基于ARM7 LPC21xx开发存储测试系统的方法介绍[图].doc
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1、基于ARM7 LPC21xx开发存储测试系统的方法介绍图存储测试技术是在特殊环境下记录运动物体参数的最有效的手段。本文介绍了基于ARM7 LPC21xx开发存储测试系统的方法。Philips公司16/32位微控制器LPC21xx是基于支持实时仿真和嵌入式跟踪的16/32 w位ARM7TDMIS CPU的微控制器,它具有掉电和空闲两种节电模式,可用电池供电并且长期工作。利用微控制器内部自带的10位A/D转换器来采样,用SPI与nRF24L01模块通信。存储测试技术1方法是记录在特殊环境下运动物体参数的行之有效的方法。它是先将测试数据存入存储器,待装置回收后通过特定接口与上位机进行通信,还原数据信
2、息。在许多消费类电子产品中,对数据采集存储系统的实时性和功耗提出了更高的要求,不仅要同时满足低功耗和微型化设计,还要实时地反映现场采集数据的变化。这样,就必须对系统的采样速率、功耗等提出更高的要求。随着半导体技术的发展,各种技术的进步使得高速度、低功耗的数据采集系统能够实现。本文主要使用Philips公司16/32位微控制器LPC214823作为核心控制元件,通过与nRF24L014结合使用,实现数据的采集、存储以及发送。1 系统原理整个测试系统由模拟适配电路、外部晶振、微控制器、存储器模块、电源管理模块、无线收发模块以及接口电路组成,如图1所示。图1 系统原理框图1.1 电源模块对电源模块的
3、设计是实现整个系统省电的核心部分。即电源只需要在电路各个模块需要的时候给其供电,在不需要的时候断电来减小系统的无效耗电量。可以使用单电池电源供电实现多分枝电源网络管理,使得系统各个模块的电源相对独立供电。但此时要注意带电部分和不带电部分的兼容问题。1.2 模拟适配电路由于由传感器测量的信号十分微弱,需要经过适当的放大滤波等修正后才能够进行一系列处理。1.3 微控制器本测试系统选用Philips公司16/32位微控制器LPC2148作为核心控制元件。它内部自带10位A/D转换器,无需外加A/D转换器,即可以减小体积,又可以节省成本。同时它还具有掉电模式和空闲模式两种省电模式,合理设计可以减小系统
4、功耗。1.4 接口电路以及无线收发部分本测试系统有两种方法与上位机进行通信,一种是通过无线收发模块nRF24L01来实现,另一种是通过特定的接口电路来实现,这样即使无线传输部分出现错误还可以保证事后回收数据。2 系统主要部分的硬件与软件介绍2.1 内部A/D转换器的开发LPC2148内部有两个10位逐次逼近式模数转换器,8个引脚复用为输入脚(ADC0和ADC1),它具有掉电模式,测量范围是0 VVREF,10位的转换时间2.44 s,具有一个或者多个输入的突发转换模式,可选择由输入跳变或定时器匹配信号触发转换。它的基本时钟由VPB(VLSI外围总线)时钟提供,每个转换器包含一个可编程分频器,可
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