GB-T 3984.2-2004.pdf
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1、GB/ T 3 9 8 4 . 2 -2 0 0 4 / I EC T S 6 0 1 1 0 - 2: 2 0 0 0 前言 G B / T 3 9 8 4 ( 感应加热装置 用电 力电 容器 分为两个部分: 第 1 部分: 总则; 第2部分: 老化试验、 破坏试验和内部熔丝隔离要求。 本部分为G B / T 3 9 8 4的第 2 部分, 本部分等同采用 I E C T S 6 0 1 1 0 - 2 : 2 0 0 0 ( 感应加热装置用电力电 容器第2部分: 老化试验、 破坏试验和内部熔丝隔离要求)(英文版) 。 为便于使用, 本部分对 I E C 6 0 1 1 0 - 2做了下列编
2、辑性修改: 用“ 本部分” 代替“ 本标准” ; 用小数点符号“ ” 代替小数点符号“ , ” ; 删除国际标准的前言。 本部分与J B 7 1 1 0 -1 9 9 3中的相关内容相比主要变化如下: 增加了老化试验项目; 增加了破坏试验项目( 适用于除调谐回路用高频电容器外, 没有装设内部熔丝的感应加热装置 用电力电容器或自愈式感应加热装置用电力电容器) ; 增加 了附录 A的 内容 ; 增加了附录 B的内容。 本部分的附录 A和附录 B均为规范性附录。 本部分由中国电器工业协会提出。 本部分由 全国电 力电 容器标准化技术委员会( C S B T S / T C 4 5 ) 归口 。 本部
3、分起草单位: 西安电力电容器研究所、 新安江电力电容器有限责任公司。 本部分主要起草人: 刘著、 罗建利。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: J B 7 3 2 -1 9 6 5 , J B 7 3 2 - 1 9 7 5 , GB 3 9 8 4 -1 9 8 3 , J B 7 1 1 0 -1 9 9 3 . GB / T 3 9 8 4 . 2 -2 0 0 4 / I EC 1 S 6 0 1 1 0 - 2 : 2 0 0 0 感应加热装置用电力电容器 第 2 部分 : 老化试验、 破坏试验和内部熔丝隔离要求 总则 1 . 1 范 围 GB / T 3 9 8 4的本部分适用
4、于符合G B / T 3 9 8 4 . 1 -2 0 0 4 的电容器, 并给出了这些电容器的老化试验 和破坏试验的要求, 以及内部熔丝隔离试验的要求。 注: 本部分中章和节的编号与GB / T 3 9 8 4 . 1 -2 0 0 4的相对应。 1 . 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过G B / T 3 9 8 4 本部分的引用而成为本部分的条款凡是注日期的引用文件, 其随后所有的修改单( 不包括勘误的内容) 或修订版均不适用于本部分, 然而, 鼓励根据本部分达成协议 的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日 期的引用文件, 其最新版本适用于本部分。 GB / T 3 9
5、 8 4 . 1 -2 0 0 4 感应加热装置用电力电容器第 1 部分: 总则( I E C 6 0 1 1 0 - 1 : 1 9 9 8 , I D T ) 1 . 3定义 本部分采 用 GB/ T 3 9 8 4 . 1 - 2 0 0 4中列 出的所有定义 。 2 质量要求和试验 2 . 1 5 老化试验 老化试验是为了验证在提高的温度和电场强度下所造成的加速损坏不会引起介质过早击穿而进行 的型式试验。 除非另有规定, 试验和测量用电 压的频率应为5 0 H z 或6 0 H z . 老化试验应对至少两单元进行。 试验单元可为生产单元或模型单元, 模型单元在老化试验所要检验的性能方面
6、与生产单元是等 效 的。 对模型单元设计的限制在附录B中详细叙述 2 . 1 5 . 1 试验准备和初始测量 老化试验期间介质的温度应至少等于铭牌上规定的冷却媒质的上限温度加上生产单元在热稳定试 验结束时测得的介质温升, 或 6 0 C, 取两者中较高者。 在该试验过程中, 应将试验单元放人一个强迫空气循环的烘箱中, 其端子竖立向上垂直放置, 调节 烘箱环境温度使介质能达到所要求的温度。该环境温度应保持恒定, 允许波动范围为一2 K一十5 K, 在施加电压前, 应将试验单元在这一温度下稳定至少 1 2 h o 然后应在相同的温度下对单元施加 U N e测量电容和损耗角正切( 见 G B / T
7、 3 9 8 4 . 1 -2 0 0 4的2 . 3 和 2 . 4 ) 注: 介质温度可用热电偶测量, 或者根据热稳定试验结束时测得的电容用电容与温度的关系曲线来估算, 或从以前 确定的内部温度和外部温度之间的关系来估算, 例如使用J B / T 8 9 5 7中所述的由电阻性模拟电容器得出的内 部温度和外部温度之间的关系 2 . 1 5 . 2试验方法 单元应在工频 1 . 2 5 U、 下通电 1 0 0 0 h , 或在 1 . 3 5 U 、 下通电5 0 0 h , 由制造厂选择。 由于本试验的持续时间长, 因此允许电压中断。在电压中断期间, 单元应保持在可控制的环境温度 中。如
8、果烘箱断电, 则在单元重新施加电压前应再放置至少 1 2 h , 使其再次达到环境温度。 GB / T 3 9 8 4 .2 -2 0 0 4 / I E C T S 6 0 1 1 0 - 2: 2 0 0 0 2 . 1 5 . 3 最后 电容和损耗角正切测 量 在完成老化试验的两天内, 应在相同温度、 相同电压和相同频率下重复 2 . 1 5 . 1 的测量。 2 . 1 5 . 4 验收准则 如果没有发生击穿, 则认为试验单元成功地通过了老化试验。 电容测量值与 2 . 1 5 . 1 的测量值之差, 对于非自愈式电容器应不大于相当于一个元件击穿或一根内 部熔丝动作之量, 对于自愈式电
9、容器应不大于2 X. 损耗角正切测量值应不超过制造厂所述的最大值。 当对两单元进行试验时, 应没有单元损坏( 击穿、 过大的电容变化或超限值的损耗角正切) 方可接 受; 当对三单元进行试验时, 有一单元损坏可以接受。 2 . 1 6 破坏试验 这类电容器大多数已传统上采用内部熔丝、 压力指示器或隔离器加以保护。 对于调谐回路( 换流器) 用的高频非自愈式电容器, 可制成没有任何保护的装置: 由回路的失谐而断 开电源回路来提供保护。破坏试验不适用于这类电容器。 本试验也不适用于具有内部熔丝的非自愈式电容器, 对内部熔丝进行隔离试验( 见2 . 1 9 ) . 除调谐回路用高频电容器外, 如果没有
10、装设内部熔丝, 或如果电容器为自愈式的, 则必须按下列程 序进行破坏试验。 2 . 1 6 , 1 试验程序 试验应对电容器单元进行。 当由制造厂确定时, 可以使用已通过老化试验的单元。 试验的原理是用高内阻的直流电源促使元件损坏, 随后施加交流电压, 检验电容器的性能。 对于没有内部熔丝的非自愈式电容器可以按附录 A中给出的各种方法来促使元件损坏。制造厂 选择其中之一 电容器应放置在具有温度等于电容器温度类别最高环境空气温度的空气循环的烘箱中。 当电容器的所有部分均达到烘箱的温度后, 按图 1 给出的电路进行下面的试验程序。 如果电容器是用过压力指示器代替图1中的熔断器来进行保护的, 则应使
11、用由过压力指示器控制 的断路器。 带有温度开关或制造厂与用户商定的其他指示器者, 应采用同样的方法。 a ) 将选择开关 H和K分别置于位置 1 和 a , 将交流电源电压整定到 1 . 3 UN , 并记录电容器电流。 b ) 将直流电源电压整定到制造厂所述的值, 然后将开关 H置于位置 2 , 调节可变电阻器使直流 短路电 流为3 0 0 m A , C ) 将开关 H置于位置3 , 开关 K置于位置 b , 对电容器施加直流试验电压。维持该状态, 直到电 压表 V指示大约为零, 并保持 3s -5s 为止。 d ) 然后将开关K置于位置a , 再次对电容器施加试验电压( 1 . 3 U
12、N ) , 历时5 m i n , 在此期间再次记 录电流 内Jl几11 / ) T(d.a ) 创 / 】0 “ ) 图 1 进行破坏试验的电路 GB / T 3 9 8 4 甲 2 -2 0 0 4 / I E C飞 56 0 1 1 0 - 2 : 2 0 0 0 可能出现下述情况: 电流表I 和电压表 U两者均指示为零。在这种情况下应检查熔断器F , 如果已熔断, 则应予以 更换。接着对电容器施加相同交流电压, 如果熔断器再次熔断, 则终止程序; 如果熔断器不熔 断, 则仅使用开关 K继续进行项 c ) 和项 d ) 所规定的程序。 电流表I 指示的电流为零, 而电压表 U指示1 .
13、3 U N , 在这种情况下, 终止程序。 电流表 I 指示的电流大于零, 在这种情况下继续进行项 b ) 、 项c ) 和项 d ) 的程序。 中断程序后, 将电容器冷却到环境温度, 并按照 G B / T 3 9 8 4 . 1 -2 0 0 4的2 . 6进行端子与外壳间电 压试 验。 交流电源在电容器端子上的短路电流 应大于5 I _( 见G B / T 3 9 8 4 . 1 -2 0 0 4 的1 . 3 . 2 0 ) , 熔断器的额定电流I F 应 不小于2 I m e 2 . 1 6 . 2 试验要求 试验结束时, 电容器外壳应完整无损, 只有在满足下列条件的前提下, 才允许
14、排气孔正常动作或外 壳有较小损伤( 0裂纹) 。 a ) 逸出的液体材料可以浸湿电容器外表面, 但不得滴落。 b ) 电容器的外壳可以变形和损伤, 但不得爆裂。 c ) 不应有火焰和( 或) 火星从开口处喷出。这可用纱布( 粗棉布) 将电容器裹起来的方法来检验, 纱布燃烧或烤焦作为失效的判据 2 . 1 7 内部熔丝隔离试验 2 .1 7 . 1 概述 本试验用来代替具有内部熔丝的非 自愈式电容器的破坏试验( 见2 . 1 6 ) . 熔丝与元件串联连接, 一旦元件发生故障, 则用此熔丝来断开。因此熔丝的电流与电压的范围取决 于电容器的设计, 在有些情况下也取决于熔丝接人的电容器组。 通常,
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