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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-9 Edition 1.1 2001-03 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-9: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit au champ magntique impulsionnel Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-9: Testing and measurement techniques Pulse magnet
2、ic field immunity test Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-9:1993+A1:2000 Edition 1:1993 consolide par lamendement 1:2000 Edition 1:1993 consolidated with amendment 1:2000 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided
3、 by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:27:55 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de
4、 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base inc
5、orporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs c
6、ette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publica
7、tion, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux
8、 critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications par
9、ues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact a
10、vec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now
11、publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The tech
12、nical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendme
13、nts and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publication
14、s The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as w
15、ell as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need furt
16、her assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02
17、:27:55 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-9 Edition 1.1 2001-03 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-9: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit au champ magntique impulsionnel Electromagne
18、tic compatibility (EMC) Part 4-9: Testing and measurement techniques Pulse magnetic field immunity test Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Co
19、pyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or uti
20、lized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.c
21、h CODE PRIX PRICE CODEU Edition 1:1993 consolide par lamendement 1:2000 Edition 1:1993 consolidated with amendment 1:2000 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001,
22、 User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:27:55 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61000-4-9 CEI:1993+A1:2000 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS6 INTRODUCTION.10 Articles 1 Domaine dapplication 12 2 Rfrences normatives.12 3 Gnralits.14 4 Dfinitions 14 5 Nivea
23、ux dessais 16 6 Matriel dessai 16 6.1Gnrateur dessai18 6.2Bobine dinduction.20 6.3Instrumentation dessai et instrumentation auxiliaire24 7 Installation dessai24 7.1Plan de sol 26 7.2Equipement en essai.26 7.3Gnrateur dessai26 7.4Bobine dinduction.26 8 Procdure dessai.28 8.1Conditions de rfrence du l
24、aboratoire28 8.2Excution de lessai.28 9 Evaluation des rsultats dessai .30 10Rapport dessai 32 Annexe A (normative) Mthode dtalonnage des bobines dinduction40 Annexe B (normative) Caractristiques des bobines dinduction.42 Annexe C (informative) Slection des niveaux dessais54 Annexe D (informative) I
25、nformations sur lintensit des champs magntiques 58 Figure 1 Exemple dapplication du champ par la mthode par immersion.34 Figure 2 Forme donde de courant produite par le gnrateur dessai pour le champ magntique impulsionnel (6,4/16 s)34 Figure 3 Schma du gnrateur dessai produisant le champ magntique i
26、mpulsionnel (6,4/16 s)34 Figure 4 Exemple dinstallation dessai pour matriel de table36 Figure 5 Exemple dinstallation dessai pour matriel pos au sol 36 Figure 6 Exemple de recherche de susceptibilit aux champs magntiques par la mthode de proximit38 Figure 7 Reprsentation des bobines de Helmholtz38 C
27、opyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:27:55 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61000-4-9 IEC:1993+A1:2000 3 CONTENTS Page FOREW
28、ORD.7 INTRODUCTION.11 Clause 1 Scope.13 2 Normative references .13 3 General 15 4 Definitions 15 5 Test levels17 6 Test equipment.17 6.1Test generator.19 6.2Induction coil.21 6.3Test and auxiliary instrumentation .25 7 Test set-up.25 7.1Ground (reference) plane 27 7.2Equipment under test 27 7.3Test
29、generator.27 7.4Induction coil.27 8 Test procedure .29 8.1Laboratory reference conditions 29 8.2Carrying out the test29 9 Evaluation of test results 31 10Test report33 Annex A (normative) Induction coil calibration method .41 Annex B (normative) Characteristics of the induction coils .43 Annex C (in
30、formative) Selection of the test levels 55 Annex D (informative) Information on magnetic field strength.59 Figure 1 Example of application of the test field by the immersion method 35 Figure 2 Current waveform of the test generator for pulse magnetic field (6,4/16 s). 35 Figure 3 Schematic circuit o
31、f the test generator for pulse magnetic field (6,4/16 s) 35 Figure 4 Example of test set-up for table-top equipment 37 Figure 5 Example of test set-up for floor-standing equipment 37 Figure 6 Example of investigation of susceptibility to magnetic field by the proximity method 39 Figure 7 Illustratio
32、n of Helmholtz coils. 39 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:27:55 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61000-4-9 CEI:1993+A
33、1:2000 Pages Figure B.1 Caractristiques du champ engendr dans son plan par une spire dinduction carre (1 m de ct)46 Figure B.2 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans son plan par une spire dinduction carre (1 m de ct)46 Figure B.3 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen
34、 (composante orthogonale au plan de la spire) par une spire dinduction carre (1 m de ct) 48 Figure B.4 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen (composante orthogonale au plan des spires) par deux spires dinduction carres (1 m de ct) espaces de 0,6 m48 Figure B.5 Zones des
35、3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen (composante orthogonale au plan des spires) par deux spires dinduction carres (1 m de ct) espaces de 0,8 m50 Figure B.6 Zone des 3 dB pour le champ engendr dans son plan par une spire dinduction rectangulaire (1 m 2,6 m) .50 Figure B.7 Zone de
36、s 3 dB pour le champ engendr dans son plan par une spire dinduction rectangulaire (1 m 2,6 m), le plan de sol tant considr comme un ct de la bobine.52 Figure B.8 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen (composante orthogonale au plan de la spire) par une spire dinduction r
37、ectangulaire (1 m 2,6 m) 52 Tableau 1 Niveaux dessais .16 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:27:55 MSTNo reproduction or networking permitted without license from
38、 IHS -,-,- 61000-4-9 IEC:1993+A1:2000 5 Page Figure B.1 Characteristics of the field generated by a square induction coil (1 m side) in its plane . 47 Figure B.2 3 dB area of the field generated by a square induction coil (1 m side) in its plane . 47 Figure B.3 3 dB area of the field generated by a
39、square induction coil (1 m side) in the mean orthogonal plane (component orthogonal to the plane of the coil) 49 Figure B.4 3 dB area of the field generated by two square induction coils (1 m side) 0,6 m spaced, in the mean orthogonal plane (component orthogonal to the plane of the coils) 49 Figure
40、B.5 3 dB area of the field generated by two square induction coils (1 m side) 0,8 m spaced, in the mean orthogonal plane (component orthogonal to the plane of the coils) 51 Figure B.6 3 dB area of the field generated by a rectangular induction coil (1 m 2,6 m) in its plane . 51 Figure B.7 3 dB area
41、of the field generated by a rectangular induction coil (1 m 2,6 m) in its plane (ground plane as a side of the induction coil) 53 Figure B.8 3 dB area of the field generated by a rectangular induction coil (1 m 2,6 m) with ground plane, in the mean orthogonal plane (component orthogonal to the plane
42、 of the coil) 53 Table 1 Test levels 17 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:27:55 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 6 61000
43、-4-9 CEI:1993+A1:2000 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-9: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit au champ magntique impulsionnel AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisat
44、ion compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie
45、 des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE
46、I collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur
47、les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes intern
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