基于显微成像系统的MicroLED表面亮度检测系统.doc
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1、基于显微成像系统的MicroLED表面亮度检测系统厦门大学与台湾新竹交通大学的科研团队近期合作开发了一种基于显微成像系统的Micro-LED表面亮度检测系统,可以快速测量Micro-LED阵列在工作时任意位置的绝对亮度值。LED作为一种主动的自发光装置已经存在了半个多世纪。由于其低功耗,低工作电压,高照度,长工作寿命和稳定的性能,使其成为一种非常流行的应用。随着LED技术的发展和各种行业对微集成的不断增长的应用需求,Micro-LED阵列器件应运而生。通过进一步减小LED芯片的尺寸,在毫米的范围内,可以制备数百或数千个Micro-LED以形成Micro-LED阵列。Micro-LED在许多领域
2、具有潜在的应用,包括Micro-LED显示器,高速并行可见光通信,高压照明芯片等。在显示领域,与LCD和OLED显示技术相比,Micro-LED显示器具有发光效率高,亮度高,对比度高,响应时间短的优点。但由于散热,老化等问题,导致显示器成像缺陷,影响其成像质量,因此显示器的缺陷检测是必要的。但目前的检测测量仍保持在宏观水平,不能用于精确测量微LED阵列,而且用于评估Micro-LED阵列亮度的方法集中在总亮度的测量上,未能快速检测微LED阵列中的坏像素。因此寻找一种快速、精确的方法来检查Micro-LED的表面亮度是非常有必要的。图1. Micro-LED阵列的亮度测量示意图目前市面上有多种测
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