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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61643-321 Premire dition First edition 2001-12 Composants pour parafoudres basse tension Partie 321: Spcifications pour les diodes avalanche (ABD) Components for low-voltage surge protective devices Part 321: Specifications for avalanche breakdown
2、diode (ABD) Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61643-321:2001 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 02:47:28 MSTNo reproduction or networking permitted without l
3、icense from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponi
4、bles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des p
5、ublications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et cor
6、rigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le c
7、atalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications
8、, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service c
9、lients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with
10、a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication inco
11、rporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this public
12、ation, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well
13、 as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date
14、of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Cent
15、re (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Co
16、mmission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 02:47:28 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61643-321 Premire dition First edition
17、 2001-12 Composants pour parafoudres basse tension Partie 321: Spcifications pour les diodes avalanche (ABD) Components for low-voltage surge protective devices Part 321: Specifications for avalanche breakdown diode (ABD) Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Comm
18、ission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compr
19、is la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Co
20、mmission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEP Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale,
21、 03/10/2007 02:47:28 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61643-321 CEI:2001 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1Domaine dapplication.6 2Rfrences normatives .6 3Dfinitions et symboles.6 4Fonction principale et description des diodes avalanche.12 5Conditions de fonctionneme
22、nt.16 6Mthodes dessais normalises et procdures.16 6.1Critre normalis dessai de conception.16 6.2Conditions dessais16 6.3Tension de blocage VC (voir figure 2).18 6.4Courant crte de choc assign IPPM (voir figure 2) .18 6.5Tension maximale de fonctionnement VWM et tension maximale efficace de fonctionn
23、ement VWMeff (voir figure 3) 18 6.6Courant non passant ID (voir figure 3)20 6.7Tension de claquage (davalanche) VBR (voir figure 4) .20 6.8Capacit Cj22 6.9Dissipation de puissance crte de choc assigne PPPM22 6.10Courant de choc direct assign IFSM (voir figure 1c).22 6.11Tension directe VFS.22 6.12Co
24、efficient de temprature de la tension davalanche VBR24 6.13Correction en temprature (voir figure 5)24 6.14Rsistance thermique RthJA, RthJC ou RthJL.24 6.15Impdance thermique transitoire ZthJA, ZthJC ou ZthJL24 6.16Dissipation de puissance moyenne assigne PMAV.26 6.17Tension crte de dpassement Vos (v
25、oir figure 7) 26 6.18Dure de dpassement (voir figure 7) 26 6.19Temps de rponse (voir figure 7) .26 7Dfaillances et modes de dfaillance 30 7.1Mode de dfaillance d lusure30 7.2Mode de dfaillance en court-circuit.30 7.3Mode de dfaillance en circuit ouvert .30 7.4Fonctionnement sr .30 Figure 1 Structure
26、, condition de polarisation et caractristiques V-I dune diode avalanche unidirectionnelle 12 Figure 2 Circuit dessai pour la tension de blocage VC, et le courant crte de choc IPP et le courant de choc direct assign IFSM.18 Figure 3 Circuit dessai pour la vrification de la tension maximale de fonctio
27、nnement VWM, du courant non passant ID et de la tension maximale efficace de fonctionnement VWMeff.20 Figure 4 Circuit dessai pour la vrification de la tension de claquage (davalanche) VBR.20 Figure 5 Circuit dessai pour la vrification de la tension directe VFS.22 Figure 6 Courbe de discontinuit de
28、composants de diode avalanche 26 Figure 7 Courbe illustrant la tension de dpassement, le temps de rponse et la dure de dpassement 28 Figure 8 Forme donde de courant de choc.28 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001,
29、 User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 02:47:28 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61643-321 IEC:2001 3 CONTENTS FOREWORD.3 1Scope.7 2Normative references .7 3Definitions and symbols7 4Basic function and description for ABDs .13 5Service conditions 17 6S
30、tandard test methods and procedures.17 6.1Standard design test criteria17 6.2Test conditions17 6.3Clamping voltage VC (see figure 2)19 6.4Rated peak impulse current IPPM (see figure 2) .19 6.5Maximum working voltage VWM and maximum working r.m.s. voltage VWMrms (see figure 3).19 6.6Stand-by current
31、ID (see figure 3)21 6.7Breakdown (avalanche) voltage VBR (see figure 4) 21 6.8Capacitance Cj23 6.9Rated peak impulse power dissipation PPPM23 6.10 Rated forward surge current IFSM (see figure 1c).23 6.11 Forward voltage VFS23 6.12 Temperature coefficient of breakdown voltage VBR25 6.13 Temperature d
32、erating (see figure 5) 25 6.14 Thermal resistance RthJA or RthJC or RthJL25 6.15 Transient thermal impedance ZthJA or ZthJC or ZthJL25 6.16 Rated average power dissipation PMAV27 6.17 Peak overshoot voltage VOS (see figure 7) 27 6.18 Overshoot duration (see figure 7) 27 6.19 Response time (see figur
33、e 7).27 7Fault and failure modes 31 7.1Degradation fault mode .31 7.2Short-circuit failure mode.31 7.3Open-circuit failure mode 31 7.4“Fail-safe“ operation31 Figure 1 Structure, bias condition and V-I characteristics for a unidirectional ABD .13 Figure 2 Test circuit for clamping voltage VC, peak im
34、pulse current IPP, and rated forward surge current IFSM19 Figure 3 Test circuit for verifying maximum working voltage VWM stand-by current ID and maximum working r.m.s. voltage VWMrms21 Figure 4 Test circuit for verifying breakdown (avalanche) voltage VBR21 Figure 5 Test circuit for verifying forwar
35、d voltage VFS23 Figure 6 Derating curve for ABD components.27 Figure 7 Graph illustrating voltage overshoot, response time and overshoot duration.29 Figure 8 Impulse current waveform 29 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1
36、111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 02:47:28 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61643-321 CEI:2001 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPOSANTS POUR PARAFOUDRES BASSE TENSION Partie 321: Spcifications pour les diodes avalanche (A
37、BD) AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de nor
38、malisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internati
39、onales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de
40、 la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations international
41、es. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les No
42、rmes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobat
43、ion et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue
44、 pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61643-321 a t tablie par le sous-comit 37B: Composants spcifiques aux parafoudres et aux dispositifs de protection contre les surtensions, du comit dtudes 37 de
45、la CEI: Parafoudres Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDISRapport de vote 37B/59/FDIS37B/62/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives IS
46、O/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2005. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS
47、 Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 02:47:28 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61643-321 IEC:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ COMPONENTS FOR LOW-VOLTAGE SURGE PROTECTIVE DEVICES Part 321: Specifications for avalanche breakdown diode (ABD) FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-opera
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