JIS C6122-3-2-2006 光学放大器.试验方法.第3-2部分 噪音数字参数.电频谱分析仪法.pdf
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1、 C 6122-3-2:2006 (IEC 61290-3-2:2003) (1) 規格,工業標準化法第 12 条第 1 項規定基,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)財団 法人日本規格協会(JSA),工業標準原案具日本工業規格制定申出,日本工業 標準調査会審議経,経済産業大臣制定日本工業規格。 制定当,日本工業規格国際規格対比,国際規格一致日本工業規格作成及日 本工業規格基礎国際規格原案提案容易,IEC 61290-3-2:2003,Optical amplifiers-Part 3-2:-Test methods for noise figure parameters-Electric
2、al spectrum analyzer method 基礎用 。 規格一部,技術的性質特許権,出願公開後特許出願,実用新案権,又出願公開後 実用新案登録出願抵触可能性注意喚起。主務大臣及日本工業標準調査会, 技術的性質特許権,出願公開後特許出願,実用新案権,又出願公開後実用新案登 録出願確認,責任。 JIS C 6122-3-2 ,次示附属書。 附属書附属書 A(参考)記号及略語 JIS C 6122 規格群,次示部編成。 JIS C 6122-1 第 1 部:利得測定方法 JIS C 6122-2 第 2 部:測定方法 JIS C 6122-3 第 3 部:雑音指数測定方法 JIS C 6
3、122-3-2 第 3-2 部:雑音指数電気試験方法 JIS C 6122-5-1 第 5-1 部:光反射率測定方法光用測定方法 JIS C 6122-6 第 6 部:漏励起光測定方法 JIS C 6122-7 第 7 部:波長帯域外挿入損失測定方法 C 6122-3-2:2006 (IEC 61290-3-2:2003) 目 次 序文序文1 1. 適用範囲 適用範囲1 2. 引用規格 引用規格2 3. 装置 装置2 4. 試料 試料4 5. 手順 手順4 5.1 周波数掃引法 周波数掃引法4 5.2 固定周波数法 固定周波数法6 5.3 測定精度制約 測定精度制約7 6. 計算 計算7 6.
4、1 校正結果計算 校正結果計算7 6.2 周波数掃引法試験結果計算 周波数掃引法試験結果計算8 6.3 固定周波数法試験結果計算 固定周波数法試験結果計算9 7. 試験結果 試験結果9 附属書(参考)記号及略語附属書(参考)記号及略語11 日本工業規格 JIS C 6122-3-2:2006 (IEC 61290-3-2:2003 ) 光増幅器測定方法 第 3-2 部:雑音指数 電気試験方法 Optical amplifiersTest methods Part 3-2:Noise figure parametersElectrical spectrum analyzer method 序文序
5、文 規格,2003 年第 1 版発行 IEC 61290-3-2,Optical amplifiersPart 3-2:Test methods for noise figure parametersElectrical spectrum analyzer method 翻訳, 技術的内容及規格票様 式変更作成日本工業規格。 規格,光増幅器関。光増幅器技術依然急速進歩,規格 関改正及新規版発行。 規格用各記号及略語, 一般, 最初現本文中説明。 , 本文全体理解容易用“記号及略語”附属書附属書示。 1. 適用範囲適用範囲 規格,現在商用化希土類添加光使用 光増幅器(OFA)雑音指数電気試験方法
6、規 定。 規格目的,JIS C 6121 3.定義雑音指数,電気(ESA) 法用,正確,信頼性測定行必要一定条件確立。 試験方法,電気雑音直接的測定基,雑音成分含雑音定義直接関 係。異雑音(信号光増幅自然放出光(ASE)間雑音係数) 求場合,光用別試験方法用,方法 規格含。 備考備考1. (*)付数値,暫定値。 2. 規格試験方法,平均雑音係数対20 (*),1 dB 測定精度得 望(6.参照) 。 3. 雑音指数試験方法一般事項,JIS C 6122-3 規定。 4. 規格対応国際規格,次示。 ,対応程度表記号,ISO/IEC Guide 21 基,IDT(一致) ,MOD (修正) ,NE
7、Q(同等)。 IEC 61290-3-2:2003,Optical amplifiersPart3-2:Test methods for noise figure parametersElectrical spectrum analyzer method (IDT) 2 C 6122-3-2:2006 (IEC 61290-3-2:2003) 2. 引用規格引用規格 次掲規格,規格引用,規格規定一部構成 。引用規格,発行年付記,記載年版規格規定構 成,後改正版追補適用。発効年(又発行年)付記引 用規格,最新版(追補含。 )適用。 JIS C 6121 光増幅器通則 JIS C 6122-3 光
8、増幅器測定方法第 3 部:雑音指数測定方法 IEC 60728-6:2001 Cabled distribution systems for television and sound signals Part 6: Optical equipment IEC/TR 61292-2 Optical amplifier technical reports Part 2: Theoretical background for noise figure evaluation using the electrical spectrum analyzer 3. 装置 装置 測定系構成図図 1 示。必要測定
9、機器及所要性能,次。 a) 光源光源 構成要素,次。 1) 単一光源単一光源 例,分布帰還形(DFB)。光源,光源 線幅十分高単一周波数正弦波振幅変調。変調周波数 ,線幅少 3 倍高周波数望。相対変調振幅 m(RMS 光 変調振幅平均光比),線形動作保証十分小。 m 値 2 10 (*)適切考。 直接変調用外部変調用。 平均出力,0 dBm 以上,OFA 飽和動作実現望 。 変調時線幅 (半値全幅) , 20 MHz (*)100 MHz (*)範囲内。 ,通常 OFA 組合用 DFB 典型的線幅反映 ,多重光路干渉雑音成分正確求最善範囲考。 OFA 内部反射点間最小間隔 7.5 m 対,線幅
10、 20 MHz 以上。 狭線幅用,OFA 内部反射状態干渉,異 雑音指数測定結果得。 , 線幅 100 MHz 広, ESA 帯域超高周波数 OFA 雑音成分引起。 光源相対強度雑音(RIN),問題周波数範囲(例 10 MHz2 GHz)内 150 dB/Hz (*)未満。 自然放出光 ASE 間雑音成分大避,光源自然放出光, 信号対,40 dB/nm (*)未満。 2) 光光 内蔵又外付。,外部反射 及相対強度雑音影響与。光学的,60 dB (*)以上 。 出力反射率50 dB (*)未満。 3) 入力光可変減衰器入力光可変減衰器 可変減衰量 40 dB 超,線形性0.05 dB (*)以内
11、,外部/内部反射率 50 dB (*)未満。光源,相対強度雑音(RIN)又偏波状態変 ,光源出力調節用。光減衰器目的,校正中,入力 調節,雑音他雑音成分区別。 備考備考 損失変化電気測定場合,線形性問簡単光 減衰器用。 4) 偏波制御器偏波制御器 任意入力偏波状態,偏波状態生成。光 3 C 6122-3-2:2006 (IEC 61290-3-2:2003) 出力偏波依存性0.01 dB (*)未満,反射率50 dB (*)未満。 図図 1 測定系構成図 b) 変調信号源(信号発生器)変調信号源(信号発生器) 上記変調周波数及変調振幅実現。 c) 光光 光源出力(又裸)総放射測定 。測定精度,
12、OFA 動作波長帯域内,偏波状態, 0.2 dB 以内。最低,可変光減衰器 0 dB 設定場合光源 。最高,最高入力時 OFA 出力。 OFA 出力直接測定代出力光減衰器介測定,高出力測定必 要性軽減,出力光減衰器出力光測定構成。 d) 受信受信 換算雑音電力(光電力換算 W/Hz),入力光減衰器設定 0 dB 場合光源 出力 RIN 関連雑音大 (*)。受信,次機器 構成。 1) 出力光可変減衰器出力光可変減衰器 可変減衰量 40 dB 大, 線形性0.05 dB (*)以内, 最大偏波依存変 動幅 0.05 dB (*)小,波長依存性実質的平,外部/内部反射率50 dB (*) 未満, 最
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