不可不看的PROM电路测试器测试技术.doc
《不可不看的PROM电路测试器测试技术.doc》由会员分享,可在线阅读,更多相关《不可不看的PROM电路测试器测试技术.doc(2页珍藏版)》请在三一文库上搜索。
1、不可不看的PROM电路测试器测试技术科技永远的保持着比谁都要快一步的方式,进行不可超越的速度发展。如今的电路测试的技术也是更新迭代,比起现在的新技术测试,老技术反而是一种挑战。虽然现代的可程序化组件透过JTAG或SPI接口很容易实现电路测试(tested in circuit,或称在线测试),但测试较老的组件就没这么方便了。一个大型有线数字电话交换系统,这些系统最早是在1980年代初期设计的,但目前在美国各地仍能看到这些系统提供服务,因此需要经常维护和修理。其中,经常需要维修的板卡是音频产生卡(tone generaTIon card),负责产生电话系统中用到的所有声音频号,比如铃声、忙线音、
2、双音多频信号(DTMF)和多频(MF)信号音。这些声音的产生是透过将数字化的声音片段组合成完整的复合音;这片音频产生卡上共有6颗采用24pin DIP封装的老式1k8可程序只读存储器(PROM),声音片段就储存在这些PROM内。这片板卡最常见的问题,是其中一颗PROM上的某个单元出现故障,但由于电路配置的原因,除非从板子上把PROM拔下来然后用编程器一颗颗读,根本无法得知道是那一颗故障。还好这些PROM都是插在板子上,比较容易拔;但毕竟已经待在原位许多年,有时也不太容易移动;无论如何,损坏良好PROM的风险很高,而且移除、测试和替换的工作十分繁琐耗时。本设计实例分享一种电路测试器,可以夹在每颗
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 不可 不看 PROM 电路 测试 技术
链接地址:https://www.31doc.com/p-3366300.html