基于时序分析基本概念模式的介绍.doc
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1、基于时序分析基本概念模式的介绍今天要介绍的时序基本概念是Mode(模式). 这是Multiple Scenario环境下Sign off的一个重要概念。芯片的设计模式包括最基本的功能function模式,以及各种各样相关的测试模式。PD的同学应该比较熟悉Function, Scan Shift, Capture, ASST这些模式。其实如果细分,这些还能划分出好多新的模式,如下图所示。这些名词可能你经常看见,但是你知道他们具体检测啥,有啥作用嘛?下面我就来分别简单介绍下这些模式。Function这个模式不用过多介绍,就是大家最常见的功能要求模式,即标准时序约束模式。Scan Shift这个模式
2、大家也很熟悉,移位扫描模式。先介绍下基本的Scan chain概念:由于芯片内部是一个黑盒子,在外部难以控制。我们将芯片中的所应用的普通寄存器替换成带有扫描功能的扫描寄存器,首尾相连成串,从而可以实现附加的测试功能,这就是Scan chain的概念。下图一就是扫描寄存器,下图二就是将扫描寄存器串起来的Scan Chain因此,当Scan enable端接1,扫描寄存器工作在scan shift模式,把数据pattern移出来,通常这个模式下的时钟频率都很慢,一般就几十Mhz。如下图所示:DC capturecapture mode通常分为低速和高速模式,分别对应DC capture和AC ca
3、pture. Capture模式下,Scan enable信号接0,扫描寄存器工作在正常模式下,这时候开始检查function上的pin连接。 低速DC capture也就是我们经常说的Stuck-at模式,主要检查我们平时常见的stuck-at 0/1错误。比如下图中的 inverter A端如果被接到了VSS端的话,就是一个stuck at 1的fault。AC captureAC capture也被称为At-speed Structural Test(ASST),是一种高速测试模式,主要测试芯片中的延迟故障,也就是transition。随着半导体制造工艺的不断发展,片上器件的几何尺寸越来
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