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1、CEI 61580 (Premire dition 1995) Mesure des pertes de rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides donde IEC 61580 (First edition 1995) Measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies CORRIGENDUM 1 Page 4 1 Domaine dapplication Remplacer )20/( 10 ar r = par: )20/( 10 r
2、a r = Juillet 2006 Page 5 1 Scope Replace )20/( 10 ar r = by: )20/( 10 r a r = July 2006 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=listmgr, listmgr Not for Resale, 03/05/2007 21:47:20 MSTNo reproduction or networ
3、king permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1580 Premire dition First edition 1995-1 1 Mesure des pertes de rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides dondes Measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies Numro d
4、e reference Reference number CEMEC 1580: 1995 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=listmgr, listmgr Not for Resale, 03/05/2007 21:47:20 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-
5、,- Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent
6、 respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflete ltat actuel de
7、la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publica
8、tions tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI“ Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au site web, de la CEI* et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symboles graphiqu
9、es et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littrau
10、x ri utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web, sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publicati
11、ons are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendme
12、nt 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the p
13、ublication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site“ Catalog
14、ue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60050: International Electrotechnical Vocabul
15、ary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheet
16、s and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=listmgr, listmgr Not for Resale, 03/05/2007 21:47:20 MSTNo reproduction or networki
17、ng permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1580 Premire dition First edition 1995-1 1 Mesure des pertes de rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides dondes Measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies 0 CE1 199
18、5 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ? soit et par aucun prw ckI.4, lectronique ou deanique, y mmpk h photocopie et les microfilms. sans laccord crt de Idiiteur. No part 01 this p
19、ublication may be r e p o d d or utilled m any form o r by any means, electronic or mechanical. including photocwying and microfih, without permission in writing fromthe publisher. Bureau Centrai de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varemb Genve, Suisse Commission Electrotechni
20、que Internationale CODE PRIX international Electrotechnical Commission PRICE CODE F MeWyHapoAHaR Snelcrporexrecna HOMHCCHR 0 Pour prix. voir catalogue en vigueur For price, see correnf catalogue Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Em
21、ployees/1111111001, User=listmgr, listmgr Not for Resale, 03/05/2007 21:47:20 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- -2- FDIS 1580 0 CEI:1995 Rapport de vote COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE 46Bl149lFDIS MESURE DES PERTES DE RFLEXION DANS UN GUIDE DONDES E
22、T DES ASSEMBLAGES DE GUIDES DONDES 46Bl150lRVD AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration inter
23、nationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait pe
24、ut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lorganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisatio
25、ns. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 concernant des questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. Les documents produits se prsentent sous la
26、 forme de recommandations internationales; ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possi
27、ble, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication
28、dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CE1 ne saurait tre
29、 tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CE1 1580 a t tablie par le sous-comit 46B: Guides dondes et dispositifs accessoires, du comit dtudes 46 de la CEI: Cbles, fils, guides dondes, con- necteurs, e
30、t accessoires pour communications et signalisation. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Copyright International Electrotechnical Commission Provided
31、by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=listmgr, listmgr Not for Resale, 03/05/2007 21:47:20 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 1580 0 IEC:1995 FDIS 46B49FDIS - 3 - Report on voting 46BI50lRVD INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSI
32、ON MEASUREMENT OF RETURN LOSS ON WAVEGUIDE AND WAVEGUIDE ASSEMBLIES FOREWORD The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote internat
33、ional cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subj
34、ect dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions
35、 determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Comm
36、ittees. The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, IEC National Committees underta
37、ke to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. The IEC provides no marking procedure t
38、o indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. IEC shall not be held responsible f
39、or identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 1580 has been prepared by sub-committee 468: Waveguides and their accessories, of IEC technical committee 46: Cables, wires, waveguides, R.F. connectors, and accessories for communication and signalling. The text of this standa
40、rd is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, Use
41、r=listmgr, listmgr Not for Resale, 03/05/2007 21:47:20 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- - 4 - 1580 0 CEI:1995 MESURE DES PERTES DE RFLEXION DANS UN GUIDE DONDES ET DES ASSEMBLAGES DE GUIDES DONDES 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale est app
42、licable a la mthode de balayage en frquence utilise pour la mesure des pertes de rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides dondes. Les pertes de rflexion sont dfinies comme a, = 20 log (ui/ur) dB o ui est lamplitude de londe incidente; u, est lamplitude de londe rflchie. Les pertes
43、de rflexion sont relies au facteur de rflexion, r, par: r = (UUi) Fondamentalement la mthode consiste a mesurer lamplitude de londe rflchie lentre du guide dondes lessai (WUT) au moyen dun rflectomtre. Londe rflchie peut tre compare londe rflchie totale en court circuit, affaiblie par un attnuateur
44、talonn, ou elle peut tre compare londe incidente au moyen dun rflectomtre. 2 Equipement Un montage dessai convenable est reprsent a la figure 1. Des montages quivalents de remplacement peuvent tre utiliss aprs accord entre le client et le fournisseur. a) Gnrateur balayage de frquence II convient que
45、 la vitesse de balayage soit suffisamment basse pour permettre lenregistreur de reproduire fidlement les valeurs crtes. b) isolateur Un isolateur ou un attnuateur est insr afin de prvenir un effet de londe rflchie sur le niveau de sortie du gnrateur. c) Filtre passe-bas Le filtre passe-bas ou le fil
46、tre passe-bande est insr afin dliminer les frquences harmoniques parasites. d) eflectomtre (coupleur ou pont) La directivit effective du rflectomtre (avec adapteur standard) devra tre suprieure dau moins 10 dB la valeur a mesurer. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS u
47、nder license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=listmgr, listmgr Not for Resale, 03/05/2007 21:47:20 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 1580 0 IEC:1995 -5- MEASUREMENT OF RETURN LOSS ON WAVEGUIDE AND WAVEGUIDE ASSEMBLIES 1 scope This International Standard is applicable to the sweep frequency method used for the measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies. Return loss is defined as , = 20 log (uIuJ dB where ui is the magnitude of the incident wave; u, is the magnitude of the reflected wave. Return loss is related to the
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