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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61298-3 Premire dition First edition 1998-02 Dispositifs de mesure et de commande de processus Mthodes et procdures gnrales dvaluation des performances Partie 3: Essais pour la dtermination des effets des grandeurs dinfluence Process measurement an
2、d control devices General methods and procedures for evaluating performance Part 3: Tests for the effects of influence quantities Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61298-3: 1998 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1
3、111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:19:59 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numros des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de
4、certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de l
5、a prsente publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs ces rv
6、isions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CEI et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CEI Annuaire de la CEI Accs en ligne* Catalogue des publications de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement (Accs en ligne
7、)* Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consult
8、era la CEI 60027: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schmas. Publications de la CEI tablies par le mme comit dtudes Lattention d
9、u lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CEI prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. * Voir adresse site web sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a desig
10、nation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication
11、 incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in th
12、e IEC catalogue. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook On-line access* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line acce
13、ss)* Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter
14、symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is drawn to the end pag
15、es of this publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. * See web site address on title page. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User
16、=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:19:59 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61298-3 Premire dition First edition 1998-02 Dispositifs de mesure et de commande de processus Mthodes et procdures gnrales
17、dvaluation des performances Partie 3: Essais pour la dtermination des effets des grandeurs dinfluence Process measurement and control devices General methods and procedures for evaluating performance Part 3: Tests for the effects of influence quantities Commission Electrotechnique Internationale Int
18、ernational Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 1998 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,
19、lectronique ou mcanique, y compris la photo- copie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
20、 International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http: /www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEU Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001
21、, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:19:59 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61298-3 CEI:1998 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS 6 INTRODUCTION .8 Articles 1Domaine dapplication.10 2Rfrences normatives .10 3Dfinitions 12 4Gnralits.14 4.1Critres14 4.2Pr
22、ocdures gnrales 14 5Effets de la temprature ambiante 16 5.1Critres16 5.2Procdure dessai 16 6Effets de lhumidit relative ambiante18 7Vibrations .20 7.1Gnralits 20 7.2Recherche initiale de rsonance.22 7.3Conditionnement dendurance par balayage22 7.4Recherche finale de rsonance 22 7.5Mesures finales22
23、8Chocs, chutes et culbutes.22 9Positions de montage .24 10Dpassement de calibre .24 11Effets de la charge de sortie .26 11.1 Sortie lectrique.26 11.2 Sortie pneumatique 26 12Effets dus lalimentation.26 12.1 Variations de la tension et de la frquence dalimentation .26 12.2 Effets des transitoires de
24、tension dalimentation .28 12.3 Rduction de la tension dalimentation28 12.4 Interruptions de courte dure de la tension dalimentation.30 12.5 Prescriptions dimmunit aux transitoires lectriques rapides en salves 30 12.6 Prescriptions dimmunit aux ondes de chocs.32 12.7 Protection contre linversion de l
25、a tension dalimentation (dispositifs courant continu).32 12.8 Variations de la pression dalimentation32 12.9 Interruptions de la pression dalimentation32 13Perturbations lectriques 34 13.1 Perturbations de mode commun.34 13.2 Perturbations de mode srie.36 13.3 Mise la terre38 Copyright International
26、 Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:19:59 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61298-3 IEC:1998 3 CONTENTS Page FOREWORD .7 INTRODUCTION .9 Clause 1S
27、cope.11 2Normative references .11 3Definitions 13 4General considerations .15 4.1Criteria 15 4.2General procedures .15 5Ambient temperature effects .17 5.1Criteria 17 5.2Test procedure 17 6Ambient relative humidity effects.19 7Vibration.21 7.1General considerations21 7.2Initial resonance search.23 7
28、.3Endurance conditioning by sweeping23 7.4Final resonance search23 7.5Final measurements 23 8Shock, drop and topple .23 9Mounting position25 10Over-range .25 11Output load effects .27 11.1 Electrical output.27 11.2 Pneumatic output.27 12Power supply effects.27 12.1 Supply voltage and frequency varia
29、tions.27 12.2 Transient supply voltage effects.29 12.3 Supply voltage depression .29 12.4 Short-term supply voltage interruptions 31 12.5 Fast transient/burst immunity requirements31 12.6 Surge immunity requirements 33 12.7 Reverse supply voltage protection (d.c. devices) 33 12.8 Supply pressure var
30、iations.33 12.9 Supply pressure interruptions.33 13Electrical interference .35 13.1 Common mode interference.35 13.2 Normal mode interference (series mode) .37 13.3 Earthing.39 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001
31、, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:19:59 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61298-3 CEI:1998 ArticlesPages 14Effets de la distorsion harmonique 38 15Effets du champ magntique.40 16Consquences de lapplication des champs lectromagntiques rayonns
32、42 16.1 Gnralits 42 16.2 Procdure44 17Dcharge lectrostatique 46 17.1 Gnralits 46 17.2 Procdure46 18Effets de louverture ou de la mise en court-circuit de lentre .50 19Effets de louverture ou de la mise en court-circuit de la sortie 50 20Effets des paramtres du fluide de processus .50 20.1 Temprature
33、 du fluide du processus.50 20.2 Passage du fluide du processus au travers du DE 52 20.3 Effets de la pression du circuit statique 52 21Effets de la pression atmosphrique .54 22Ecoulement du gaz de purge au travers du dispositif.54 23Essai fonctionnel acclr 54 24Essai fonctionnel de longue dure.56 Co
34、pyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:19:59 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61298-3 IEC:1998 5 ClausePages 14Harmonic distort
35、ion effects .39 15Magnetic field effects41 16Radiated electromagnetic interference 43 16.1 General considerations43 16.2 Procedure45 17Electrostatic discharge47 17.1 General considerations47 17.2 Procedure47 18Effect of open-circuited and short-circuited input.51 19Effect of open-circuited and short
36、-circuited output.51 20Effects of process medium conditions .51 20.1 Temperature of process fluid .51 20.2 Flow of process fluid through the device.53 20.3 Static line pressure effect 53 21Atmospheric pressure effects55 22Flow of purge gas through the device55 23Accelerated operational life test 55
37、24Operational long-term drift test57 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:19:59 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 6 61298-3
38、CEI:1998 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE DISPOSITIFS DE MESURE ET DE COMMANDE DE PROCESSUS MTHODES ET PROCDURES GNRALES DVALUATION DES PERFORMANCES Partie 3: Essais pour la dtermination des effets des grandeurs dinfluence AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) e
39、st une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet ef
40、fet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CE
41、I, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesur
42、e du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs
43、 comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre
44、la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6
45、)Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leu
46、r existence. La Norme internationale CEI 61298-3 a t tablie par le sous-comit 65B: Dispositifs, du comit dtudes 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDISRapport de vote 65B/320/FDIS65B/331/RVD Le rapport de vote ind
47、iqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. La CEI 61298 comprend les parties suivantes, prsentes sous le titre gnral Dispositifs de mesure et commande de processus Mthodes et procdures gnrales dvaluation des performances: Partie 1: 1995, Gnralits Partie 2: 1995, Essais dans les conditions de rfrence Partie 3: 1997, Essais pour la dtermination des effets des grandeurs dinfluence Partie 4: 1995, Contenu du rapport dvaluation Copyright International Electro
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