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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60990 Deuxime dition Second edition 1999-08 Mthodes de mesure du courant de contact et du courant dans le conducteur de protection Methods of measurement of touch current and protective conductor current Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60
2、990:1999 PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 02:23:11 MSTNo reproduction or networking permitted without
3、license from IHS -,-,- Numros des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0,
4、1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil refl
5、te ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la
6、 liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CEI Disponible la fois au site web de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie,
7、symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CEI 60027:
8、 Symboles littraux utiliser en lectrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all I
9、EC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- pora
10、ting amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmat
11、ion of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web s
12、ite* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechni
13、cal Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the s
14、ingle sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 02:23:11 MSTNo reproduction or
15、networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60990 Deuxime dition Second edition 1999-08 Mthodes de mesure du courant de contact et du courant dans le conducteur de protection Methods of measurement of touch current and protective conductor
16、current Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 1999 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utili
17、se sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo-copie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfi
18、lm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEXA PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Copyright
19、International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 02:23:11 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 60990 CEI:1999 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS . 8 INTRODU
20、CTION 10 Articles 1Domaine dapplication 16 2Rfrences normatives. 18 3Dfinitions 20 4Emplacement dessai . 20 4.1Environnement de lemplacement dessai 20 4.2Transformateur dessai . 22 4.3Conducteur neutre mis la terre . 22 5Matriel de mesure 24 5.1Choix du rseau de mesure. 24 5.1.1Perception et raction
21、 (courant alternatif) 28 5.1.2Non-lcher (courant alternatif). 28 5.1.3Brlures lectriques (courant alternatif) . 28 5.1.4Courant continu sans ondulation 28 5.2Electrodes dessais . 28 5.2.1Construction 28 5.2.2Connexion. 28 5.3Configuration 28 5.4Connexions lalimentation pendant lessai. 30 5.4.1Gnrali
22、ts . 30 5.4.2Matriel pour utilisation uniquement dans des schmas dalimentation toile TN ou TT . 40 5.4.3Matriel pour utilisation dans des schmas dalimentation IT, y compris les schmas triangle non relis la terre . 40 5.4.4Matriel pour utilisation dans des schmas dalimentation monophass dont le point
23、 milieu est la terre ou dans des schmas dalimentation triangle dont le point milieu est la terre . 40 5.5Tension et frquence dalimentation 40 5.5.1Tension dalimentation. 40 5.5.2Frquence dalimentation 40 6Procdure dessai 42 6.1Gnralits . 42 6.1.1Dispositifs de commande, matriel et conditions dalimen
24、tation 42 6.1.2Utilisation des rseaux de mesure . 42 6.2Fonctionnement normal et conditions de dfaut du matriel. 44 6.2.1Fonctionnement normal du matriel. 44 6.2.2Conditions de dfaut du matriel et de lalimentation 44 7valuation des rsultats . 48 7.1Perception, raction et non-lcher. 48 7.2Effets des
25、brlures lectriques 48 8Mesure du courant dans le conducteur de protection 48 8.1Gnralits . 48 8.2Matriels multiples 48 8.3Mthode de mesure 48 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale
26、, 03/07/2007 02:23:11 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 60990 IEC:1999 3 CONTENTS Page FOREWORD 9 INTRODUCTION 11 Clause 1Scope 17 2Normative references. 19 3Definitions 21 4Test site. 21 4.1Test site environment 21 4.2Test transformer . 23 4.3Earthed neutral
27、conductor . 23 5Measuring equipment. 25 5.1Selection of measuring network. 25 5.1.1Perception and reaction (a.c.) 29 5.1.2Let-go (a.c.) 29 5.1.3Electric burn (a.c.). 29 5.1.4Ripple-free d.c. . 29 5.2Test electrodes . 29 5.2.1Construction 29 5.2.2Connection 29 5.3Configuration 29 5.4Power connections
28、 during test. 31 5.4.1General. 31 5.4.2Equipment for use only on TN or TT star power distribution systems 41 5.4.3Equipment for use on IT power distribution systems including unearthed delta systems 41 5.4.4Equipment for use on single-phase centre-earthed power supply systems or on centre-earthed de
29、lta power supply systems. 41 5.5Supply voltage and frequency 41 5.5.1Supply voltage. 41 5.5.2Supply frequency. 41 6Test procedure. 43 6.1General. 43 6.1.1Control switches, equipment and supply conditions 43 6.1.2Use of measuring networks . 43 6.2Normal and fault conditions of equipment 45 6.2.1Norma
30、l operation of equipment 45 6.2.2Equipment and supply fault conditions . 45 7Evaluation of results. 49 7.1Perception, reaction and let-go 49 7.2Electric burn 49 8Measurement of protective conductor current . 49 8.1General. 49 8.2Multiple equipment 49 8.3Measuring method 49 Copyright International El
31、ectrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 02:23:11 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 60990 CEI:1999 Pages Annexe A (normative)Matriel . 50 Annexe B (normat
32、ive)Utilisation dun plan conducteur 52 Annexe C (normative)Parties connectes fortuitement . 54 Annexe D (informative)Choix des limites de courant 56 Annexe E (informative)Rseaux utiliser pour la mesure du courant de contact 62 Annexe F (informative)Limitations et construction du rseau de mesure 66 A
33、nnexe G (informative)Construction et application des appareils de mesure du courant de contact. 70 Annexe H (informative)Partie prhensible 78 Annexe J (informative)Schmas de distribution en courant alternatif (voir 5.4). 82 Annexe K (informative)Essais en production et essais priodiques du courant d
34、e contact et essais aprs rparation ou modification, pour les matriels aliments par le rseau 96 Annexe L (normative)Caractristiques et talonnage. 98 Annexe M (informative)Bibliographie.108 20 Figure 1 Exemple de neutre mis la terre, alimentation directe 22 Figure 2 Exemple de neutre mis la terre, ave
35、c transformateur pour lisolement 24 Figure 3 Rseau de mesure, courant de contact non pondr 24 Figure 4 Rseau de mesure, courant de contact pondr pour la perception ou la raction . 26 Figure 5 Rseau de mesure, courant de contact pondr pour le non-lcher 26 Figure 6 Configuration dessai Matriel monopha
36、s dans un schma toile TN ou TT 30 Figure 7 Configuration dessai Matriel monophas dans un schma TN ou TT avec point milieu la terre . 32 Figure 8 Configuration dessai Matriel monophas connect entre phases dans un schma toile TN ou TT 32 Figure 9 Configuration dessai Matriel monophas connect entre pha
37、se et neutre dans un schma toile IT . 34 Figure 10 Configuration dessai Matriel monophas connect entre phases dans un schma toile IT . 34 Figure 11 Configuration dessai Matriel triphas dans un schma toile TN ou TT . 36 Figure 12 Configuration dessai Matriel triphas dans un schma toile IT. 36 Figure
38、13 Configuration dessai Schma triangle non mis la terre . 38 Figure 14 Configuration dessai Matriel triphas dans un schma triangle avec point milieu mis la terre. 38 Figure A.1 Matriel 50 Figure B.1 Plate-forme dessai 52 Figure F.1 Facteur de frquence pour les brlures lectriques. 66 Figure F.2 Facte
39、ur de frquence pour la perception ou la raction. 68 Figure F.3 Facteur de frquence pour le non-lcher 68 Figure H.1 Dispositif dessai des parties prhensibles 80 Figure J.1 Exemples de schma TN-S 86 Figure J.2 Exemple de schma TN-C-S 88 Figure J.3 Exemple de schma TN-C 88 Figure J.4 Exemple de schma m
40、onophas TN-C 3 conducteurs . 90 Figure J.5 Exemple de schma TT 3 conducteurs actifs et neutre 90 Figure J.6 Exemple de schma TT 3 conducteurs actifs. 92 Figure J.7 Exemple de schma IT 3 conducteurs actifs (et neutre) . 94 Figure J.8 Exemple de schma IT 3 conducteurs actifs 94 Copyright International
41、 Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 02:23:11 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 60990 IEC:1999 5 Page Annex A (normative)Equipment 51 Annex B (normat
42、ive)Use of a conductive plane 53 Annex C (normative)Incidentally connected parts . 55 Annex D (informative)Choice of current limits. 57 Annex E (informative)Networks for use in measurement of touch current . 63 Annex F (informative)Measuring network limitations and construction 67 Annex G (informati
43、ve)Construction and application of touch current measuring instruments 71 Annex H (informative)Grippable part 79 Annex J (informative)AC power distribution systems (see 5.4) . 83 Annex K (informative)Routine and periodic touch current tests, and tests after repair or modification of mains operated e
44、quipment 97 Annex L (normative)Performance and calibration. 99 Annex M (informative)Bibliography109 Figure 1 Example of earthed neutral, direct supply . 23 Figure 2 Example of earthed neutral, with transformer for isolation. 25 Figure 3 Measuring network, unweighted touch current 25 Figure 4 Measuri
45、ng network, touch current weighted for perception or reaction. 27 Figure 5 Measuring network, touch current weighted for let-go . 27 Figure 6 Test configuration: single-phase equipment on star TN or TT system 31 Figure 7 Test configuration: single-phase equipment on centre-earthed TN or TT system 33
46、 Figure 8 Test configuration: single-phase equipment connected line-to-line on star TN or TT system. 33 Figure 9 Test configuration: single-phase equipment connected line-to-neutral on star IT system . 35 Figure 10 Test configuration: single-phase equipment connected line-to-line on star IT system .
47、 35 Figure 11 Test configuration: three-phase equipment on star TN or TT system. 37 Figure 12 Test configuration: three-phase equipment on star IT system 37 Figure 13 Test configuration: unearthed delta system. 39 Figure 14 Test configuration: three-phase equipment on centre-earthed delta system. 39 Figure A.1 Equipment . 51 Figure B.1 Equipment platform 53 Figure F.1 Frequency factor for electric burn. 67 Figure F.2 Frequency factor for perception or reaction. 69 Figure F.3 Frequency factor for let-go . 69 Figure H.1 Grippable part test device 81
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