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1、IEC B L b 84 m 4844871 0082738 b m Publication 816 - - - I r- - C O M M I S S I O N LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE RAPPORT DE LA CE1 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL C O M M I S S I O N I E C REPORT Publication 816 Premire dition - First edition 1984 Guide sur les mthodes de mesure des transitoires de
2、 courte dure sur les lignes de puissance et de contrle basse tension Guide on methods of measurement of short duration transients on low voltage power and signal lines O CE1 1984 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights resewed Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internati
3、onale Genve, Suisse 3, rue de Varemb Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 05:05:19 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- - IEC B i
4、b 84 484Ll8L 0082739 B M Rvision de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la Commission afin dassurer quil reflte bien ltat actuel de la technique. Les renseignements relatifs ce travail de rvision, lta- blissement des ditions rvises et aux m
5、ises jour peuvent tre obtenus auprk des Comits nationaux de la CE1 et en consultant les documents ci-dessous: O Bulletin de la CE1 O Annuaire de la CE1 O Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement Revision of this publication The technical content of IEC publications is kept under const
6、ant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information on the work of revision, the issue of revised editions and amendment sheets may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: O IEC Bulletin O IEC Yearbook O Catalogue of IEC
7、 Publications Published yearly Terminologie Terminology En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se For general terminology, readers are referred to IEC Publi- reportera la Publication 50 de la CEI: Vocabulaire Electro- cation 50: International Electrotechnical Vocabulary (IEV), techniq
8、ue International (VEI), qui est tablie sous forme de which is issued in the form of separate chapters each dealing chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini, lIndex with a specific field, the General Index being published 2s a gnral tant publi sparment. Des dtails complets sur le separate book
9、let. Full details of the IEV will be supplied VE1 peuvent tre obtenus sur demande. on request. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publication The terms and definitions contained in the present publica- ont t soit repris du VEI, soit spcifiquement approuvs tion have either been taken f
10、rom the IEV or have been aux fins de cette publication. specifically approved for the purpose of this publication. Symboles graphiques et littraux Graphical and letter symbols Pour les symboles graphiques, symboles littraux et signes For graphical symbols, and letter symbols and signs ap- dusage gnr
11、al approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la Publication 27 de la CEI: Symboles littraux utiliser proved by the IEC for general use, readers are referred to: - IEC Publication 27: Letter symbols to be used in electrical en lectrotechnique; technology; - la Publication 617 de la CEI: Symboles
12、graphiques pour - IEC Publication 617: Graphical symbols for diagrams. schmas. Les symboles et signes contenus dans la prsente publica- The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC Publications 27 or 617, or have been specifically approved for the purpos
13、e of this publi- cation. tion ont t soit repris des Publications 27 ou 617 de la CEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publications de la CE1 tablies par le mme Comit dEtudes Technical Committee I E C publications prepared by the same Lattention du lecteur est attire sur la
14、 page 3 de la cou- verture, qui numre les publications de la CE1 prpares par le Comit dEtudes qui a tabli la prsente publication. The attention of readers is drawn to the inside of the back cover, which lists IEC publications issued by the Technical Committee which has prepared the present publicati
15、on. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 05:05:19 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- IEC 8 L b 84 4844872 0082740 4 C O M M I S
16、S I O N LECTROTECHNIQUE I N T E R N A T I O N A L E R A P P O R T DE L A CE1 I N T E R N A T I O N A L ELECTROPECHNICAL C O M M I S S I O N IEC R E P O R T Publication 816 Premire dition - First edition 1984 Guide sur les mthodes de mesure des transitoires de courte dure sur les lignes de puissance
17、et de contrle basse tension Guide on methods of measurement of short duration transients on IQW voltage power and signal lines O GEI 1984 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soi
18、t et par aucun procd. lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms. sans laccord crit de lditeur. No pan of this publication may be reproduced or utilied in any form or by any means, elecironic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing f
19、rom the publisher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale Genve, Suisse 3, rue de Varemb Prix price FLS. 96.- . ;-.-.- ._ Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Re
20、sale, 03/08/2007 05:05:19 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- . 2.- SOMMAIRE 816 O CE1 1984 PREAMBULE PRFACE . INTRODUCTION . Articles 1 . 2 . 3 . 4 . 5 . 6 . Domaine dapplication . Caractristiques des transitoires . 2.1 Transitoires produits par lenvironnement
21、. 2.2 Transitoires produits par des appareils lectriques. 2.3 Paramtres mesurer . Caractristiques des mcanismes de couplage entre les sources de transitoires et les systmes potentiellement susceptibles 3.1 Modes de propagation Susceptibilit/Immunit 4.1 Dtriorations - 1 4.2 Mauvais fonctionnement . I
22、nstrumentation 5.1 Obtention des donnes statistiques sur les paramtres des transitoires . 5.2 Compteur de transitoires 5.3 Voltmtre de crte . 5.4 Autres paramtres 5.5 Enregistrement et analyse de la forme donde 5.6 Mesure de lnergie des transitoires . ; 5.7 Mesures dans le domaine frquentiel 5.8 Dis
23、positifs de cot modique Techniques de mesure . 6.1 Mesure des transitoires conduits . 6.2 Mesure des transitoires rayonns . FIGURES ANNEXE A - Mthode permettant de mesurer les missions conduites de transitoires . ANNEXE B - Impdance dentre de lquipement . ANNEXE C - Exemple de sonde de mesure Biblio
24、graphie et rfrences . . . Pages 4 4 6 6 8 8 8 8 14 16 18 18 20 22 22 24 24 26 26 36 38 44 44 46 60 62 76 82 88 90 + - . . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 05:05:19
25、 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- IEC 816 84 4844873 0082742 816 O IEC 1984 - 3 - CONTENTS FOREWORD PREFACE INTRODUCTION . Clause 1 . Scope 2 . Characteristics of transients . 2.1 Environment-produced transients . 2.2 Appliance-produced transients . 2.3 Param
26、eters to be measured 3 . Characteristics of mechanisms of coupling between transient sources and potentially susceptible .devices . 3.1 Propagation modes . 4 . Susceptibility/Immunity 4.1 Damage effects 4.2 Malfunction effects . . 5 . Instrumentation 5.1 Obtaining statistical data on parameters of t
27、ransients 5.2 Transient counter 5.3 Peak voltmeter . 5.4 Other parameters . 5.5 Waveform recording and analysis 5.6 Transient energy measurements 5.7 Frequency domain measurement . 5.8 Special inexpensive devices . 6.1 Measurement of conducted transients 6.2 Measurement of radiated transients 6 . Me
28、asurement techniques FIGURES APPENDIX A . Method for measuring transient conducted emissions APPENDIX B . Equipment input impedance . , . APPENDIX C . Example of a monitoring probe . Bibliography and references Page 5 5 7 15 17 19 19 21 23 23 25 25 27 27 37 39 45 45 47 61 62 77 83 89 90 . * : - Copy
29、right International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 05:05:19 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- IEC 81b 84 W 4844871 0082743 T W -4- 816 O CE1 1984
30、 - COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE GUIDE SUR LES MTHODES DE MESURE DES TRANSITOIRES DE COURTE DURE SUR LES LIGNES DE PUISSANCE ET DE CONTRLE BASSE TENSION PREAMBULE 1) Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits #Etudes OU
31、sont reprsents tous les Comits, nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. 3) Dans le but denco
32、urager lunification internationale, la CE1 exprime le vu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure OU les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale corr
33、espondante doit, dans la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. PRFACE Le prsent rapport a t tabli par le Comit dEtudes no 77 de la CEI: Compatibilit lectromagntique entre les matriels lectriques y compris les rseaux. Le texte de ce rapport est issu des documents suivan
34、ts: I Rgle des Six Mois I Rapport de vote I 77(BC)20 77(BC)21 Pour de plus amples renseignements, consulter le rapport de vote mentionn dans le tableau ci-dessus. . . . .- Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, Use
35、r=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 05:05:19 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 816 O IEC 1984 - 5 - INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Six Months Rule 77(C0)20 GUIDE ON METHODS OF MEASUREMENT OF SHORT DURATION TRANSIENTS ON LOW VOLTAGE POWER AND S
36、IGNAL LINES Report on Voting 77(C0)21 FOREWORD 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international corisensus o
37、f opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt . the text of th
38、e IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter. PREFACE This report has been prepared by IEC Technical Commit
39、tee No. 77: Electromagnetic Compatibility between Electrical Equipment including Networks. The text of this report is based on the following documents: Further information can be found in the Report on Voting indicated in the table above. . Copyright International Electrotechnical Commission Provide
40、d by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 05:05:19 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- - 6 - 816 O CE1 1984 GUIDE SUR LES MTHODES DE MESURE DES TRANSITOIRES DE COURTE DURE SUR LES LIGNES DE PUI
41、SSANCE ET DE CONTROLE BASSE TENSION INTRODUCTION Les transitoires apparaissant sur les lignes de puissance et de contrle peuvent produire divers effets, allant de dgradations mineures du fonctionnement des matriels une rupture catastrophique de l?isolant. Ils ont une grande varit de formes d?ondes q
42、ui dpendent du mcanisme de leur formation. En outre, ceux qui sont dus l?ouverture et la fermeture d?un circuit alternatif auront une forme qui dpend du moment exact dans le cycle o la commutation a lieu, mais ils peuvent avoir, de plus, des caractristiques de formes d?ondes microscopiques (dtailles
43、) et macroscopiques (globales) trs compliques. Du fait qu?ils se produisent de faon alatoire, il est tris difficile de bien mesurer les transitoires. La dcouverte de nouvelles techniques pour la conception et la fabrication de systmes a accru la volont d?identifier avec plus de prcision les effets d
44、es transitoires. En particulier, un dispositif semi-conducteur peut tre sensible une surtension d?une dure trs courte (nanosecondes). Du fait des variations des formes d?ondes, il faut mesurer un grand nombre de paramtres pour avoir une mesure prcise d?un transitoire donn. Mme si l?on mesure la form
45、e d?onde exacte d?un transitoire, pour le matriser, il faut dcrire ce transitoire l?aide d?un nombre dtermin de paramtres. Le choix de ces paramtres et leur plage de valeurs est encore matire spculations. La mthode de mesure approprie est encore considre par certains comme une question ouverte. Les
46、quipements de test modernes permettent des mesures encore inexistantes dans un pass rcent, mais ils doivent tre utiliss avec une attention particulire. Il est, par consquent, ncessaire de disposer de mthodes bien dfinies et reconnues pour mesurer les transitoires, afin que: u) les mesures effectues
47、par diffrents laboratoires puissent tre compares; b) des limites cohrentes soient fixes aux transitoires produits par des types particuliers de matriels, ainsi qu? la susceptibilit de certains matriels aux transitoires. Ce guide a donc t prpar pour aider satisfaire ces exigences. I1 est noter que ce guide ne? traite que des phnomnes transitoires qui ne se rapportent pas la frquence du rseau et durent 40 ms au maximum. I1 ne traite pas non plus de variations ni de fluctuations de tension prolonges. 1. Domaine d?application Le prsent rapport est destin ser
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