IEC-61169-36-1996.pdf
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1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 61 169-36 QC 223600 Premire dition First edition 1996-03 Connecteurs pour frquences radiolectriques Partie 36: Connecteurs m icrom iniatures pour frquences radiolectriques accouplementpar encliquetage - Impdance caractristique 50 SZ (type MCX) Rad
2、io-freq uency connecteurs Part 36: Microminiature r.f. coaxial connectors with snap-on coupling - Characteristic impedance 50 SZ (type MCX) Numro de rfrence Reference number CEIIIEC 61 169-36: 1996 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS
3、 Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 20:30:38 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numros des publications Numbering Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 As from 1 January 1997 all IEC publications are sont numrote
4、s partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series. Publications consolides Consolidated publications Les versions consolides de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are availa
5、ble. For example, Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incor- publication de base incorporant lamendement 1, et la porating amendment 1 a
6、nd the base publication publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2. et 2. Validit de la prsente publication Validity of this publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la techniqu
7、e. Des renseignements relatifs a la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tab
8、lies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CE1 Disponible la fois au 4 t e web de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et litt
9、raux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux A utilis
10、er en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the c
11、ontent reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as
12、the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue) Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols Fo
13、r general terminology, readers are referred to I EC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC
14、 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. Voir adresse El 1169-1 x 220000) arag raphe Niveau M (haut) Niveau H (bas) - Essai requis - Essai requis Jombre de l
15、fauts tolrs Par roupe) lombre de ifauts tolrs Par roupe) Nombre de pdmens Nombre de pcimen %riodi- cit lriodi- cit Groupe D7 (d) Soudabilit - assemblage connecteur Rsistance la chaleur de soudage Essai mcanique sur dispositif de fixation du cble: i) rotation du cble i) traction du cble iii) flexion
16、du cble iv) torsion du cble Moment de flexion (et force de cisaillement) Tenue du mcanisme de verrouillage Groupe 02 (d) Rsistance de contact, continuit du blindage et du conducteur extrieur, continuit du conducteur central (connecteurs cbls accoupls) Secousses Vibrations Chocs Chaleur humide en con
17、tinu Brouillard salin Groupe O3 Dimensions Groupe O4 (d) Endurance mcanique Endurance haute temprature Dioxyde sulfurique (nu tation) 9.3.2.1.1 9.3.2.1.2 9.3.7.2 9.3.8 9.3.9 9.3.10 9.3.12 9.3.1 1 ia ia ia ia ia ia a ia 6 1 3 ans 3 3 ans 1 9.2.3 9.3.13 9.3.3 9.3.14 9.4.3 9.4.6 6 1 3 ans 3 1 3 ans 21
18、9.1.3.2 1 3 ans 1 3 ans a a 9.5 9.6 9.43 6 a a - a - 1 3 ans 3 1 3 ans Les notes et les abrviations sont la fin du tableau. (suite page 30) Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 0
19、3/09/2007 20:30:38 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 1169-360 IEC:1996 -29- Table 9 - Periodic tests Test method IEC 1169-1 Qc 22oooo) Subclause Assessment level M (higher) Assessment level H (lower) - Test W M - ia ia ia ia ia ia a ia - Test q u i d - ia ia i
20、a a ia emlitted ailures P U P per 1) 1 ermitted ailures P U P per 1) 1 Number of oeamens Period Number of ;Decimens Period Group D l (d) Solderability - connector assemblies Resistance to soldering heat Mechanical tests on cable fixing: i) cable rotation (nutation) i) cable pulling iii) cable bendin
21、g iv) cable torsion 9.3.2.1.1 9.3.2.1.2 9.3.7.2 9.3.8 9.3.9 9.3.10 9.3.12 9.3.1 1 6 3 years 3 3 years Bending moment (and shearing force) Strength of coupling mechanism 3 years Group 02 (d) Contact resistance, outer conductor and screen continuity, also centre conductor continuity (mated cabled conn
22、ectors) 9.2.3 9.3.13 9.3.3 9.3.14 9.4.3 9.4.6 a a a a a - a - a a - a a - a - a - 6 3 years 3 1 Bump Vibration Shock Damp heat, steady state Salt mist Group 03 Dimensions 9.1.3.2 3 years 3 years Group 04 (d) Mechanical endurance 9.5 9.6 9.4.8 6 3 years 3 3 years Hig h-temperature endurance Sulphur d
23、ioxide For the notes and abbreviations, see the end table. (continued on page 31) Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 20:30:38 MSTNo reproduction or networking permit
24、ted without license from IHS -,-,- -30- Tableau 9 (fin) Nombre de dfauts tolrs Par Iroupe) 1 1 1 Priodi- cit 3 ans 3 ans 3 ans Niveau M (haut) Niveau H (bas) Mthode dessai El 1169-1 Qc 220000) arag raphe - Essai requis - Essai .equis lombre de jfauts tolrs Par roupe“ Nombre de spcimens Nombre de pci
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- IEC 61169 36 1996
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