IEC-61115-1992.pdf
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1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1115 Premiere dition First edition 1992-03 Expression des qualits de fonctionnement des systmes de manipulation dchantillon pour analyseurs de processus Expression of performance of sample handling systems for process analyzers Numro de reference R
2、eference number CEMEC 11 15: 1992 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 22:32:08 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numros des pu
3、blications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement
4、la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des
5、renseignements relatifs la date de re- confirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se
6、trouvent dans les documents ci-dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au 4 t e web, de la CEI et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symboles graphiques et littraux En c
7、e qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique international (VE I). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en le
8、ctrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles. et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse 4 t e web, sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued wit
9、h a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1 .I and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the bas
10、e publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is av
11、ailable in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical com- mittee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publ
12、ications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60 050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). Fo
13、r graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 606
14、17: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 22:32:08 MSTNo reproduction or networking permitted with
15、out license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1115 Premire dition First edition 1992-03 Expression des qualits de fonctionnement des systmes de manipulation dchantillon pour analyseurs de processus Expression of performance of sample handling systems for process anal
16、yzers 0 CE1 1992 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Auwne partie de cene publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que sol et par auwn proced, lectronique ou mcanique. y compris la photocopie et les microfilms. sans raccord crit de Iditeur. No pari
17、 of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, induding photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varemb Genve Suisse Commission Ele
18、ctrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission MemnvHaponHan 3 n e p o e x e c a HOMHCCHR I W CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECL
19、icensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 22:32:08 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- -2- SOMMAI RE CE1 11150CEI Pages AVANT-PROPOS 4 INTRODUCTION . 6 Articles Domaine dapplication et objet . 1.1 Domaine dapplication 1.2 Obj
20、et Rfrences normatives 2.1 Normes CE1 . 2.2 Normes IS0 . Dfinitions 3 . 1 Dfinitions gnrales 3.2 Termes lis aux conditions de fonctionnement. de transport et de stockage . 3.3 Termes lis la spcification des qualits de fonctionnement des systmes de manipulation dchantillon et des composants des systm
21、es de manipulation dchantillon Prsentation des caractristiques 4.1 4.2 4.3 Caractristiques concernant les prescriptions applicables a un systme Caractristiques concernant les prescriptions pour un systme de manipulation dchantillon (constructeur danalyseur de processus) Caractristiques concernant le
22、s composants du systme de manipulation dchantillon (constructeur de composants du systme de manipulation Caractristiques concernant les systmes de manipulation dchantillon (constructeur de systmes de manipulation dchantillon) Caractristiques des qualits de fonctionnement particulires de conditionnem
23、ent dchantillon (utilisateur) dchantillon) . 4.4 4.5 8 8 10 10 12 12 12 12 24 26 36 38 40 42 42 44 Annexes A Objet. fonctions et proprits des systmes de manipulation dchantillon . 48 B C Groupes dexploitation et tendues limites dexploitation. de stockage et de transport . Vrification des constantes
24、de temps dun systme de mesure pour analyse de processus . 64 58 D Index des termes dfinis 66 E Bibliographie 70 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 22:32:08 MSTNo rep
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