两款具有优秀相位噪声性能组成的PLL合成器介绍.doc
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1、两款具有优秀相位噪声性能组成的PLL合成器介绍整数N和小数N分频PLL合成器的相位噪声在产生高频,高线性度信号源时,低相位噪声至关重要。相位噪声是信号的不期望的变化或相位变化的量度。它在频域中测量并且等于时域中的抖动。使用PLL合成器时,总相位噪声由各种电路模块和元件的汇编组成,每个电路模块和元件都有助于最终值。各种贡献元件/电路包括压控振荡器(VCO),参考时钟和相关电路,相位频率检测器和各种内部缓冲器。相位噪声可以分成每个元件/电路的贡献部分,包括参考噪声,相位频率检测器噪声,VCO噪声和宽带噪声(由于放大器/缓冲器和其他内部电路),它们建立了输出带隙相位噪声基底。在决定整数N与小数N分频
2、PLL合成器之间时,必须考虑整个相位的重要性噪声,成本,步长,PLL设计复杂度,寄生噪声(由分数N中的累加器或西格玛引起的分数杂散),整数边界杂散(也是分数N效应)和参考杂散)以及环路锁定时间小数N分频PLL的优点分数N(frac-N)PLL合成器与整数N分频PLL相比具有几个关键优势,但在某些情况下,这些优势可能并不重要客户取决于应用程序。它允许更大的参考频率值,从而产生更小的乘数项N.由于PLL的相位噪声乘以所选的N值(f OUT = f REF * N)和frac-N PLL需要较小的N值,由于将参考频率乘以N而引起的相位噪声增加将减少20log(N)dB,但这部分地被相位频率检测器噪声
3、的增加所抵消 - 10log (f PFD )dB(为简单起见,我们假设参考分频器值R为1,因此f REF = f PFD ;较大的整数值导致更多的噪音)。另一个优点是较小的步长或较高的分辨率。 frac-N允许步长为数十赫兹,而整数N可能产生数十千赫兹。与类似的整数N解相比,frac-N也会更快锁定。这是因为N的较低值允许更宽的环路滤波器带宽,这反过来允许更快的锁定时间。Frac-N PLL的缺点a的最大缺点frac-N PLL是它产生的分数和整数边界杂散,从使用角度来看它的复杂性增加(必须设计环路滤波器),并且在某些情况下成本更高。这些是客户可能选择整数N PLL的原因。 LTC的新型fr
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