三种不同方法表征存储器特性.doc
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1、三种不同方法表征存储器特性由于超快的CPU内核与相对慢的存储器之间的速度差距在日渐增大,存储器系统可能成为当前制约系统性能的主要瓶颈。此外,低功耗是另一个重要的设计考虑,尤其在电池供电设备与日俱增的情况下更是如此。低功耗意味着更长的电池续航时间和设备使用时间。在常见的应用场合,存储器功耗通常占了应用处理器功耗相当大的一部分,而且,随着存储器设计日益复杂、容量增大、分层增多,存储器功耗往往会迅速增加。因此,降低存储器功耗非常有利于延长电池续航时间。为了更好地了解各种应用的固有行为,有必要探究存储器的特性、建立存储器模型,以判断应用是否涉及频繁的存储器存取操作,甚至帮助预测应用的性能。本文提供了一
2、种简单、经济的方法,能以可接受的精确度动态地表征应用的计算及存储器的构成。描述存储器特性的方法如果不涉及存储器操作,那么CPU利用率应该随着CPU内核的频率呈线性关系,而应用成本(定义为CPU利用率和CPU频率的乘积)应该保持恒定。但在考虑存储器存取以后,CPU利用率就不再随内核频率呈线性关系了。在频率较高时,存储器对性能的影响往往更大,因为CPU要用更多的CPU周期等待存储器的响应(这里我们假定,存储器频率不随CPU频率而变)。从这种意义上,应用可以分为两种类型:计算限定型和存储器限定型。接下来,我们来讲述如何用三种不同的方法表征存储器特性,并帮助确定应用的CPU利用率。在此,硬件性能信息是
3、通过查看性能监视单元(Performance Monitoring Unit,简称PMU)来收集的。因此,Marvell的方法仅适用于有PMU硬件支持的系统。1. 整体数据缓存失效率:直觉上,较高的数据缓存失效率意味着更大的存储器流量。为了获得数据缓存失效率的数值,我们需要监视一级数据缓存和二级数据缓存(如果有的话)的存取操作和失效总数。2. 主存储器访问率:外部存储器控制器的占用率直接表明了存储器的利用率。为了得 到主存储器访问率数值,必须收集两种PMU信息:存储器控制器被占用的周期总数;监视窗口中的周期总数。3. 数据停顿率:流水线停顿主要由数据相关性引起,而数据不可用的原因是存储器存取速
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- 不同 方法 表征 存储器 特性
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