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1、 NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61326-2-4 Premire dition First edition 2006-06 Matriel lectrique de mesure, de commande et de laboratoire Exigences relatives la CEM Partie 2-4: Exigences particulires Configurations dessai, conditions de fonctionnement et critres daptitude la fon
2、ction pour les dispositifs de surveillance disolation en accord avec la CEI 61557-8 et pour les quipements de localisation de dfaut disolation en accord avec la CEI 61557-9 Electrical equipment for measurement, control and laboratory use EMC requirements Part 2-4: Particular requirements Test config
3、urations, operational conditions and performance criteria for insulation monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment for insulation fault location according to IEC 61557-9 Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61326-2-4:2006 Copyright International Electrotechnical Commission P
4、rovided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 07:56:54 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes pa
5、rtir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de b
6、ase incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements rel
7、atifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette
8、publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nom
9、breux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications
10、parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires
11、, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editio
12、ns The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC pub
13、lications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new
14、 editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue
15、of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced pu
16、blications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding
17、this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie
18、Not for Resale, 03/09/2007 07:56:54 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61326-2-4 Premire dition First edition 2006-06 Matriel lectrique de mesure, de commande et de laboratoire Exigences relatives la CEM Parti
19、e 2-4: Exigences particulires Configurations dessai, conditions de fonctionnement et critres daptitude la fonction pour les dispositifs de surveillance disolation en accord avec la CEI 61557-8 et pour les quipements de localisation de dfaut disolation en accord avec la CEI 61557-9 Electrical equipme
20、nt for measurement, control and laboratory use EMC requirements Part 2-4: Particular requirements Test configurations, operational conditions and performance criteria for insulation monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment for insulation fault location according to IEC 61557-9 P
21、our prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la ph
22、otocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission
23、, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE L Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnic
24、al Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 07:56:54 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61326-2-4 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplication 8 2 Rfrences norma
25、tives.8 3 Termes et dfinitions10 4 Gnralits.12 5 Plan dessais CEM .12 5.1 Gnralits12 5.2 Configuration de lEST pendant lessai 12 5.3 Conditions fonctionnelles de lEST pendant lessai14 5.4 Spcification des critres daptitude la fonction 14 5.5 Descriptions des essais.14 6 Exigences dimmunit.14 6.1 Con
26、ditions pendant les essais .14 6.2 Exigences des essai dimmunit16 6.3 Aspects alatoires.18 6.4 Critres daptitude la fonction.18 7 Exigences dmission .20 7.1 Conditions durant les mesures 20 7.2 Limites dmission.20 8 Rsultats dessai et rapport dessai 22 9 Instructions pour lutilisation .22 Tableau 10
27、1 Essais dimmunit16 Tableau 102 Exigences dimmunit, critres daptitudes la fonction 18 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 07:56:54 MSTNo reproduction or networking pe
28、rmitted without license from IHS -,-,- 61326-2-4 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope.9 2 Normative references .9 3 Terms and definitions .11 4 General 13 5 EMC test plan.13 5.1 General.13 5.2 Configuration of EUT during testing.13 5.3 Operation conditions of EUT during testing15 5.4 Specification
29、 of performance criteria .15 5.5 Test description.15 6 Immunity requirements .15 6.1 Conditions during the tests15 6.2 Immunity test requirements .17 6.3 Random aspects .19 6.4 Performance criteria19 7 Emission requirements .21 7.1 Conditions during measurements. .21 7.2 Emission limits 21 8 Test re
30、sults and test report.23 9 Instructions for use.23 Table 101 Immunity tests.17 Table 102 Immunity requirements, performance criteria .19 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/0
31、9/2007 07:56:54 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61326-2-4 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MATRIEL ELECTRIQUE DE MESURE, DE COMMANDE ET DE LABORATOIRE EXIGENCES RELATIVES LA CEM Partie 2-4: Exigences particulires Configurations dessai,
32、conditions de fonctionnement et critres daptitude la fonction pour les dispositifs de surveillance disolation en accord avec la CEI 61557-8 et pour les quipements de localisation de dfaut disolation en accord avec la CEI 61557-9 AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est
33、 une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effe
34、t, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout C
35、omit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions
36、fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque co
37、mit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI
38、ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente le
39、s Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valan
40、t indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs
41、, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour sup
42、porter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lut
43、ilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saur
44、ait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61326-2-4 a t prpare par le sous-comit 65A: Aspects systmes, du comit dtudes 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels. La sri
45、e CEI 61326 annule et remplace la CEI 61326:2002 et constitue une rvision technique. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 07:56:54 MSTNo reproduction or networking per
46、mitted without license from IHS -,-,- 61326-2-4 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT, CONTROL AND LABORATORY USE EMC REQUIREMENTS Part 2-4: Particular requirements Test configurations, operational conditions and performance criteria for insulati
47、on monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment for insulation fault location according to IEC 61557-9 FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and i
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