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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-27 Premire dition First edition 2000-08 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-27: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux dsquilibres Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-27: Testing and measurement techniques Unbalanc
2、e, immunity test Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-27:2000 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 2
3、2:57:37 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numros des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendeme
4、nts sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publicatio
5、ns de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le
6、comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CEI Disponible la fois au s
7、ite web de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnr
8、al approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web s
9、ur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively
10、, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current tech
11、nology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications iss
12、ued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, rea
13、ders are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols f
14、or use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie
15、Not for Resale, 03/09/2007 22:57:37 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-27 Premire dition First edition 2000-08 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-27: Techniques dessai et de mesure Essai dimmu
16、nit aux dsquilibres Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-27: Testing and measurement techniques Unbalance, immunity test Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2000 Droits de
17、 reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication m
18、ay be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC w
19、eb site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODES PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 22:57:37 MSTNo reproduction o
20、r networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61000-4-27 CEI:2000 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS . 4 INTRODUCTION 8 Articles 1Domaine dapplication et objet 10 2Rfrences normatives. 10 3Dfinitions 12 4Gnralits 12 5Niveaux dessai 14 6Matriels dessai 14 6.1Gnrateurs dessai 14 6.2Vrification des
21、caractristiques des gnrateurs dessai 16 7Installation dessai 16 8Procdures dessai. 18 8.1Conditions de rfrence en laboratoire 18 8.2Excution des essais 18 9Evaluation des rsultats dessai 20 10Rapport dessai 20 Annex A (informative) Sources, effets et mesure du dsquilibre . 28 Annex B (informative) C
22、alcul du taux de dsquilibre. 34 Annex C (informative) Informations sur les niveaux dessai 36 Annex D (Informative) Classes denvironnement lectromagntique. 38 Bibliographie 40 Figure 1 Exemple de tension dalimentation triphase dsquilibre (essai 3). 24 Figure 2 Succession de trois combinaisons de dsqu
23、ilibre dans lessai (les tensions Ua, Ub, Uc sont alternes). 24 Figure 3 Schma de linstrumentation dessai au dsquilibre 26 Figure A.1 Vecteurs de tension dsquilibre. 30 Figure A.2 Composantes des vecteurs dsquilibrs de la figure A.1 . 30 Tableau 1 Niveaux dessai . 14 Tableau 2 Caractristiques du gnra
24、teur 16 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 22:57:37 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61000-4-27 IEC:2000 3 CONTENTS Page FOR
25、EWORD 5 INTRODUCTION 9 Clause 1Scope and object . 11 2Normative references. 11 3Definitions 13 4General 13 5Test levels . 15 6Test equipment 15 6.1Test generators. 15 6.2Verification of the characteristics of the test generators . 17 7Test set-up. 17 8Test procedures. 19 8.1Laboratory reference cond
26、itions 19 8.2Execution of the test . 19 9Evaluation of test results 21 10Test report . 21 Annex A (informative) Sources, effects and measurement of unbalance. 29 Annex B (informative) Calculation of the degree of unbalance 35 Annex C (informative) Information on test levels 37 Annex D (informative)
27、Electromagnetic environment classes 39 Bibliography . 41 Figure 1 Example of unbalanced three-phase supply voltage (Test 3). 25 Figure 2 Succession of three unbalance sequences of the test (the voltages Ua, Ub, Uc rotate) 25 Figure 3 Schematic diagram of test instrumentation for unbalance . 27 Figur
28、e A.1 Unbalanced voltage vectors 31 Figure A.2 Components of the unbalanced vectors in figure A.1 . 31 Table 1 Test levels 15 Table 2 Characteristics of the generator. 17 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User
29、=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 22:57:37 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61000-4-27 CEI:2000 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-27: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux dsquilibres
30、AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de norma
31、lisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internation
32、ales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de
33、la CEI concernant des questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationa
34、les; ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les
35、Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dappro
36、bation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre te
37、nue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61000-4-27 a t tablie par le sous-comit 77A: Phnomnes basse frquence, du comit dtudes 77 de la CEI: Compatibilit lectromagntique. Elle constitue la partie 4-2
38、7 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en CEM conformment au Guide 107 de la CEI. Le texte de la prsente norme est issu des documents suivants: FDISRapport de vote 77A/308/FDIS77A/314/RVD Le rapport de vote mentionn dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vo
39、te ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Les annexes A, B, C et D sont donnes uniquement titre dinformation. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/111111
40、1001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 22:57:37 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61000-4-27 IEC:2000 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) Part 4-27: Testing and measurement techniques Unbalance, immunit
41、y test FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardisati
42、on in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. In
43、ternational, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Standardization Organization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The f
44、ormal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3)The documents produced have the form of recommenda
45、tions for international use published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standar
46、ds transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard an the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot
47、be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 61000-4-27 has been prepared by subcommittee 77A: Low- frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility. It forms part 4-27 of IEC 61000. It has the status of basic EMC publication in ac
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