GB-2424.19-1984.pdf
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1、中华人民共和国国家标准 电工电子产品基本环境试验规程 模拟贮存影响的环境试验导则 B a s i c e n v i r o n m e n t a l t e s t i n g p r o c e d u r e s f o r e l e c t r i c a n d e l e c t r o n i c p r o d u c t s UDC 6 2 1 . 3: 6 2 0 . 1 GB 2 4 2 4. 1 9 一 8 4 Gu i d a n c e f o r t h e e n v i r o n me n t a l t e s t s s i m u l a t i
2、n g t h e e f f e c t s o f s t o r a g e 本标准适用于电工电子产品。 制汀本标准的目 的是指导选择合适的贮存试验方法及试验严酷等级。 本标准等效采用国际标准I E C 6 8 一2一 4 8 ( I E C 6 8 号标准的试验方法用于 模拟贮存影响的导 则) ( 1 9 8 2 年第一版)。 1 贮存的定义 本导则中,贮存是指元件、设备或其他产品在非 仁 作状态下 ( 如下列三种条件之一)保存比较长 的时间 ( 几星期至若干年)。 a . 在工业仓库、商业零售库等环境条件下。 b 备用、 应 急用 的设 备或 成套装置。 例如: 火 灾报 警器、 辅
3、助电 动机、 备用发电 机 等。由 于受 周围设备 作的影响,可能经受严酷的环境应力。 c . 需长时间才能安装完的成套设备。例如:大型电话交换机、大型计算机装置、电 站等,其初 始环境比七 作环境严酷得多。 注:应参考与上 述条件有关的环境数据的专业标准。 2 贮存试验的定义和目 的 贮存试验是指产品在规定的贮存寿命期内,模拟一种或多种环境应力对产品的影响。 当 疲劳积累 存在时, 贮存试验可以 用来确定下列问题: a . 贮存是否影响产品在其预定应用中的使用。例如: 兀件引线或印刷电路板的可焊性是否变坏, 是否超过规定的电参数漂移值,是否造成开路或短路; b . 贮存以后,产品卜 作时主要
4、性能或可靠性是否降低; c . 对于应急设备,在长期不工作之后,其准确可靠的运行能力是否受到破坏。 炸:为确定贮存中产品的可靠性或产品贮存后运行的可靠性,应参考电1 电子产品可靠性和维修性标l f i; . 3 贮存条件下的劣化机理和失效类型举例 3 . 1 由于氧化或基体材料和 镀层 之间的扩散过程, 能降低元件引线和印刷电 路板的可焊性。 高 温加 速了这些过程,并形成一个可焊性大为降低的表面。潮湿腐蚀现象也可使可焊性降低,这种腐蚀常由 气 大气中 的污染物质而加速。 3 . 2 湿度变化引起失效机理举例。 3 . 2 . 1 即使在较低温度下,长期低湿作用也可以使某些塑料干 燥。 这些材
5、料经过贮存之后使用时, 其电性能和机械性能都会下降,随之而损坏或失效。 国家标准局1 9 9 4 一 1 2 一 2 4 发布 1 9 8 5 - 0 7一 0 1 实施 GB 2 4 2 4. 1 9 一 9 4 3 . 2 . 2 由于缺少任何的自然效应,贮存期间的高湿作用比工 作期间的高湿作用更危险。 因而在相对 湿度高于8 0 % 的条件下,长期贮存会对产品的性能和可靠性产生有害的影响。 3 . 2 . 3 在反 复出 现峰值的高相对湿度条件下,或在温度交变的一般高湿条件下贮存时, 不完全密封 的容器内部的湿度会逐渐增高。因此,长期贮存之后,由于 温度突然降低,容器内部就会产生凝露。
6、3 . 2 . 4 在高温和高湿条件下贮存的产品, 特别是有机材料会受到霉菌生长的影响。高温和高湿还可 以加速盐雾和工业气体之类的化学作用。 3 . 3 其 他 失效机理举 例 3 . 3 . 1 在高 温环境条件下长期暴露,可使电解电容器和电池组的电解液干涸; 热塑性材料的刚性降 低;防护胶和浸渍蜡变软或蠕变。一般来说,在这种条件 F ,可加速材料的老化。 3 . 3 . 2 在低 温环境条件下长期暴露,可使橡胶、塑料甚至金属件变脆、产生 裂纹和断裂。 一些 密封 件会由于收缩或破裂而损坏。 3 . 3 . 8 在多 尘的大气中长期暴露,可使导体间积聚灰 尘。在潮湿的加速作用下, 会造成绝缘
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