift = 0.96 0.72 = 0.24,在C 域,工程管理优秀,机械程度,技术水准低的状态, 需要学习
7、管理机械程度及设备的技术,实行 B/M,A,B,C,D,2.5 2.0 1.5 1.0 0.5,1 2 3 4 5 6,Zst,Zshift,( 0.96, 0.24 ),3 / 18,14. 以下是对某个 Y有影响的预想 CTQ ,为了确认它们各自测定System的信赖度,实施了 Gage R&R,得到结果如下:,请对三个测定仪不同Gage R&R 结果进行说明 CTQ A :当 % Study var 12.3% OK或 % Tolerance 80.8% 时,此测定系统无法使用. 特别是因为反复性,再现性的不好而使用更高分解性的仪器时,需要对测定者教育. CTQ B : 对于% Tole
8、rance达到 12.7%的部品测定可以使用.但是,对于 * % Study Var达到 53.8%,公差更 tight的其他部品进行测定时候,需要改善测定系统 CTQ C : % Study var, % Tolerance超过 30% 时,无法使用此测定系统. 因为再现性差,需要在测定者接受教育后再次确认测定标准.,15. 为求得工程能力应先进行正态确认(normality test) 结论为不是统计性正态分布。 请说明某 Data在什么情况下不是正态分布,其相应对策是什么? 异常点型 :在整体呈正态分布,特定数据位于正态曲线外的情况下,要找出异常点的原因 双峰型 : 在Sub group
9、ing不正确,两个集合混在一起的情况下,要再次分层次确认. FLAT型 : 在其他几个分布互相交叉的情况下体现平均.层次不正确,或有过度分布的情况下,提出此项,16. 说明%Study和 %Tolerance的概念,17. 请说明实施Rational subgrouping的最主要原因 为了分出群内变动和群间变动,明确对此产生影响的原因 (管理原因 :平均值的变更问题,技术原因:散布问题,% study var,% tolerance, CTQ A,Total R&R,12.3,80.8,( A),Repeatability,8.2,53,Reproducibility,9.2,61, CTQ
10、 B,Total R&R,53.8,12.7,( B),Repeatability,44,10.5,Reproducibility,31.0,7.2, CTQ C,Total R&R,39.3,45.7,( C),Repeatability,39.0,45.2,Reproducibility,4.6,6.9,% Tolerance : 工程(Spec) 对比 Gage R&R 变动的99% 区间比,表现系统的紧密度,在判定评价对象的测定系统是否具备正确判定产品合格与否的能力时使用. % Study : 总变动的 99% 区间对比, Gage R&R 变动的 99% 区间比, 在判定评价对象的测
11、定系统是否具备探知工序变化的能力即判定是否适用于工程管理时使用.,4 / 18,18. 某工程的工程能力分析结果如下: (, Spec=600 2),1) 求Zst_bench, Zlt_bench, Z shift 2) 制作4Block Diagram,写出改善方向,19. 参考下图,回答问题,DPU= DPO= Z= defect/unit defect/(unit*opp) = 11 / 7 = 11 / (7*5) = 1.571 = 0.314,不良,unit,Dpmo = 314000 ppm By table Zlt = 0.48 Zst = 0.48 + 1.5 = 1.98
12、,Bench计算 Z lt-bench = 3 * Ppk = 3 * 0.83 = 2.49 Z st-bench = 3 * Cp = 3 * 1.16 = 3.48 Zshift = 3.48 - 2.49 = 0.99,C , , , B/M .(与13题相同),A,B,C,D,( 3.48, 0.99 ),2.5 2.0 1.5 1.0 0.5,1 2 3 4 5 6,Zst,Zshift,5 / 18,20. 指定为CTQS的部品电阻 USL=110, LSL=88,其工程Data收集结果ST=2 , LT=2.5, 平均=100 Data . 请求出长期工程的 ZLT.Bench
13、。,Target=99,LSL=88,USL=110,Zlt.usl = (USL-Xaver)/lt = (110-100)/2.5 = 4.0 不良率: 31.8 ppm Zlt.lsl = (Xaver-LSL)/lt = (100-88)/2.5 = 4.8 不良率: 0.818 ppm total 不良 = 32.618 ppm = Zlt.bench = 4.0,21. OOO 事业部收到的市场Claim很多,为了对性能的现象进行了解,根据Sampling 计划抽取 Data。 Spec. LSL =5.5 ULS= 13.5 Zshift多少 制作4 Block Diagram,
14、描述改善方向。(现在在C区,应改善散布),Zst = 3 * Cp = 3 * 0.91 = 2.73 Zlt = 3 * Ppk = 3 * 0.72 = 2.16 Zshift = Zst Zlt = 2.73 2.16 = 0.57,在C中,工程管理优秀或机器程度及技术水准较低的状态下,需要学习管理机械程度和设备的技术,实施先进公司的B/M,Spec. LSL = 5.5 ULS= 13.5,A,B,C,D,( 2.73, 0.57 ),2.5 2.0 1.5 1.0 0.5,1 2 3 4 5 6,Zst,Zshift, 若没有特别指定 Z Shift , 1) Zst-bench -
15、 Zlt-bench 2) 3Cp 3Ppk 选一个解答即可,6 / 18,22. 为分析测定System信赖度,实施Gauge R&R,得到结果如下: : 允许差(USL-LSL)=6,1) %Study各 %Tolerance是多少? %Study : 3.13 , %Tolerance : 31.48 2) 再现性和反复性中两个变动更大? 29.20 11.75 变动 3) 测定System必要的对策是什么? 反复性 11.75 29.20 ,%Contribution Source VarComp (of VarComp) Total Gage R&R 0.13 0.10 Repeat
16、ability 0.02 0.01 Reproducibility 0.12 0.08 oper 0.10 0.07 oper*PART 0.02 0.01 Part-To-Part 137.20 99.90 Total Variation 137.34 100.00 StdDev Study Var %Study Var %Tolerance Source (SD) (5.15*SD) (%SV) (SV/Toler) Total Gage R&R 0.3667 1.8887 3.13 31.48 Repeatability 0.1369 0.7052 1.17 11.75 Reproduc
17、ibility 0.3402 1.7521 2.90 29.20 oper 0.3100 1.5966 2.65 26.61 oper*PART 0.1401 0.7217 1.20 12.03 Part-To-Part 11.7133 60.3236 99.95 1005.39 Total Variation 11.7191 60.3532 100.00 1005.89 Number of Distinct Categories = 45,反复性,措施: 1) % Study Va达到 3.13%时,测定系统方面没有问题, % Tolerance达到 31.48%,在此部品的容许差内此系统不
18、能使用 2) 再现性的变动大于反复性的变动 3) 细节上看,因为测定者的变动最大,所以通过教育来统一测定者的眼光,测定方法等.,21.9,21.6,21.8,21.8,10,38.8,38.6,38.5,38.2,9,6.9,7.2,6.4,6.4,8,22.0,22.2,21.5,21.3,7,3.6,3.6,3.1,3.1,6,19.4,19.1,18.8,18.9,5,28.1,28.2,27.5,27.2,4,2.5,2.6,2.1,2.1,3,13.7,13.4,13.3,13.2,2,7.5,7.6,7.3,7.1,1,B 2,B 1,A 2,A 1,23. 某部品电阻 Spec为
19、 Target=100, LSL=90, USL=110,抽样Data的短期标准偏差 ST = 2, 长期标准偏差 LT = 2.5, 平均 = 98 。 1) 求长期工程的 ZUSL, PUSL . PUSL 及 PLSL参照 Z Table. 2) 求长期工程的ZLSL, PLSL . 3) 求长期工程的 Zbench. 4) 求Zshift。 Zlt.usl = (USL-Xaver) / lt = (110-98) / 2.5 = 4.8 不良 率 :0.794 ppm Zlt.lsl = (Xaver-LSL) / lt = (98-90) / 2.5 = 3.2 不良率:687.2
20、 ppm LT total 不良 = 687.996 ppm = Zlt_bench = 3.2 Zst = (USL- Target) / st = (110-100) / 2 = 5 不良率:0.287 ppm ST total 不良 = 0.574 ppm = Zst_bench = 4.92 Zshift = Zst_shift - Zlt_shift = 4.92 - 3.2 = 1.72,7 / 18,24. 72) 如下图,通过再作业得到最终良品时,相应空格的收率为多少?假定为长期Data,Zst 2.5,YNA 84.2 %,YRT 59.7 %,YFT(P3) 94.1 %,
21、YFT(P2) 88.9 %,YFT(P1) 71.4 %,YFT(P1) = (50/70) * 100 = 71.4 % YFT(P2) = (80/(30+50+10) * 100 = 88.9 % YFT(P3) = (80/(80+5) * 100 = 94.1 %,YRT = 0.714 * 0.889 * 0.941 = 59.7 %,YNA = 3 0.597 = 84.2 %,= 15.8% 不良 Z TABLE : 1.0,Zst = 1.0 + 1.5 Shift = 2.5,( Zst 1.5 SHIFT .),25. 以下是 Purity检查的离散型 DATA的 Ga
22、ge R&R实施情况。 Gage R&R为多少 %时,可以或不可使用? Gage R&R : ( 2 / 10 ) * 100 = 20 % 使用与否 : 可以ACCEPT,26. Gage R&R 结果为Distinct Categories = 1。请写出这个结果的意义及改善方法。 * 测定系统的辨别力方面, NDC 1使测定系统可分辨的部品群的数量显示为1,即因 为测定系统的变动大,无法用测定系统来区分部品的变动. * 需要改善测定系统 (提高测定者 skill up,测定仪 ),不一致,27. 利用以下的Data完成4Block Diagram并写出改善方向! SPEC = 11 1.
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