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1、 NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-34 Premire dition First edition 2005-10 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-34: Techniques dessai et de mesure Essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension pour matriel ayant un courant appel de plu
2、s de 16 A par phase Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-34: Testing and measurement techniques Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current more than 16 A per phase Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-34:2005 PUBLICATIO
3、N FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les am
4、endements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le c
5、ontenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditio
6、ns, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publi
7、cations de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les no
8、uvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) p
9、our plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all
10、IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publi
11、cation, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. In
12、formation relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has p
13、repared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches,
14、 technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by ema
15、il. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .
16、 NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-34 Premire dition First edition 2005-10 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-34: Techniques dessai et de mesure Essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension pour matriel ayant un courant appel de plu
17、s de 16 A par phase Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-34: Testing and measurement techniques Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current more than 16 A per phase Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogu
18、e IEC 2005 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part o
19、f this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Tele
20、phone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE V Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION 2 61000-4-34 CEI:2005 SOMMAIRE AVANT-PROPOS6 INTROD
21、UCTION.10 1 Domaine dapplication 12 2 Rfrences normatives.12 3 Termes et dfinitions14 4 Gnralits.16 5 Niveaux dessai 18 5.1 Creux de tension et coupures brves 18 5.2 Variations de tension (facultatif) 20 6 Instruments dessai 24 6.1 Gnrateur dessai24 6.2 Source dnergie .26 7 Montage dessai .26 8 Proc
22、dures dessai.26 8.1 Conditions de rfrence en laboratoire28 8.2 Excution des essais.30 9 Evaluation des rsultats dessai34 10 Rapport dessai 34 Annexe A (normative) Valeur crte du courant dappel dexcitation du gnrateur dessai38 Annexe B (informative) Classes denvironnement lectromagntique.42 Annexe C
23、(informative) Vecteurs de tension pour les essais triphass.44 Annexe D (informative) Instrumentation dessai .56 Bibliographie.62 Figure 1 Creux de tension figure montrant la forme donde dun creux de tension de 70 % 22 Figure 2 Variation de tension .22 Figure 3a Essai phase-neutre des systmes triphas
24、s.32 Figure 3b Essais phase-phase des systmes triphass mthode acceptable 132 Figure 3c Essais phase-phase des systmes triphass mthode acceptable 232 Figure 3d Solution non acceptable essai phase-phase sans dphasage32 Figure A.1 Circuit utilis pour dterminer le courant dappel crte du gnrateur de coup
25、ures brves 40 Figure C.1 Vecteurs de creux de tension phase-neutre 44 Figure C.2 Vecteurs de creux de tension phase mthode acceptable 1 .48 Figure C.3 Vecteurs de creux de tension phase-phase mthode acceptable 2 52 Figure D.1 Schma dun exemple dinstruments dessai pour les creux de tension, les coupu
26、res brves et les variations de tension laide de transformateurs variables et de commutateurs 56 -,-,- 61000-4-34 IEC:2005 3 CONTENTS FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 1 Scope.13 2 Normative references .13 3 Terms and definitions .15 4 General 17 5 Test levels19 5.1 Voltage dips and short interruptions 19 5
27、.2 Voltage variations (optional)21 6 Test instrumentation.25 6.1 Test generator.25 6.2 Power source 27 7 Test set-up.27 8 Test procedures .27 8.1 Laboratory reference conditions 29 8.2 Execution of the test31 9 Evaluation of test results 35 10 Test report35 Annex A (normative) Test generator peak in
28、rush current drive capability .39 Annex B (informative) Electromagnetic environment classes43 Annex C (informative) Vectors for three-phase testing .45 Annex D (informative) Test instrumentation .57 Bibliography63 Figure 1 Voltage dip 70 % voltage dip sine wave graph.23 Figure 2 Voltage variation 23
29、 Figure 3a Phase-to-neutral testing on three-phase systems.33 Figure 3b Phase-to-phase testing on three-phase systems Acceptable Method 1 phase shift33 Figure 3c Phase-to-phase testing on three-phase systems Acceptable Method 2 phase shift33 Figure 3d Not acceptable phase-to-phase testing without ph
30、ase shift33 Figure A.1 Circuit for determining inrush current drive capability41 Figure C.1 Phase-to-neutral dip vectors.45 Figure C.2 Acceptable Method 1 phase-to-phase dip vectors 49 Figure C.3 Acceptable Method 2 phase-to-phase dip vectors 53 Figure D.1 Schematic of example test instrumentation f
31、or voltage dips and short interruptions using tapped transformer and switches.57 -,-,- 4 61000-4-34 CEI:2005 Figure D.2 Application de lexemple dinstruments dessai indiqu la Figure D.1 pour crer la mthode acceptable 1 des vecteurs des Figures C.1, C.2, 4a et 4b58 Figure D.3 Schma dun exemple dinstru
32、ments dessai pour les creux de tension triphass, les coupures brves et les variations de tension laide dun amplificateur de puissance 60 Tableau 1 Dures et niveaux dessai prfrs pour les creux de tension20 Tableau 2 Dures et niveaux dessai prfrs pour les coupures brves20 Tableau 3 Dure des variations
33、 de tension dalimentation court terme 20 Tableau 4 Spcifications du gnrateur .24 Tableau A.1 Courant dappel minimal admissible .38 Tableau C.1 Valeur des vecteurs pour des creux de tension phase neutre.46 Tableau C.2 Vecteurs de creux de tension phase mthode acceptable 1 50 Tableau C.3 Vecteurs de c
34、reux de tension phase-phase mthode acceptable 254 61000-4-34 IEC:2005 5 Figure D.2 Applying the example test instrumentation of Figure D.1 to create the Acceptable Method 1 vectors of Figures C.1, C.2, 4a and 4b 59 Figure D.3 Schematic of example test instrumentation for three-phase voltage dips, sh
35、ort interruptions and voltage variations using power amplifier61 Table 1 Preferred test level and durations for voltage dips.21 Table 2 Preferred test level and durations for short interruptions .21 Table 3 Timing of short-term supply voltage variations.21 Table 4 Generator specifications25 Table A.
36、1 Minimum peak inrush current capability39 Table C.1 Vector values for phase-to-neutral dips47 Table C.2 Acceptable Method 1 vector values for phase-to-phase dips .51 Table C.3 Acceptable Method 2 vector values for phase-to-phase dips .55 -,-,- 6 61000-4-34 CEI:2005 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERN
37、ATIONALE _ COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-34: Techniques dessai et de mesure Essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension pour matriel ayant un courant appel de plus de 16 A par phase AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) es
38、t une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet eff
39、et, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tou
40、t Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditio
41、ns fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtu
42、des. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut
43、 tre tenue responsable de lventuelle fausse utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure du possible, appliquer de faon transparente les Publicat
44、ions de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indicati
45、on dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs,
46、 auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels ou matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les
47、 cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui es accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent f
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