76047 首饰金银覆盖层厚度的测定方法 X射线荧光光谱法 标准 QB T 1135-1991.pdf
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1、中华人民共和国轻工行业标准 Q B / e 1 1 3 5 一1 9 9 1 首饰金银覆盖层厚度的测定方法 X射线荧光光谱法 本标准参照采用国际标准I S O 3 4 9 7 ; 1 9 7 6 ( E ) . 1 主题 内容与适用范 围 本标准规定了用 x射线荧光光谱法测量首饰金属覆盖层厚度的方法。 本标准适用于首饰及其他工艺品中金、 银等覆盖层厚度的测定( 覆盖层与基体为非相同材质) 2 方法提要及原理 采用x射线荧光光谱法测量金属覆盖层厚度是通过x射线荧光的产生检测和分析而确定覆盖层 厚度的。 每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列, 对于给定的特征x射线, 其能量取决于该原子 的原子
2、序数, 因此, 不同的材料将产生不同能量的x射线荧光。 通过x射线荧光测厚仪对不同材料发出 的 x射线荧光进行能量分辨和强度的检测, 可以确定材料的特性, 从而测定覆盖层的厚度。 3 仪器和设备 x射线荧光测厚仪: 一套( 带自动打印机) 。 包括各镀种的标准样块: 一套。 仪器 自检的参照标样 : 一块。 3.1323.3 4 仪器的校准 校准是测量样品的先决条件, 校准的目的是使被测样品覆盖层的厚度对发射 x射线荧光的强度值 之间建立准确的关系, 4 门校准模式的选择 各类型的 x射线荧光测厚仪都具有若干种校准模式, 应按筱盖层和基材的类型选用适当的校准模 式 4 . 2 校准模式的输入
3、选定相应的校准模式后, 将采用相应的存储器按规程输人校准模式。当采用标准进行校准时, 应采 用与测试样品完全一致的条件( 包括检测孔尺寸, 相同覆盖层和基体材料及测量时间等) 。 在校准程序结 束时, 将 自动进人测试模式。 5 影响精度的因素 5 . 1 计数统计 由 于x射线光子的产生是在随机情况下进行的, 因而在一固定时间内发射的光子数量不一定相 同, 所有放射性测量中都会出现统计误差。这一统计误差与计数时间的长短有关。 5 . 2 测量时间 中华人民共和国轻工业部1 9 9 1 一 0 6 - 0 4 批准 1 9 9 2 一 0 1 一 0 1 -3 施 Q B / T 1 1 3
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