关于长期漂移的不实之词.doc
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1、关于长期漂移的不实之词你知道么,LT1461 和 LT1790 微功率低压降带隙电压基准的过人之处不仅在于温度系数 (TC) 和准确度,还在于长期漂移和迟滞(因为温度的周期性变化而引起的输出电压漂移)。有时被其他制造商所忽视或错误规定的长期漂移和迟滞能成为系统准确度的限制。系统校准虽然能夠消除 TC 和初始准确度误差,但只有频繁的校准才能消除长期漂移和迟滞。亚表齐纳基准 (如 LT1236 ) 具有最好的长期漂移和迟滞特性,但它们不像这些新型带隙基准那样能夠提供低输出电压选项、低电源电流和低压工作电源。关于长期漂移的不实之词现今,一些制造商正在吹嘘那些基于加速高温测试的长期漂移规格。这是一个制
2、造的谎言!长期漂移不可从加速髙温测试来推断。确定长期漂移的唯一途径是在所关心的时间间隔内对其进行测量。这种错误技术的运用会得出盲目乐观的数值,而且它采用了阿列里乌斯方程(Arrhenius Equation)从温升读数推导出一个加速因子。该方程是:式中:Ea =激活能 (假设为 0.7)K =玻尔兹曼常数 (Boltzmanns Constant)T2 =以 Kelvin 为单位的测试条件T1 =以 Kelvin 为单位的使用条件温度为了表明这种技术是多么的荒谬,我们来把这种计算与 LT1461 的实际数据做一比较。30C 和 130C 条件下的 1000 小时长期漂移典型值分别为 60ppm
3、 和 120ppm。 由阿列里乌斯方程得出的加速因子为 767,而在30C 条件下所预计得出的“假”长期漂移为 0.156ppm/ 1000小时。对于一个2.5V基准,这相对于在1000小时后的 0.39pV漂移。如果峰至峰输出噪声大于这数值,则很难确定(无法读取)。实际上,其中一个现有最佳实验室基准具有每月1.5V的长期漂移。这种性能只有在采用特有加热技术的情况下由最好的亚表齐纳基准(如LTZ1000)获得。竞争的基准测量结果比其声称的指标差500倍长期漂移数据是利用焊接在PC板上的元件这一近似“现实”的应用而获得。这些电路板事先未做处理。它们被放置在一个Ta = 30C的恒温炉内,其输出被
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