基于边界扫描技术的难题提出了MERGE法边界扫描技术解决方案.doc
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1、基于边界扫描技术的难题提出了MERGE法边界扫描技术解决方案雷达,作为一种重要的军事武器装备,在军事上将其形象的比喻成作战指挥员的眼睛,在维护国家安全及领土完整中发挥着举足轻重的作用。但随着数字电路设计及制造技术的发展,特别是CAD设计软件的进步及完善,单一的测试方法如ICT(In-Circuit Test)测试、功能测试等已无法满足新型雷达数字电路测试及故障诊断的要求,边界扫描1测试将成为今后雷达装备数字电路故障诊断发展的主流技术。基于对ICT测试、功能测试局限性的深入探讨,以及对边界扫描测试技术的研究与实践,本文提出了MERGE(组合)边界扫描测试模型的建立方法,并基于此方法,构建了数字电
2、路便携式自动测试系统,实现了对新型雷达数字电路的高速、准确的测试。系统具有硬件设备小巧、便携,性能稳定、可靠,故障隔离率高等优点,适合于战地级实时维修保障,是大型在线测试、功能测试平台的有效补充,较好的解决了测试设备受制于人及战时应急抢修等问题。自动测试系统实现MERGE(组合)测试模型的建立IEEE 1149.1标准明确的规范了边界扫描构建原理及相应的测试方法。在故障诊断过程中,可利用VLSI芯片自带的边界扫描结构及相关测试指令2,有效的实现对VLSI芯片引脚固定型、开路、桥接等故障类型的检测。但待测试的数字电路模块通常包括边界扫描器件和非边界扫描器件,本文提出的MERGE测试模型可通过已有
3、的边界扫描结构实现对非边界扫描芯片的测试,能够拓展边界扫描的测试范围,提高TPS的故障覆盖率。基于边界扫描测试技术的基本原理,构建测试系统过程中创造性的提出了MERGE结构测试模型,基本思想如图 1所示。图 1边界扫描MERGE测试示意图其中,B部分为待测数字电路BUT,A部分为独立于BUT外的边界扫描扩展卡,该扩展卡可看作是一块符合IEEE 1149.1边界扫描设计规范的数字电路。首先,集中将一个完整的数字电路BUT分为如下几个部分:非边界扫描芯片簇(U1),边界扫描芯片簇(U2),混合芯片簇(U3)。在这里簇的概念即将多个器件统称为一个簇,簇的范围可以根据具体电路规模来进行划分,可以小到单
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