基于JTAG标准的IC芯片结构及测试原理分析.doc
《基于JTAG标准的IC芯片结构及测试原理分析.doc》由会员分享,可在线阅读,更多相关《基于JTAG标准的IC芯片结构及测试原理分析.doc(3页珍藏版)》请在三一文库上搜索。
1、基于JTAG标准的IC芯片结构及测试原理分析介绍了支持 JTAG标准 的IC芯片结构、 边界扫描 测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便,易于实现。当今,微电子技术已经进入超大规模集成电路(VLSI)时代。随着芯片电路的小型化及表面封装技术(SMT)和电路板组装技术的发展,使得传统测试技术面临着巨大的挑战。在这种情况下,为了提高电路和系统的可测试
2、性,联合测试行动小组(JTAG)于1987年提出了一种新的电路板测试方法边界扫描测试,并于1990年被IEEE接纳,形成了IEEE1149.1标准,也称为JTAG标准1。这种技术以全新的虚拟探针代替传统的物理探针来提高电路和系统的可测性。由于 JTAG标准的通用性很好, 现在许多IC公司都提供了支持边界扫描机制的IC芯片,甚至部分FPGA和CPLD芯片也采用了这一技术。本文介绍支持JTAG标准的IC芯片结构,并以Xilinx公司的两块xc9572_ pc84芯片为例,探讨并利用边界扫描技术控制IC芯片处于某种特定功能模式的方法,并且针对IC芯片某种特定的功能模式设计该芯片的JTAG控制器。1
3、支持JTAG标准的IC芯片结构边界扫描技术的核心就是在IC芯片的输入输出引脚与内核电路之间设置边界扫描结构。JTAG 标准定义了一个4-wire串行总线2,通过这四条测试线访问边界扫描单元,可以达到测试芯片内核与外围电路的目的。图1示出了支持JTAG标准的IC芯片结构。图中,扫描结构由测试存取通道(TAP)、边界扫描寄存器(BSR)、TAP控制器、指令寄存器(IR)和辅助寄存器等组成。1.1 TAPTAP是由4-wire串行测试线组成的测试存取通道,JTAG标准定义的所有操作都由这四条测试线来控制。这四条测试线分别是:测试时钟输入线(TCK),测试方式选择输入线(TMS),测试数据输入线(TD
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 基于 JTAG 标准 IC 芯片 结构 测试 原理 分析
链接地址:https://www.31doc.com/p-3410859.html