LTE芯片及终端测试.doc
《LTE芯片及终端测试.doc》由会员分享,可在线阅读,更多相关《LTE芯片及终端测试.doc(3页珍藏版)》请在三一文库上搜索。
1、LTE芯片及终端测试1 引言测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链中重要的环节,目前,对TD-LTE测试仪表的需求已经涵盖了整个产业链的各个阶段。2 RS的LTE测试解决方案罗德与施瓦茨公司(RS)作为欧洲最大的测试测量仪表供应商,具有强大的研发和生产实力。基于其在2G和3G测试领域的领先地位,RS对于LTE从早期的研发阶段就开始跟踪研究,积累了丰富的经验。为了推动TD-LTE产业的发展,RS公司为客户提供从LTE(包括TD-LTE和FDD LTE)仿真、设计、研发、生产、测试等一系列的测试测量解决方案,可以满足客户各个阶段的需求(见图1)。图1 RS的LTE测试解决方案3 LTE芯片和终端
2、研发(1)LTE信号产生和分析RS的信号源如SMU,AMU以及SMBV系列加上选件后就可以按照规范实时地产生LTE上/下行射频或基带信号,用于元器件性能测试以及终端的接收机测试;RS的FSx系列频谱和信号分析仪能分析LTE上/下行射频或基带信号,用于元器件性能测试以及终端的发射机测试。由于被测设备可能采用特殊的数字基带信号格式,RS提供EX-IQ-BOX来针对不同数字基带信号格式进行适配。(2)LTE终端协议和IOT测试LTE协议栈的测试用来验证一些信令功能,例如呼叫建立和释放、呼叫重配置、状态处理和移动性等。和2G,3G系统的互操作性(IOT)测试是对LTE的另外一个需求。为了保证终端的协议
3、栈和应用可以处理高数据率的数据,需要测试验证终端吞吐量的要求。在LTE实现的早期,研发部门需要包含各个参数配置的多种测试场景来进行LTE协议栈的测试。此外,LTE物理层具有很多重要功能,这包括小区搜索,HARQ协议,调度安排,链路自适应,上行时间控制和功率控制等,而且这些过程有着很严格的定时要求。因此,也需要对物理层进行完全测试来保证LTE的性能。RS的CMW500协议测试仪可以用于LTE终端的协议一致性测试、性能测试和互操作测试。同时,RS还提供用于PC机上的虚拟测试(Virtual Tester)软件,使工程师在早期就进行协议开发的工作。所以使用CMW500可以并行进行软件和硬件的协同开发
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- LTE 芯片 终端 测试
链接地址:https://www.31doc.com/p-3255807.html