JIS Z 8462-3:2006 Methodology for determination of the critical value for the response variable when no calibration data are used.pdf
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1、 Z 8462-3:2005 (ISO 11843-3:2003) (1) 規格,工業標準化法第 12 条第 1 項規定基,財団法人日本規格協会(JSA),工業標準 原案具日本工業規格制定申出,日本工業標準調査会審議経,経済産業大 臣制定日本工業規格。 制定当,日本工業規格国際規格対比,国際規格一致日本工業規格作成及日 本工業規格基礎国際規格原案提案容易, ISO 11843-3:2003, Capability of detection Part 3: Methodology for determination of the critical value for the response v
2、ariable when no calibration data are used 基礎用。 規格一部,技術的性質特許権,出願公開後特許出願,実用新案権,又出願公開後 実用新案登録出願抵触可能性注意喚起。経済産業大臣及日本工業標準調査会 ,技術的性質特許権,出願公開後特許出願,実用新案権,又出願公開後実用新 案登録出願確認,責任。 JIS Z 8462-3 ,次示附属書。 附属書 A(規定)規格用記号 附属書 B(参考)例 JIS Z 8462 規格群,次示部編成。 JIS Z 8462-1 第 1 部:用語及定義 JIS Z 8462-2 第 2 部:検量線直線場合方法 JIS Z 8462
3、-3 第 3 部:検量線場合応答変数限界値求方法 Z 8462-3:2005 (ISO 11843-3:2003) 目 次 序文序文1 1. 適用範囲 適用範囲2 2. 引用規格 引用規格2 3. 定義 定義3 4. 実験計画 実験計画3 4.1 一般的事項 一般的事項3 4.2 正味状態変数値参照状態選択 正味状態変数値参照状態選択 3 4.3 繰返 繰返3 5. 応答変数限界値 応答変数限界値 yc 算出算出4 5.1 基本的方法 基本的方法4 5.2 実際計算 実際計算5 5.3 限界値報告及利用 限界値報告及利用6 附属書附属書 A(規定)規格用記号(規定)規格用記号 7 附属書附属書
4、 B(参考)例(参考)例8 日本工業規格(案) JIS Z 8462-3:2005 (ISO 11843-3:2003 ) 測定方法検出能力第 3 部:検量線場合 応答変数限界値求方法 Capability of detectionPart 3 : Methodology for determination of the critical value for the response variable when no calibration data are used 序文序文 規格,2003 年第 1 版発行 ISO 11843-3:2003,Capability of detectionP
5、art 3: Methodology for determination of the critical value for the response variable when no calibration data are used 翻 訳,技術的内容及規格票様式変更作成日本工業規格。 ,規格点線下線施“参考”,原国際規格事項。 状態変数関測定方法検出能力理想的条件,観測各測定対象系実際 状態,基底状態等又異確実識別。,実際 ,系統的及偶然誤差,次理由,理想的条件満足。 参考参考 表現変, “目的成分測定方法検出能力, 理想的, 測定値同 違区別決。,実際系統誤差及 ,次理由簡単決。 ”。
6、 基底状態含参照状態,状態変数未知実情。 , 状態基底状態差, 正味状態変数正特性付。 参考参考 同様“事実,種既知量成分含標準物質測定絶対値分 。,定量値,差,正味定量値 特性値正示。 ”解釈。 備考備考 JIS Q 0030 及 JIS Z 8461 ,状態変数正味状態変数区別。 結果,文書,特断参照状態状態変数既知 。 校正段階及試料調製過程,測定結果変動加。 参考参考 , “検量線作成試料採取及試料調製過程, 測定値 増加”述。 規格,測定対象系基底状態,基底状態(誤)判定確 率。 参考参考 表現変, “測定対象状態, 状態 (誤)判定確率 ”。 , “応答変数限界値”,応答変数値超,
7、定 以下誤 確率, 観測測定対象系基底状態 (状態) 判定正味 ( 差引)値。 2 Z 8462-3:2005 (ISO 11843-3:2003) 1. 適用範囲適用範囲 規格,合理的予想目的適合,正味状態変数値 選参照状態対,参照状態繰返測定得測定値平均値及標準偏差 ,応答変数限界値推定方法(5.1 参照)規定。,目的実際 状態(又試験)応答変数値,限界値超判定。 応答変数限界値及正味状態変数限界値並検出可能最小正味状態変数値求一般 的手順,JIS Z 8462-2 規定。手順,検量線直線,応答変数残差標 準偏差一定又正味状態変数一次関数場合適用。規格規定 手順,応答変数限界値求,検量線用
8、場合限適用 望。,分布,正規分布,又正規分布近分布仮定 。 規格規定手順,基底状態数多測定値得,目的実際状態 数多測定値得難場合適用望。 備考備考 規格対応国際規格,次示。 ,対応程度表記号,ISO/IEC Guide 21 基,IDT(一致) ,MOD (修正) ,NEQ(同等)。 ISO 11843-3:2003,Capability of detectionPart 3: Methodology for determination of the critical value for the response variable when no calibration data are us
9、ed (IDT) 2. 引用規格引用規格 次掲規格,規格引用,規格規定一部構 成。引用規格,発効年又発行年付記,記載年版 規格規定構成,後改正版追補適用。発効年付記 引用規格,最新版(追補含。 )適用。 JIS Q 0030 標準物質関連用用語及定義 備考備考 ISO Guide 30,Terms and definitions used in connection with reference materials ,規格 一致。 JIS Z 8101-1 統計用語記号第 1 部:確率及一般統計用語 備考備考 ISO 3534-1,StatisticsVocabulary and symbol
10、sPart 1 : Probability and general statistical terms 引用事項,規格該当事項同等。 JIS Z 8101-2 統計用語記号第 2 部:統計的品質管理用語 備考備考 ISO 3534-2, StatisticsVocabulary and symbolsPart 2: Statistical quality control 引用事項 ,規格該当事項同等。 JIS Z 8101-3 統計用語記号第 3 部:実験計画法 備考備考 ISO/FDIS 3534-3,StatisticsVocabulary and symbolsPart 3: Desig
11、n of experiments ,規 格一致。 JIS Z 8402-2:1999,測定方法及測定結果精確(真度及精度)第 2 部:標準測定方法併行 精度及再現精度求基本的方法 備考備考 ISO 5725-2:1994,Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and resultsPart 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method ,規格一致。 J
12、IS Z 8461:2001,標準物質用校正(検量線直線場合) 3 Z 8462-3:2005 (ISO 11843-3:2003) 備考備考 ISO 11095:1996,Linear calibration using reference materials ,規格一致。 JIS Z 8462-1:2001,測定方法検出能力第 1 部:用語及定義 備考備考 ISO 11843-1:1997,Capability of detectionPart 1: Terms and definitions ,規格一致 。 JIS Z 8462-2:2003,測定方法検出能力第 2 部:検量線直線場合方
13、法 備考備考 ISO 11843-2:2000,Capability of detectionPart 2: Methodology in the linear calibration case , 規格一致。 ISO 5479:1997,Statistical interpretation of dataTests for departure from the normal distribution 3. 定義定義 規格用主用語定義,JIS Z 8101(部) ,JIS Q 0030,JIS Z 8402-2,JIS Z 8461,JIS Z 8462-1,及 ISO 5479 。 4. 実
14、験計画実験計画 4.1 一般的事項一般的事項 ,対象特定条件下正味状態変数非常低 校正行,又不可能場合想定,測定方法標準化,類似 測定対校正分。状態変数値参照状態 繰返測定対,応答変数限界値求必要一連測定実際状態(試験 )対同測定方法全体用。 実際状態測定順序,基底状態(状態)測定間化入 。 応答変数負値,捨変。例,負値置換 。 4.2 正味状態変数値参照状態選択正味状態変数値参照状態選択 規格規定手順仮定一, 選択参照状態正味状態変数値。主張関 期待確実性 JIS Z 8462-2 4.1 次規定,実際,参照状態,純粋 状態変数, (仮定上)基底状態差知。規格,参照水準 ,使用方法測定可能性
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