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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-10 Edition 1.1 2001-03 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-10: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit au champ magntique oscillatoire amorti Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-10: Testing and measurement techniques Da
2、mped oscillatory magnetic field immunity test Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-10:1993+A1:2000 Edition 1:1993 consolide par lamendement 1:2000 Edition 1:1993 consolidated with amendment 1:2000 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechn
3、ical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:28:00 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI
4、 sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la
5、 publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des r
6、enseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes q
7、ui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches
8、en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des d
9、ernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmen
10、taires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated
11、editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on I
12、EC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition
13、to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Cata
14、logue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and rep
15、laced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this
16、publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not f
17、or Resale, 03/09/2007 02:28:00 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-10 Edition 1.1 2001-03 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-10: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit au champ magntique
18、 oscillatoire amorti Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-10: Testing and measurement techniques Damped oscillatory magnetic field immunity test Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current cata
19、logue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No pa
20、rt of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-
21、mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEU Edition 1:1993 consolide par lamendement 1:2000 Edition 1:1993 consolidated with amendment 1:2000 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under lic
22、ense with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:28:00 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61000-4-10 CEI:1993+A1:2000 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS6 INTRODUCTION.10 Articles 1 Domaine dapplication 12 2 Rfrence norm
23、atives.12 3 Gnralits.12 4 Dfinitions 14 5 Niveaux dessais 16 6 Matriel dessai 16 6.1Gnrateur dessai16 6.2Bobine dinduction.18 6.3Instrumentation dessai et instrumentation auxiliaire22 7 Installation dessai24 7.1Plan de sol 24 7.2Equipement en essai.24 7.3Gnrateur dessai26 7.4Bobine dinduction.26 8 P
24、rocdure dessai.26 8.1Conditions de rfrence du laboratoire26 8.2Excution de lessai.28 9 Evaluation des rsultats dessai .30 10Rapport dessai 30 Annexe A (normative) Mthode dtalonnage des bobines dinduction38 Annexe B (normative) Caractristiques des bobines dinduction.40 Annexe C (informative) Slection
25、 des niveaux dessais52 Annexe D (informative) Informations sur lintensit des champs magntiques 56 Annexe E (informative) Frquence du champ magntique oscillatoire amorti .58 Figure 1 Exemple dapplication du champ par la mthode par immersion.32 Figure 2 Forme donde de courant produite par le gnrateur
26、dessai pour le champ magntique oscillatoire amorti (onde sinusodale)32 Figure 3 Schma du gnrateur dessai produisant le champ magntique oscillatoire amorti .32 Figure 4 Exemple dinstallation dessai pour matriel de table34 Figure 5 Exemple dinstallation dessai pour matriel pos au sol 34 Figure 6 Exemp
27、le de recherche de susceptibilit aux champs magntiques par la mthode de proximit36 Figure 7 Reprsentation des bobines de Helmholtz36 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/20
28、07 02:28:00 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61000-4-10 IEC:1993+A1:2000 3 CONTENTS Page FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 Clause 1 Scope.13 2 Normative references .13 3 General 13 4 Definitions 15 5 Test levels17 6 Test equipment.17 6.1Test generator.17 6.2Inductio
29、n coil.19 6.3Test and auxiliary instrumentation .23 7 Test set-up.25 7.1Ground (reference) plane 25 7.2Equipment under test 25 7.3Test generator.27 7.4Induction coil.27 8 Test procedure .27 8.1Laboratory reference conditions 27 8.2Carrying out the test29 9 Evaluation of test results 31 10Test report
30、31 Annex A (normative) Induction coil calibration method .39 Annex B (normative) Characteristics of the induction coils .41 Annex C (informative) Selection of the test levels 53 Annex D (informative) Information on magnetic field strength.57 Annex E (informative) Damped oscillatory magnetic field fr
31、equency.59 Figure 1 Example of application of the test field by the immersion method.33 Figure 2 Current waveform of the test generator for damped oscillatory magnetic field (sinusoid wave).33 Figure 3 Schematic circuit of the test generator for damped oscillatory magnetic field33 Figure 4 Example o
32、f test set-up for table-top equipment 35 Figure 5 Example of test set-up for floor-standing equipment.35 Figure 6 Example of investigation of susceptibility to magnetic field by the proximity method .37 Figure 7 Illustration of Helmholtz coils37 Copyright International Electrotechnical Commission Pr
33、ovided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:28:00 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61000-4-10 CEI:1993+A1:2000 Pages Figure B.1 Caractristiques du champ engendr dans son plan par une
34、 spire dinduction carre (1 m de ct)44 Figure B.2 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans son plan par une spire dinduction carre (1 m de ct)44 Figure B.3 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen (composante orthogonale au plan de la spire) par une spire dinduction carre (
35、1 m de ct) 46 Figure B.4 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen (composante orthogonale au plan des spires) par deux spires dinduction carres (1 m de ct) espaces de 0,6 m46 Figure B.5 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen (composante orthogona
36、le au plan des spires) par deux spires dinduction carres (1 m de ct) espaces de 0,8 m48 Figure B.6 Zone des 3 dB pour le champ engendr dans son plan par une spire dinduction rectangulaire (1 m 2,6 m) .48 Figure B.7 Zone des 3 dB pour le champ engendr dans son plan par une spire dinduction rectangula
37、ire (1 m 2,6 m), le plan de sol tant considr comme un ct de la bobine50 Figure B.8 Zones des 3 dB pour le champ engendr dans le plan orthogonal moyen (composante orthogonale au plan de la spire) par une spire dinduction rectangulaire (1 m 2,6 m) 50 Tableau 1 Niveaux dessais .16 Copyright Internation
38、al Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:28:00 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61000-4-10 IEC:1993+A1:2000 5 Page Figure B.1 Characteristics of the
39、 field generated by a square induction coil (1 m side) in its plane .45 Figure B.2 3 dB area of the field generated by a square induction coil (1 m side) in its plane45 Figure B.3 3 dB area of the field generated by a square induction coil (1 m side) in the mean orthogonal plane (component orthogona
40、l to the plane of the coil) 47 Figure B.4 3 dB area of the field generated by two square induction coils (1 m side) 0,6 m spaced, in the mean orthogonal plane (component orthogonal to the plane of the coils) .47 Figure B.5 3 dB area of the field generated by two square induction coils (1 m side) 0,8
41、 m spaced, in the mean orthogonal plane (component orthogonal to the plane of the coils) .49 Figure B.6 3 dB area of the field generated by a rectangular induction coil (1 m 2,6 m) in its plane 49 Figure B.7 3 dB area of the field generated by a rectangular induction coil (1 m 2,6 m) in its plane (g
42、round plane as a side of the induction coil).51 Figure B.8 3 dB area of the field generated by a rectangular induction coil (1 m 2,6 m) with ground plane, in the mean orthogonal plane (component orthogonal to the plane of the coil) .51 Table 1 Test levels.17 Copyright International Electrotechnical
43、Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 02:28:00 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 6 61000-4-10 CEI:1993+A1:2000 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPATIBILIT L
44、ECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-10: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit au champ magntique oscillatoire amorti AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits n
45、ationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtude
46、s, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisatio
47、n (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et ag
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