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1、SJ 中华人民共和国电子行业标准 S J / T 1 0 4 8 6 一9 4 同轴射频电缆组件总规范 第 1 部分: 一般要求和试验方法 G e n e r i c s p e c i f i c a t i o n f o r r a d i o f r e q u e n c y a n d c o a x i a l c a b l e a s s e mb l i e s P a r t 1 : G e n e r a l r e q u i r e m e n t s a n d t e s t m e t h o d s 1 9 9 4 - 0 4 - 1 1 发布 1 9 9
2、4 - 1 0 - 0 1 实施 中华人民共和国电子工业部 发 布 中华人民共和国电子行业标准 同轴射频电缆组件总规范 第 1 部分: 一般要求和试验方法 S I / T 1 0 4 8 6 -9 4 I E C 9 6 6 一1 Ge n e r i c s p e c i f i c a t i o n f o r r a d i o f r e q u e n c y a nd c oa x i a l c a bl e a s s e mb l i e s P a r t 1 : G e n e r a l r e q u i rem e n ts a n d te s t m e t
3、 h o d s 本标准等同采用国际电工委员会标准 I E C 9 6 6 -1 ( 同轴射频电缆组件总规范第 1部 分: 一般要求和试验方法) 。 第一篇总则 1 范围 本标准规定了传输横电磁波模式( T E M) 的同轴射频电缆组件的要求。 2目的 本标准的目的是对测量同轴射频电缆组件( 由电缆和连接器组成) 的电气、 机械和气候特 性规定统一要求。 注: 所用电缆和连接器的设计应分别符合 G B 1 2 2 6 9和G B 1 1 3 1 3的有关产品标准的规定。 本规范不适合对电缆和连接器单独进行试验, 对电缆和连接器单独进行的试验已分别在GB 1 2 2 6 9 和G B 1 1 3
4、 1 3中说明。 3 有关文件 G B 2 4 2 1 ( I E C 6 8 -1 )电 工电 子产品荃本环境试验规程 总则 G B 2 4 2 3 . 3 ( I E C 6 8 -2 -3 )电工电子产品基本环境试验规程 试验 C a : 恒定湿热试验方法 G B 2 4 2 3 . 5 ( I E C 6 8 -2 -2 7 )电工电子 产品 基本环 境试验规程 试验E a : 冲击试验方法 G B 2 4 2 3 . 6 ( I E C 6 8 -2 -2 9 )电工电子产品 基本环境 试验规程 试验E b : 碰撞试验方法 G B 2 4 2 3 . 1 0 ( I E C 6 8
5、 -2 -8 )电工电子产品基本环境 试验规程 试验F c : 振动( 正弦) 试验方法 G B 2 4 2 3 . 1 7 ( I E C 6 8 -2 -1 1 ) 电工电子产品基本环 境试验规程 试验Ka : 盐雾试验方法 中 华人民共和国电子工业部1 9 9 4 - 0 4 - 1 1 批准1 9 9 4 - 1 0 - 0 1 实施 一1 一 S i / T 1 0 4 8 6 -9 4 GB 2 4 2 3 . 1 9 ( I E C 6 8 -2 -4 2 ) G B 2 4 2 3 . 2 2 ( I E C 6 8 -2 - 1 4 ) G B 1 1 3 1 3 ( I E
6、 C 1 6 9 -1 ) G B 1 1 3 2 2 ( I E C 9 6 -0 ) GB 1 2 2 6 9 ( I E C 9 6 -1 ) 电工电子产品基本环境试验规程 试验 K c : 接触点和连接件的二氧化硫试验方法 电工电子产品基本环境试验规程 试验 K c : 温度变化试验方法 射频同轴连接器总规范 射频同轴电缆设计指南 射频电缆总规范 4定义 在本标准中下列定义适用: 4 . 1 电缆组件c a b l e a s s e mb ly 具有规定性能作为单个元件来使用的一根电缆和一对连接器的组合件。 4 . 2 插人损耗 in s e r t io n lo s s 由 于某
7、一电缆组件接人系统而引入的损耗。在本标准中 , 插人损耗是功率尸 , 与P : 之 比, 以分贝来表示, 功率( 尸 : ) 是传 输给直接与信号源相连的负 载的 功率, 而功率( 尸 2 ) 是当电 缆 组件接入信号源与负载之间时传输给负载的功率。 插 入 损 耗 ( A ) 一 1 0 lo g 导 1 2 4 . 3 反射系数 r e fl e c t io n f a c to r 在传输线的任一点或任一横截面上反射波波矢量的幅值与入射波波矢量幅值之比。 4 . 4 电长 度e le c t r i c a l l e n g t h 等效于电缆组件的自由空间的长度。 4 . 5 电长
8、度差 e le c t ic a l le n g t h d i f f e r e n c e 电缆组件之间电长度的差值。 4 . 6 相 位差 p h a s e d i f f e r e n c e 任意两个电缆组件传输同一个 T E M波的相位之差。 4 . 7 传 播时I可 p ro p a g a t io n t i m e 在两连接器的参考面之间传播T E M波所需要的时间。 4 . 8 最 小静态弯曲 半径 m i n i m u m s t a t i c b e n d i n g r a d i u s 进行气候试验所用的半径, 它是电缆固定敷设所允许的最小弯曲半径
9、。 4 . 9 动 态弯曲 半径 d y n a m i c b e n d in g r a d i u s 由插入损耗稳定性、 电长度稳定性和弯曲试验所规定的弯曲半径。 这是电缆组件可弯曲的最小弯曲半径。 注: 实际上, 这是要与规定弯曲次数的规范相一致的。 4 . 1 0 屏蔽效率 s c r e e n i n g e f f e c t i v e n e s s 4 . 1 0 . 1 转移阻抗t r a n s f e r i m p e d a n c e 电缆组件的转移阻抗是在电缆组件内的感应电压与组件外面的感应电流的比值。实际 上, 它是在与电缆组件的两连接器紧密配接的两连
10、接器的规定点之间的感应电压与感应电流 的比值。 一2 一 S 7 / T 1 0 4 8 6 -9 4 4 . 1 0 . 2 屏蔽衰减s c r e e n i n g a t t e n u a t i o n 电缆组件的屏蔽衰减是电缆组件内部的信号功率与辐射到电缆组件外部的总功率之比, 用分贝表示。 4 . 1 1 额定功率 p o w e r r a t i n g 当电缆组件端接与其特性阻抗一致的负载时允许连续传输的输入功率。 往: 在实际应用时, 允许传翰的最大功率还取决于回波损耗。 额定功率取决子电缆组件安装的具体情况、 环境温度、 空气压力和流通情况。通常规定的环境温度 为 4
11、 0C o 5 设 计和制造 要求 5 . 飞 电缆设计和结构 电缆应符合 G B 1 2 2 6 9 有关产品标准的规定或电缆应按 G B 1 1 3 2 2的规定进行设计。在 需要脱离 G B 1 1 3 2 2 , G B 1 2 2 6 9进行电缆设计的情况下, 电缆应按照详细规范的要求进行设 计。 5 . 2 连接器的设计和结构 连接器应符合G B 1 1 3 1 3 有关产品标准的规定。在需要特殊设计的情况下, 连接器的界 面尺寸应符合G B 1 1 3 1 3 的相应部分的规定, 结构应符合详细规范的要求。 5 . 3 外形和界面尺寸 a .b . 外形尺寸应 符合详细规范 的规
12、定。 界面尺寸应符合详细规范的规 定。 加工质t、 标记和包装 6 . 1 加工质量 电缆组件不应有目力可见的缺陷, 它应是清洁的, 良好的。 6. 2标志 标志要清晰、 符合详细规范的规定并要标明电缆组件的制造厂代号或商标。 6 . 3 盖帽 除非在详细规范中另有规定, 为了保护连接器界面免受损坏和污染, 在运输和储存时, 电 缆组件两端的连接器应戴上由适宜材料制成的任意形式的盖帽。 6 . 4 包装和标志 除非另有规定, 包装和标志应符合详细规范的规定。 人工老 炼 可 用人工老炼的方法来改善相位、 蓑减及热膨胀随温度的稳定性。 通常这是对成品电 缆 组件进行几个温度循环处理。除非在详细规
13、范中另有规定, 由供货方决定是否要对电缆组件 进行老炼。 S J / T 1 0 4 8 6 -9 4 第二篇试验方法 8 概述 8 . 1 试验的标准大气条件 除非另有规定, 全部试验应在 G B 2 4 2 1所规定的试验条件下进行。在进行试验前, 应将 电缆组件在试验温度下储存足够的时间, 使整个电缆组件达到该试验温度。当不在标准温度 下进行试验时, 必要时应把试验结果按标准温度给予修正。 注: 凡不能在标准大气条件下进行试验时, 则应在试脸报告中说明试验所处的实际条件和影响。 8 . 2 外观检验 对试样进行外观检验以保证试样满足以下条件; a . 有满意的外观、 加工质量和制造情况。
14、 b . 标志要符合本标准第6 . 2 条的规定。 c . 无机械损伤及松动, 无部件间的位移。 d . 材料或成品应无显见的凹痕、 剥落。 通常, 用三倍放大镜来检验。 8 . 3 尺寸检验 8 . 3 . 1 界面尺寸 在使用符合G B 1 1 3 1 3 的连接器时. 界面尺寸的检验可以限制那些因不正确的装配而引 起的性能变化。例如: 从基准面到绝缘介质以及到中心接触件的轴向尺寸。 在使用其它连接器或有特殊要求时, 应在详细规范中给出具体细节。 8 . 3 . 2外 形 尺 寸. 应在详细规范中给出测量电缆组件外形尺寸的任何特殊要求。 9 电气试验 9 . 1 反射系数 9 . 1 .
15、1 程序 反射系数应按附录A进行测量。 9 . 1 . 2 要求 在详细规范中规定的频带内, 在任何频率下的反射系数应不超过规定值, 详细规范可以规 定仅从一端测定反射系数。 9 . 1 . 3 在详细规范中应规定的内容: a . 频带; b . 最大反射系数; c . 测量应从一端或两端进行。 9 . 2 阻抗均匀性 9 . 2 . 1 目的 测定电缆组件局部特性阻抗的变化。 9 . 2 . 2 程序 4 S J / T 1 0 4 8 6 一9 4 用一台时 域反射计( T D R ) 把阶跃脉冲通过一段作为阻抗基准的空气线输入到电缆组件, 观察沿组件长度上阻抗的变化。 也可采用一个由频域
16、到时域的转换系统。 9 . 2 . 3 要求 按详细规范中的规定。 9 . 2 . 4 在详细规范中应规定的内容; 二时域反射系数的上升时间; b . 阻抗变化的极限。 9 . 3 插入损耗 9 . 3 . 1 程序 插人损耗应按附录 B测量。 9 . 3 . 2 要求 在详细规范规定的频率范围内, 任意频率下的插人损耗应不超过规定值。 9 . 3 . 3 详细规范中应规定的内容 a .b . 最大插人损耗。如适用时, 给出插入损耗和频率的关系; 颇率范 围。 9 . 4 插人损耗稳定性 9 . 4 . 1 目的 当电缆组件受到动态弯曲时, 确定它在给定频率下衰减的变化。 9 . 4 . 2
17、程序 在按9 . 3条测量插入损耗时, 电缆在半径为其动态弯曲半径的芯轴上进行卷绕. 卷绕的圈 数按详细规范规定。 9 . 4 . 3 要求 试验过程中及试验后, 插入损耗的变化不应超过规定值。 9 . 4 . 4 详细规范中应规定的内容: a . 电缆的动态弯曲半径( 芯轴的半径) ; b . 电缆组件在芯轴上卷绕的部位和圈数; c . 试验频率; d . 插入损耗的最大变化。 9 . 5 传播时间 9 . 5 . 1 程序 传播时间按附录 C测量。 9 . 5 . 2 要求 传播时间应不超过详细规范中的规定值。 9 . 5 . 3 详细规范中 应规定的内容: a . 进行测量的频率范围(
18、附录 C中方法 C 1 ) 或系统的上升时间( 附录 C中方法C 2 ) ; b . 传播时间和偏差。 9 . 6 电长度的稳定性 9 . 6 . 1 目的 确定电缆组件在经受动态弯曲时由于电长度变化引起的在给定频率下的相位变化。 S J / T 1 0 4 8 6 -9 4 9 . 6 . 2 程序 在按9 . 7 条测量 相位 差时, 把被测电缆组件之一卷绕在半径等于电 缆动态弯曲 半径的芯 轴上, 卷绕的圈数按详细规范的规定。 9 . 6 . 3 要求 试验间 和试验后, 相位变化不应超过详细规范的 规定。 9 . 6 . 4 详细规范中 应规定的内容。 a . 电 缆的动态弯曲 半径(
19、 芯轴的半径) ; b . 卷晓圈数; 。 . 试验频率; d . 相位的最大变化。 9 . 7 相位差 9 . 7 . 1 目的 测定两个或两个以上电缆组件之间的相位差。 9 . 7 . 2 程序 用一台足够精度的矢量网络分析仪进行测量, 并用一根电缆组件作基准线, 将其它电缆组 件与这根基准线作比较。 在频率和精度要求允许的情况下, 也可使用开槽测量线。 9 . 7 . 3 要求 相位差应不超过详细规范的规定。 9 . 7 . 4 详细规范应 规定 的内 容: a . 最大相位差或标称相位差及公差; b . 频率。 9 . 8 相位随温度的变化 9 . 8 . 1 目的 当电缆组件经受其工
20、作温度范围内的温度变化时, 确定由于电长度变化引起的相位变化。 注: 当详细规范中有规定时. 可在一根电缆组件试样上代替在成品电缆组件上进行本试验。电缆组件试 样除了长度和状态外, 应和成品电缆组件相同。 9 . 8 . 2 程序 将电 缆组件, 包括两端的连接器置于烘箱里, 用一台合适的网络分析 仪测量。电缆支撑的 细节应在详细规范中给出。 当在电缆组件试样上进行试验时, 电缆应卷成一圈或一圈以上的无支撑圈, 圈直径至少是 最小静态 弯曲 半径的 十倍。 应进行六个温度循环。 在频率和精度要求允许的场合, 可用开槽测量线代之。 9 . 8 . 3 要求 在试验过程中 , 相对变化应不超 过详
21、细 规范的 规定值。 9. 8. 4详细规范中应规定的内容: 温度范围和温度超时循环; 测量频率; 表示结果的方法, 例如, ( ) / ; a.卜 _ c .6 S J / T 1 0 4 8 6 -9 4 d .允许的 相位变化。 9 . 9 屏蔽效率 用测量转移阻抗和/ 或屏蔽衰减来测量屏蔽效率。应按附录 D进行测量。 9 . 1 0 耐电压 9 . 1 0 . 1 程序 每根电缆组件应经受有关详细规范规定的电压, 无击穿或闪络。试验电压的最小值由电 缆组件的额定工作电压 U得到, 试验电压 E( 用d . c 或 a . c 峰值表示) 由下式给出。 E= 3 U , 对于额定电压等于
22、和小于I k V的电 缆组 件; 或 E=1 . 5 U。 对于额定工作电压超过 1 k V的电缆组件, 但最小试验电压为3 k V . 在详细规范中规定的交流峰值电压, 频率在4 0 H: 和 6 0 H z 之间, 应施加在电缆组件的内、 外导体之间, 此电缆组件使用一个匹配的连接器作为界面。 另 外, 可采用与交流峰值电 压相等的直流电压。 除非详细规范另有规定, 电压应加 1 min . 9 . 1 0 . 2 要求 应无击穿或闪络。 9 . 1 0 . 3 详细规范中应规定的内容: a . 试验电压; b . 任何特殊的要求。 9 . ”绝缘电阻 9 . 1 1 . 1 程序 绝缘电
23、阻应在连接器接触件的内、 外导体之间测量, 电压采用5 0 0 士 5 0 V的 直流电压和电 缆组件的额定电压值中的较小者。 除非在详细规范中另有规定, 绝缘电阻应在 6 0 土5 s 的充电时间之后测量。 9 . 1 1 . 2 要求 绝缘电阻应不小于详细规范中的规定值。 9 . 1 1 . 3 在详细规范中应规定的内容: a . 试验电压; b . 充电时间; c .绝 缘电 阻 。 9 . 1 2 内、 外导体连续性 9 . 1 2 . 1 目的 保证内、 外导体的直流和低频连续性。 9 . 1 2 . 2 程序 可采用任一合适的方法。 9 . 1 2 . 3 要求 内、 外导体应无直
24、流或低频的不连续性。 9 . 1 2 . 4 在详细规范中应规定的内容。 a . 试验电压; b . 试验电流; 7 一 S i / T 1 0 4 8 6 -9 4 c . 频率。 9 . 1 3 放电试验( 电晕试验) 9 . 1 3 . 1 目的 当有关电缆及连接器的单个证明资料未获得时, 确定电缆组件在高电压条件下的适用性。 9 . 1 3 . 2 程序 应按G B 1 1 3 1 3 中 第1 4 . 9 条的 方法 进行。 9 . 1 3 . 3 在详细规范中 应规定的内 容: 。 . 熄灭电压最小值; b . 测量方法和其它要求的全部细节。 9 . 1 4 额定功率 在考虑中。
25、1 0 机械强度试验 1 0 . 1 张 力 1 0 . 1 . 1 目的 确定机械强度, 以及当要求时, 确定电缆组件受轴向力时的电气稳定性。 1 0 . 1 . 2 程序 在详细规范中规定的张力应沿着电缆和连接器的共同轴线加到两个连接器上。当电缆的 长度和形状使之不可能时, 力将依次加到一个连接器和电缆之间。 注: 当力不能加在两个连接器之间时, 本试验通常对电缆是破坏性的。 1 0 . 1 . 3 要求 不应有目力可见的电缆对连接器的位移。中心接触件和绝缘价质的位置应与界面尺寸相 符合。当详细规范中有规定时, 应符合电气试验要求。 1 0 . 1 . 4 在详细规范中应规定的内容: a
26、. 力的值; b . 加力的持续时间和方法; c . 要求的电 气试验。 1 0 . 2 弯曲 1 0 . 2 . 1 目的 确定电缆组件在电缆和连接器的连接处承受弯曲的能力。 1 0 . 2 . 2程序 采用图1 所示的装置来进行试验。 当施加力F时, 调节长度 L, 以使电缆处在垂直轴上, 连接器在水平位置上。弯曲是装置 的1 8 0 0 旋转。弯曲速率应为每分钟2 0 次或由详细规范规定。 S 7 / T 1 0 4 8 6 -9 4 爪1十 180十卜 图 1 电缆组件弯曲试验装置 1 0 . 2 . 3 要求 试验后, 电缆组件界面尺寸应在规定值范围内, 并应满足详细规范中规定的电气
27、试验要 求。 1 0 . 2 . 4 在详细规范中应规定的内容: a . 力 F的值; b . 弯曲次数, 一般为5 0 0次; c . 弯曲速率, 一般为每分钟2 0次; d . 要求的电 气试验; e . 是否仍用在装置上的电缆组件进行电气试验。 1 0 . 3 弯曲 疲劳 1 0 . 3 . 1 目的 确定电 缆组件在使用中 承受弯曲 的能 力。 1 0 . 3 . 2 程序 电缆组件应放在如图2 所示装置中水平台上。当一个连接器固定时, 另一个连接器在电 缆轴线方向上前后移动。 固定 图 2 电缆组件弯曲疲劳试验装置 1 0 . 3 . 3 要求 试验后, 电缆组件应无目 力可见的损伤
28、, 并且界面尺寸在规定值范围内。电气要求应符合 详细规范的规定。 1 0. 3. 4在详细规范中应规定的内容: 移动幅度, 一般 为组 件长度的一半 ; S J / T 1 0 4 8 6 -9 4 b . 循环次数, 一般为 5 0 0 次; c . 要求的电气试验。 拍. 4 电缆抗压 1 0 . 4 . 1 目的 确定电缆组件承受施加到电缆任一部位的横向负荷( 或力) 的能力。 1 0 . 4 . 2 程序 将最大速率为 0 . 2 F / s 的一个力加到图3 所示的装置上。然后, 此力应维持6 0 1 l o s e 州|一 一。 |1 试验电缆 T 径 5 。( 二侧) 图 3 电
29、缆抗压试验装置 1 0 . 4 . 3 要求 试验后, 反射系数和插人损耗应在详细规范规定的极限值之内。 此外, 详细规范可按 9 . 2 条规定阻抗均匀性。 1 0 . 4 . 4 详细规范中 应规定的内 容: a . 力为 F的值, 一般为8 0 0 N; b . 试验区域到其中一个连接器的距离, 一般最大为 l m; c . 要求的电气试验。 1 1 环境试验 1 1 . 1 推荐的严酷 度 对环境试验推荐的严酷度, 可见附录E o 1 1 . 2 振动、 碰撞、 冲击 当要求这些试验时, 应从G B 2 4 2 3 . 5 , G B 2 4 2 3 . 6 和 G B 2 4 2 3
30、 . 1 0中选取。见附录E o 1 1 . 3 气候顺序 1 1 . 3 . 1 程序 本试验应按G B 1 1 3 1 3中的第 1 6 . 2 . 1 至 1 6 . 2 . 5 条进行。柔软电缆组件应绕在一个半径 为最小静态弯曲半径的芯轴上。除非在详细规范中另有规定, 应绕整二圈。 1 1 . 3 . 2 要求 除非在详细规范中另有规定, 在恢复周期结束后, 电缆组件应符合下列试验的要求。 a . 绝缘电阻; b . 耐电压 c . 插人损耗; d . 外观检查。 一1 0 一 S J / T 1 0 4 8 6 -9 4 往: 绝缘电阻测量和耐电压试验应在恢复期终止后的3 0 min
31、内进行。 1 1 . 3 . 3 详细规范中 应规 定的内 容: a . 气候顺序中每一步的严酷度; b . 如果不是三圈时, 应规定绕在心轴上的圈数; c . 本试验顺序过程中和完成后应进行的电气试验及其要求; d . 与标准试验程序的差异; e . 连接器是否未被配接或受保护。 1 1 . 4 恒定湿热 1 1 . 4 . 1 程序 除非在详细规范中另有规定, 柔软电缆绕在半径为最小静态弯曲半径的心轴上, 圈数应为 整三圈。试验应根据 G B 1 1 3 1 3中的第 1 6 . 3 . 1 条进行。 1 1 . 4 . 2 要求 除非在详细规范中另有规定, 在恢复周期结束后, 电缆组件应
32、符合下列试验的要求。 a . 绝缘电阻; b . 耐电压; c . 插入损耗; d . 外观检查。 注: 绝缘电阻测量和耐电压试验应在恢复期终止后的 3 0 m i n内进行。 1 1 . 4 . 3 在详细规范中应规定的内容; a . 试验的严酷度; b . 如果不是三圈时, 应规定绕在芯轴上的圈数; c . 在试验后和在恢复周期后立即进行的电气试验及其要求; d , 与标准试验程序的差异; e . 连接器是否未被配接或受保护。 1 1 . 5 温度迅速变化 1 1 . 5 . 1 程序 本试验应按G B 1 1 3 1 3 中 的第1 6 . 4 . 1 条进行。柔软电缆组件应绕在半径为最
33、小静态弯曲 半径的心轴上。除非在详细规范中另有规定, 绕的圈数应为三圈。 1 1 . 5 . 2 要求 除非在详细规范中另有规定, 在恢复周期结束后, 电缆组件应符合下列试验要求: a . 绝缘电阻; b . 耐电压; c . 插入损耗; d . 外观检查 中心接触件和绝缘介质位置应符合界面尺寸的规定。 1 1 . 5 . 3 详细规范中应规定的内容: a . 最低和最高温度; b . 如不是三圈时, 应规定绕在心轴上的圈数; c . 最终测量及其要求; d . 与标准试验程序的差异。 一11 一 S l / T 1 0 4 8 6 一9 4 1 1 . 6 耐溶剂和污染流体 1 1 . 6
34、. 1 过程 试验应按 G B 1 1 3 1 2中的 1 9 . 1 条进行。 1 1 . 6 . 2 要求 除非在详细规范中另有规定, 在恢复周期结束后, 电缆组件应符合下列试验的要求: 二绝缘电阻; b . 外观检查; c .擂人 损 耗。 1 1 . 6 . 3 详细规范中应规定的内容: a . 液体 b . 如不是 7 0 时, 要规定干燥温度; c . 绝缘电阻和插入损耗的要求; d . 与标准试验程序的差异; e . 连接器是否未被配接或受保护。 ”. 7 浸水试验 试验方法的细节应在详细规范中规定, 一般应按 G B 1 1 3 1 3 中的第 1 4 . 7 条的规定进行。
35、组件的连接器应配接。 1 1 . 8 盐雾和二氧化硫试验 当要求本试验时. 应从G B 2 4 2 3 . 1 7 和G B 2 4 2 3 . 1 9 中 选取试验方法。严酷度应在详细规 范中规定。 1 2 特殊试验方法 仅适用于特殊电缆组件的特殊试脸方法应在有关的分规范中规定。 第三篇试验一览表 1 3 试验一览表 试验一览表应在分规范和详细规范规定。 注: 特定分门类是由特种类型的电缆( 如柔软的或半硬的) 和符合G B 1 1 3 1 3或特殊设计并具有特殊特性 ( 例精密和高屏蔽) 的射预连接器制造的射叔电缆组件组成。 S i / T 1 0 4 8 6 -e 4 附录A 反射系数测
36、t方法 ( 补充件) A1 概述 可采用扫频法测量反射系数。 本方法的基本原理是利用反射计装置测量电缆组件输入端的反射波幅度。 可以把反射波与经校正衰减器衰减的总反射波相比, 也可借助比 值计将反射波与人射波 相 比。 A 2 颐率范围和反射系数的极限 颇率范 围和最大反射系数应在详细规范中规定。 A 3 精度 为确定测量系统的误差, 在该频率范围内可采用一个经校正的失配负载进行比较试验。 为确定误差范围 , 可以采用计算效准的方法来提高测量精度。 A 4设备 适用的框图示于图 A 1 , 经厂方和用户同意, 也可采用其他等效装置。 a . 射频扫频发生器: 扫频速率应足够低, 使纸带记录仪如
37、实地重现峰值。测量端口的输 出特性阻抗应与电缆组件的标称值相同。 b . 低通滤波器: 低通滤波器用于消除寄生谐波频率。 c . 反射计( 定向藕合器或电桥) ; 反射计( 带有标准转接器) 的有效方向性应至少高于被 测值 1 5 d B a d . 终端负载: 终端负 载应是一 个标称阻抗负载, 并应足 够精密以满足总 精度要求。 e . 校准衰减器: 衰减器应在所需频带内校准。 定向藕合器 或电桥被试电缆组件 住: 校准衰减器也可放在位置( 2 ) 0 图 A 1 试验装置框图 S i / T 1 0 4 8 6 一94 附录B 测且插人损耗的试验方法 ( 补充件) B1 目的 确定同轴射
38、颇 电缆组件的插入损耗。 B 2 试验方法 在本附录中规定了测量同轴射频电缆组件的插人损耗的三种试验方法。试验设备应具有 与被试电缆组件相同的标称特性阻抗。如果不可能一样, 则在分条款 B 2 . 1 条和 B 2 . 2条中规 定的试验方法 1 和试验方法2中必须使用B 3条中规定的校准公式和程序。 试验方法3仅适用于插入损耗小于其回波抓耗的那些同轴射频电缆组件。 在试验设备和被试电缆组件之间可能需要转接器。这些转接器应作为试验设备的一部 分, 并且当电缆组件作为试验程序的一部分移去时, 它们应留在电路中。然而, 当电缆组件移 去而转接器不能与测试系统相连时, 一个或多个转接器可以留在电缆组
39、件上。在此情况下, 需 留几个转接器将在详细规范中规定。 B 2 . 1 试验方法1 B 2 . 1 . 1 检验程序 电缆组件应按照图B 1 所示的试验设备电路进行试验。 广 一 - 一 一 一 一 , 1 已知损耗 州r I参 考 线I L _ - _ _ J 信号发生器 隔离器 或衰减器 校准衰减器 卜匹配检测器/ 被试电缆组件 颇率计 指示器 图B 1 测量播 入损 耗的电 路图 首先, 电缆组件用已知损耗的参考线代替, 或把两个试验接点连接在一起, 并把指示器调 节到一个适当的值( 即小于最大值) 。然后, 把电缆组件插在两试验接点之间, 回调校准衰减 器, 其值等于电 缆组件极限值
40、, 如使用参考线应扣除其损耗值。指示器读数应不小于调节值。 这样就保证了电缆组件的插入损耗不会大于规定值。 8 2 . 1 . 2 测量程序 电 缆组件按图B 1 所示的试验设备电 路图 进行试验。把指示器调到一个适当值( 即小于 最大值) , 然后移去电缆组件, 用校准衰减器和已知损耗的参考线( 如必要) 使指示器读数返回 到上述调节值。 B 2 . 1 . 3 验收 电 缆 组 件 的 插 人 损 耗 应 不 大 于 规 定 值 。 B 2 . 1 . 4 注意事项 一1 4 一 Si / T 1 0 4 8 一洲 二在两试验接点处的回波损耗可能会引起测量值的误差, 应予以考虑( 见B 3
41、 条) 。 b . 使用太大功率时, 应注 意不要损伤检侧器。 c . 振荡器应是足够纯的或经过德波的, 以保证无谐波和杂散信号影响本试验。 d . 关于转接器的使用见B 2 条。 B 2 . 2 试验方法2 本 试验 方法可用于与试验设备有相同的标称特性阻抗的电缆组件( 即高回 波损 耗情况) , 也可用于与试验设备有不同的标称特性阻杭的电缆组 件( 即低回波报耗情况) 。 B 2 . 2 . 1 程序 本试验电路如图B 2 所示, 图中检测器 V通过匹配器( 如必要时) 与定向藕合器或电桥的 输出端相连接。 根据试验接点的回波损耗, 用振幅或振幅和相位进行校准( 高回波损耗只需用振幅进行校
42、 准, 而低回波损耗应按 B 3 条的规定需要用振幅和相位进行校准) 。电缆组件插在定向藕合器 或电桥的输出端和检测器V之间. 必要时要用转接器。衰减通过扫频振幅分析仪确定。 图B 2 测量插入 损耗的电 路图 如果能得到足够的功率或如果在系统中有足够的灵敏度, 可以使用如图B 3所示的替换 电路 图。 图 B 3 测量插入损耗替换电路图 B 2 . 2 . 2 验收 电缆组件的插人损耗应不大于规定值。 B 2 . 2 . 3 注意事项 a . 在两试 验接点处的回波损耗可能会引起测量值的误差, 应予以考虑( 见B 3 条) 。特 殊情况下, 在检测器V之前可能需要一个低反射的衰减器。 b .
43、 系统的校准应考虑功率和藕合器的关系。 一15 一 S J / T 1 0 4 8 6 -9 4 坏* c .信 号 发 生 器 应 是 足 够 纯 的 或 经 过 滤 波的 , 以 保 证 无 谐 波 和 杂 散 信 号 影 响 本 试 验 。 d . 在模拟一扫频系 统中 , 扫频 信号 发生 器的 频率扫描速度相对于振幅分析仪响应应足 够低, 以 便获得插人损 耗的精确测量 值; 特别是对于具有下述情况的电 缆组件, 其扫描速度应 足够低。 第一种情况: 在电缆组件中的回波报耗引起的谐振十分尖锐。 第二种情况: 在电缆组件的两端 或试验接点之间有多次反射。 在数字阶 跃式扫 频系 统中,
44、 阶跃间隔应足 够小, 以便精确地测量插人损耗。特别是, 在本条的 d 中所述的情况下, 此间隔应足够小。 f . 关于转接器的使用见 B 2 条。 B 2 . 3 试验方法3 如电缆组件的插入损耗比其回波损耗小, 并且试验频带充分宽时, 可使用一个双程的试验 方法。此要求排除不匹配电缆组件的试验。 B 2 . 3 . 1 程序 试验电路图如图B 4 所示。 短路或 开路终端 图 B 4 测量插入损耗的双程电路图 对 V或 R在 O d B和任何其它要求的衰减下, 在要求的频率范围内, 定向藕合器接点或转 接器的终端为下述情况, 对于O d B或其它要求的衰减值确定电平V或R e : 一 短路
45、 ; 开路。 这两种电平 a和b的平均分贝数应作为参考电平。 然后, 把电缆组件用转接器( 如必要时) 与定向藕合器连接, 并在短路或开路时测出衰减电 平。在两种不同终端下测得的两个衰减曲线的平均分贝数即是被试电缆组件的插入损耗的两 倍。 B 2 . 3 . 2 验收 电缆组件的插入损耗应不大于规定值。 B 2 . 3 . 3 注意事项 a . 两试验接点处的回波损耗和定向藕合器的方向性或电桥的视在方向性会引起测量值 的误差, 应予以考虑( 见 B 3条) 。 b . 试验频带应足够宽以便从两测试曲线得到可信的平均值。 c , 系统的校准应考虑功率和藕合器的关系。 d . 信号发生器应是足够纯
46、的或经过滤波的, 以保证无谐波和杂散信号影响本试验。 一1 6 一 SI / T 1 0 4 8 6 -9 4 e . 在模拟一扫频系统中, 扫频信号发生器的频率扫描速度相对于振幅分析仪响应应足 够低, 以 便获得插人损耗的 精确侧量值, 特别 是对于具有下述情况的电缆组件. 其扫描速度应 足够低。 第一种情况: 在电 缆组件中的回 波报耗引起的谐振十分尖锐。 第二种情况: 在电缆组件或试验接点两端有多次反射。 f . 在数字阶跃式扫频系统中, 阶 跃间隔应足够小, 以 便精确地测量插入损耗。特别是在 本条的e 中 所述的情况下, 此间隔 应足 够小。 9 . 电缆组件的插人损耗应允许把电缆组
47、件上的反射和其终端上的反射分开。 h . 在开路试验中, 连接器中心接点处的辐射应不降低精确度。若必要, 可使用精密开路 终端( 屏蔽的或端部封闭的开路终端) 。 i . 羊千转摇器的沛 用nRZ备 _ B 3 特性阻抗偏差的校准 当试验设备和电缆组件的特性阻坑不同时, 试验方法 1 和试验方法2应和校准公式B 1 一 起使用 。 A 一 A 一 : 01051。 Z 2 + 二 Z o0 10 9 ,0一 : O lo g in 2了 Z X ZO Z, +Zo 一 2 0 10 9 ,0 1 - Z2一Z 0 Z g +Z o Z ,一Zo Z, +Zo 2 了 Z , Z 0 一 二 ,
48、 , , 一 ( B 1 ) 式中: A被试电缆组件的真正插入损耗, d B ; A 电缆组件插入损耗的测量值, d B ; 凡 发 生 器 的 隔 离 器或 衰 减 器 ( 对 试 验 方法1 ) 以 及 藕合 器 或 电 桥 ( 试 验 方 法2 ) 的 标 称 输出阻抗. n; Z 0 电 缆组件的标 称特性阻杭, f 1 ; Z , 校准 衰减 器丈 试验方法1 ) 以及检测器或者藕合 器或电桥( 试验方法2 ) 的标称 输入 阻抗 , 口; a 电 缆组件的衰减常数, n e p e r / m ; A 电 缆组 件 的 相 位 常 数 , r a d / m ; L 电缆组件的物理
49、长度, ma 衰减与频率的曲线上显示出与两试验接头之间的多次反射引起相一致的波动, P 可由下 式求得: 。_ n 乙-_ . J j _ 尸 一 几r_r几 。 w 二 J J J J 砂 ( B2 ) 式中: d f 一在频率f附 近的 衰减 波动曲 线上的两个临近和最大值或两个临近的最小值之间 的频率差。 此外, 。 近似等于下式的。 =A “ / 8 . 6 8 6 L n e p e r / m , 一 ( B 3 ) 1 , S 7 / T 1 0 4 8 6 -9 4 然而, 为提高精度, 此公式在公式B I 中用a代替 。 重复地使用。 附录C 传播时间测里方法 ( 补充件) C1 概述 用于长、 短两种电缆组件的测量方法都是需要的。对于长电缆组件, 推荐入射波和反射波 的谐振法, 谐振法作为方法 1 在下面叙述。对于短电缆组件, 推荐时域法, 作为方法 2 叙述。 C 2 谐振法( 方法 1 ) 测量频率f和f , f是短路电 缆组件近端的电 压最小值的频率, 石是开路电 缆组件远端 的电压最大 值的频率。第一 个最大 值或 最小值记为f, 第二记为介,
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