JJG 24-2003 深度千分尺.pdf.pdf
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1、中华人民共和国国家计量检定规程 J J G 2 4 -2 0 0 3 深 度 千 分 尺 D e p t h Mi c r o m e t e r s 2 0 0 3 一 0 5 一1 2发布 2 0 0 3一1 1 一1 2实施 国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局发 布 J J G 2 4 - 2 0 0 3 尹。 . 口. O . O.O. 00. 口 . O. O . O. O . O. 。 飞 深度千分尺检定规程 J J G 2 4 - 2 0 0 3 代替 J J G 2 4 -1 9 8 6 V e r i f i c a t i o n R e g u l a t i
2、 o n o f D e p t h Mi c r o m e t e r s 气.o. o.o. o . o. o . 口. o . o. , . o.0. o.o. 本规程经国家质量监督检验检疫总局于 2 0 0 3年 0 5 月 1 2日批准 ,并 自 2 0 0 3 年 1 1 月 1 2日 起施行 。 归口 单 位 : 主要 起草 单位 : 参加起草单位 : 全国几何量工程参量计量技术委员会 黑龙江省计量检定测试院 哈尔滨市计量检定测试所 青海量具刃具有限公司 本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 .I .I G 2 4- 2 0 0 3 本规程主要起草人 : 梁玉红
3、孙德芬 张黎平 参加起草人 : ( 黑龙江省计量检定测试院) ( 哈尔滨市计量检定测试所) ( 黑龙江省计量检定测试院) 严永红 刘 文滨 ( 青海量具刃具有限公司) ( 黑龙江省计量检定测试院) J J G 2 4 - 2 0 0 3 目录 1 范围 。 , , , - , , , , , , , , , , 。 , , , 。 。 4 , 一( I ) 2 引用文献 ( 1 ) 3 概述 , ( I ) 4 计量性能要求 ( 2 ) 4 . 1 刻 线 宽 度 及宽 度 差 . . . . . . . . . . . . . . ( 2 ) 4 . 2 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面
4、的距离 , 一( 2 ) 4 . 3 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 ( 2 ) 4 . 4 测量面的表面粗糙度 , ( 2 ) 4 . 5 基座测量面的平面度 4 ( 2 ) 4 . 6 测力 , , , , , “ , , , , , , , ( 2 ) 4 . 7 示值误差 。 , ( 2 ) 4 . 8 可换测量杆的工作长度 , ( 2 ) 4 . 9 校对用量具 ( 2 ) 5 通用技术要求 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . , , , ( 3 ) 5 . 1 外观 , 。 , 一( 3 ) 5 . 2 各 部 分 相
5、互作 用 , ( 3 ) 6 计量器具控制 , 一 、 ( 3 ) 6 . 1 检定条件 , , , , , - ( 4 ) 6 . 2 检定项目 , , ( 4 ) 6 . 3 检定方法 , , ( 4 ) 7 检定结果的处理 ( 6 ) 8 检定周期 ( 7 ) 附录 n 深度千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 , , , ( s ) 附录 B 深度千分尺可换测量杆工作长度测量结果的不确定度评定 , , , ( I 0 附录 C 检定证书和检定结果通知书 ( 内页)格式 , ( 1 2 ) J J G 2 4 -2 0 0 3 深度千分尺检定规程 1 范围 本规程适用于分度值为 O .
6、O l m m,测量范围 ( 0 一3 0 0 ) m m深度千分尺的首次检定、 后续检定和使用中检验。 2 引用文献 本规程引用下列文献: J J F 1 0 0 1 -1 9 9 8 通用计量术语及定义 J J F 1 0 5 9 -1 9 9 9 测量不确定度评定与表示 G B / T 1 2 1 8 -1 9 8 7 深度千分尺 使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。 3 概述 深度千分尺是应用螺旋副传动原理将回转运动变为直线运动的一种量具。 深度千分尺由微分筒、固定套管 、测量杆、基座 、测力装置、锁紧装置等组成,如 图 1 所示 。 图1 I -测力装置;2 一微分筒
7、;3 一固定套管;a 一锁紧装置;5 一基座; 6 一测量杆 深度千分尺是机械制造业中用于测量工件的孔或槽的深度以及台阶高度的计量器 如图 2 所示,深度千分尺附件有校对用量具。 J J G 2 4 -2 0 0 3 图 2校对用量具 4 计t性能要求 4 . 1 刻线宽度及宽度差 固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为 ( 0 . 1 5 - 0 . 2 0 ) m m;刻线宽度差应不超过 0. 0 3 mmo 4 . 2 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不超过0 . 4 m m o 4 . 3 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位
8、置 当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准后,微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线 的右边缘应相切,若不相切,压线不超过0 . 0 5 m m,离线不超过 0 . 1 m m o 4 . 4 测量面的表面粗糙度 测量杆的测量面、校对用量具的测量面和基座的测量面的表面粗糙度应不超过 R a 0 . 0 5 1 z m 。如测量杆的测量面为硬质合金时, 其表面粗糙度应不超过 R . O . 1 0 1 z m o 4 . 5 基座测量面的平面度 基座测量面的平面度应不超过 0 . 0 0 2 m m ( 距边缘 l m m范围内不计) 。 4 . 6 测力 m 力应在 ( 3 一 6 ) N范围内。 4
9、 . 7 示值误差 测微头示值误差应不超过士 5 m o 注: 使用中的深度千分尺示值误差超过士 5 1z m ,但不超过士 I O p m时,允许继续使用, 并在证书 上加 以注明。 4 . 8 可换测量杆的工作长度 可换测量杆的工作长度偏差不超过表 1 规定。 4 . 9 校对用量具 首次检定的校对用量具工作尺寸偏差和两测量面的平行度应不超过表 2 的规定。 工 i G 2 4 - 2 0 0 3 表 1 可换测且杆工作长度偏差 可换测量杆的工作长度/ m m 偏差/ rt m 2 5、5 0 士3 5 0一7 5 , 7 5、1 0 0 士5 1 0 0一 1 2 5 , 1 2 5一
10、1 5 0 1 5 0一1 7 5 , 1 7 5一2 0 0 2 0 0一2 2 5, 2 2 5一2 5 0 2 5 0一2 7 5 , 2 7 5一3 0 0 士 7 表 2首次检定 的校对 用t具工作尺寸偏 差和两测量面的平行度 标称尺寸/ m m尺寸偏差/ 1 . m 两测量面平行度/ F m 2 5士 21 5 0 , 7 5士 21 . 5 1 0 0 , 1 2 5 巧 0 , 1 7 5 2 0 0 , 2 2 5 2 5 0 , 2 7 5 士 22 注:后续检定和使用中检验的校对用量具在保证两测量面平行度合格时,工作尺寸允许超差, 按 实际尺寸使用。 5 通用技术要求 外
11、观 深度千分尺及校对用量具的工作面不应有锈蚀、碰伤和划痕,各非工作面不应 有镀层脱落现象 , 各刻线应清晰、平直、均匀、无断线及影响准确度的其他缺陷。 5. 1 . 2 5. 1 . 4 陷 。 深度千分尺上应标有制造厂名 ( 或商标) 、出厂编号、测量范围及 互 二 标记。 校对用量具及可换测量杆上应标注标称尺寸。 使用中检验和后续检定时,深度千分尺允许有不影响使用准确度的上述外观缺 5 . 2 各部分相互作用 5 . 2 . 1 各活动部件的作用应灵活 、平稳、无卡滞现象。 5 . 2 . 2 零位的 调整要保证顺利和可靠, 锁紧装置的作用应切实有效。 5 . 2 . 3 可换测量杆的更换
12、要方便, 紧固要可靠。 5 . 2 . 4 测杆不应有手感觉到的轴向窜动和径向摆动。 6 计f器具控制 计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。 J J G 2 4 -2 0 0 3 6 . 1 检定条件 6 . 1 . 1 检定用设备 主要检定器具见表 3 0 6 . 1 . 2 检定环境条件 检定室温度为 ( 2 0 1 5 ) 0 C 。检定前受检千分尺在检定室内平衡温度的时间应不少于 2 ho 6 . 2 检定项 目 检定项目见表 3 0 表 3检定项 目和主要检定器具一览表 序号检定项 目 主要检 定器具 首次检定 检定类别 后 续 检 定 使 用 中 检 验 外观 各部分相
13、互作用 刻线宽度及宽度差 微分筒锥面的端面棱边至 固定套管刻线面的距离 微分筒锥面的端面与固定 套管毫米刻线的相对位置 工 具显微镜 2级塞尺或工具显微镜 测量面 的表 面粗糙 度 基座测量面 的平 面度 测力 示值误 差 表面粗糙度比较样块 或表面粗糙度仪 2 级平晶或0级刀口尺 分度值不大于 0 . 2 N的测力计 2级平晶或 0 级 平板 5 等量块 U二 ( 0 . 5+5 L) t a m 1 0 一可换测量杆的工作长度 4等量块 U二 ( 0 . 2 + 2 L ) p m 校对用量 具 注 : 表 中“ + ” 表 示 应 检 定 , “ 6 . 3 检定方法 6 . 3 . 1
14、 外观 目力观察。 4 光学 计 4等量块 U二 ( 0 . 2 + 2 L ) p m 一”表示可 以不检定 。 J J G 2 4 -2 0 0 3 6 . 3 . 2 各部分相互作用 目力观察和试验。 6 . 3 . 3 刻线宽度及宽度差 在工具显微镜上对微分筒和固定套管至少各抽检均匀分布的3 条刻线。刻线宽度差 以最大值和最小值之差确定。 6 . 3 . 4 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 在工具显微镜上进行检定,也可用厚度为 0 . 4 m m的塞尺以比较法进行检定。检定 时应在微分筒转动一周内不少于 3 个位置上进行,见图3中 a 。仲裁检定以工具显微镜 上的检定结果为
15、准。 图3 6 . 3 . 5 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 将千分尺在 2 级平晶或0级平板上调整好零位后,观察微分筒锥面的端面是否与固 定套管毫米刻线右边缘相切,若不相切时,转动微分筒使其相切,按微分筒读出其零刻 线对固定套管纵刻线的偏移量,该偏移量即为离线或压线的数值。见图4 0 必45III 0 IIIIII III 05 离线。 .0 2 mm 压线0 . 0 2 mm 图4 6 . 3 . 6 测量面的表面粗糙度 用表面粗糙度比较样块以比较法进行检定,或用表面粗糙度仪进行检定。仲裁检定 以表面粗糙度比较样块上的检定结果为准。 6 . 3 . 7 基座测量面的平面度
16、首次检定的深度千分尺用直径为 l 0 0 m m的 2 级平晶以技术光波干涉法进行检定。 J J G 2 4 -2 0 0 3 其平 面度 几一2 n 一- 占 式中:n 干涉条纹的条数; a 工作光波的波长, t x m 。 如白 光 A / 2 = 0 . 3 1 i m , 图5 所示的干涉条纹为 4 条。 后续检定和使用中检验的深度千分尺用 0 级刀口尺按图6 所示方向进行检定。 画 、 、 _ 之 才 一 产 了 产 厂 2 、 、 、 、城 , 、 卜 图5图6 6 . 3 . 8 测力 用分度值不大于0 . 2 N的测力计进行检定。 6 . 3 . 9 示值误差 用 5 等量块在
17、 2 级平晶或 0 级平板上进行检定。受检点应至少均匀分布于示值范围 的 5点上,如 5 . 1 2 m m, 1 0 . 2 4 m m ( 或 1 0 . 2 5 m m ) , 1 5 . 3 6 m m ( 或 1 5 . 3 7 m m) , 2 1 . 5 m m, 2 5 m m 。每 一受检点必须用两组相同尺寸的量块 ( 实际尺寸差不超过 2 1 m )进行检定, 如图 7 所示。 各点示值误差 。 按下式求得: e = 去一 乙 。( 1 ) 式中: L ; 千分尺的 读数值; L B 量块的 实际尺寸。 6 . 3 . 1 0 可换测量杆的工作长度 深度千分尺除首先装上 0
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