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1、SPCIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 60695-2-20 Deuxime dition Second edition 2004-02 Essais relatifs aux risques du feu Partie 2-20: Mthodes dessai au fil chauffant ou incandescent Allumabilit par bobine de fil chauffant Appareillage, mthode dessai et lignes directrices Fire ha
2、zard testing Part 2-20: Glowing/hot wire based test methods Hot-wire coil ignitability Apparatus, test method and guidance Numro de rfrence Reference number CEI/IEC/TS 60695-2-20:2004 PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997,
3、 les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement
4、 la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat ac
5、tuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entr
6、epris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fu
7、t.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les c
8、orrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questi
9、ons au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 ser
10、ies. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the
11、base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity,
12、 is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications i
13、ssued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication
14、. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Cust
15、omer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . -,-,- SPCIFICATION TECHNIQ
16、UE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 60695-2-20 Deuxime dition Second edition 2004-02 Essais relatifs aux risques du feu Partie 2-20: Mthodes dessai au fil chauffant ou incandescent Allumabilit par bobine de fil chauffant Appareillage, mthode dessai et lignes directrices Fire hazard testing Part 2-
17、20: Glowing/hot wire based test methods Hot-wire coil ignitability Apparatus, test method and guidance Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2004 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduit
18、e ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying an
19、d microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEQCommission Electrotec
20、hnique Internationale International Electrotechnical Commission PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION -,-,- 2 TS 60695-2-20 CEI:2004 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1Domaine dapplication 8 2Rfrences normatives.8 3Termes et dfinitions10 4Principe10 5Signification de lessai12 6Appareillag
21、e .14 6.1Enceinte dessai14 6.2Source dallumage.14 6.3Circuit dalimentation.14 6.4Dispositif dessai .16 6.5Dispositif pour le bobinage de lprouvette 16 6.6Support de bobinage pour lprouvette 18 6.7Enceinte de conditionnement.18 7Dtermination du courant (Ic)18 8Eprouvettes18 8.1Prparation de lprouvett
22、e .18 8.2Epaisseur de lprouvette 20 9Conditionnement 20 9.1Conditionnement de lprouvette .20 9.2Conditionnement du fil chauffant .20 9.3Conditions dessais .20 10Mode opratoire .20 11Observations et mesures22 12Evaluation des rsultats dessai .22 13Rapport dessai 22 Annexe A (informative) Dtermination
23、 du courant Ic.24 Annexe B (informative) Catgorie de niveau de performance (PLC).28 Annexe C (informative) Exemples de rsultats.30 Bibliographie.34 Figure 1 Installation du dispositif dessai (exemple) .12 Figure 2 Modle denroulement dprouvette12 Figure 3 Dispositif dessai (exemple)16 Figure 4 Dispos
24、itif de bobinage pour prouvette (exemple)16 Figure 5 Supports pour prouvettes flexibles (exemple).18 Figure A.1 Circuit dessai pour ltalonnage du fil chauffant .24 Figure A.2 Courbe dtalonnage.26 Tableau B.1 Catgorie de niveau de performance28 -,-,- TS 60695-2-20 IEC:2004 3 CONTENTS FOREWORD.5 1Scop
25、e.9 2Normative references .9 3Terms and definitions .11 4Principle.11 5Significance of test.13 6Apparatus.15 6.1Test chamber 15 6.2Ignition source.15 6.3Supply circuit.15 6.4Test fixture17 6.5Test specimen winding device.17 6.6Test specimen winding support .19 6.7Conditioning chamber19 7Determinatio
26、n of current (Ic) .19 8Test specimens 19 8.1Test specimen preparation 19 8.2Test specimen thickness .21 9Conditioning .21 9.1Test specimen conditioning .21 9.2Heater wire conditioning21 9.3Test conditions21 10Test procedure .21 11Observations and measurements23 12Evaluation of test results 23 13Test
27、 report23 Annex A (informative) Determination of current Ic.25 Annex B (informative) Performance level category (PLC)29 Annex C (informative) Examples of results.31 Bibliography35 Figure 1 Test fixture arrangement (example)13 Figure 2 Test specimen wrapping pattern.13 Figure 3 Test fixture (example)
28、 17 Figure 4 Test specimen winding device (example) .17 Figure 5 Supports for flexible test specimens (example) 19 Figure A.1 Test circuit arrangement for heater wire calibration.25 Figure A.2 Calibration curve.27 Table B.1 Performance level category29 -,-,- 4 TS 60695-2-20 CEI:2004 COMMISSION LECTR
29、OTECHNIQUE INTERNATIONALE _ ESSAIS RELATIFS AUX RISQUES DU FEU Partie 2-20 : Mthodes dessai au fil chauffant ou incandescent Allumabilit par bobine de fil chauffant Appareillage, mthode dessai et lignes directrices AVANT-PROPOS 1)La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisati
30、on mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre
31、 autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national i
32、ntress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accor
33、d entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Le
34、s Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre t
35、enue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4)Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de
36、la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5)La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dappro
37、bation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6)Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7)Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaire
38、s ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y co
39、mpris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8)Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publicati
40、ons rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9)Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour resp
41、onsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La tche principale des comits dtudes de la CEI est llaboration des Normes internationales. Exceptionnellement, un comit dtudes peut proposer la publication dune spcification technique lorsquen dpit d
42、e maints efforts, laccord requis ne peut tre ralis en faveur de la publication dune Norme internationale, ou lorsque le sujet en question est encore en cours de dveloppement technique ou quand, pour une raison quelconque, la possibilit dun accord pour la publication dune Norme internationale peut tr
43、e envisage pour lavenir mais pas dans limmdiat. Les spcifications techniques font lobjet dun nouvel examen trois ans au plus tard aprs leur publication afin de dcider ventuellement de leur transformation en Normes internationales. -,-,- TS 60695-2-20 IEC:2004 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISS
44、ION _ FIRE HAZARD TESTING Part 2-20: Glowing/hot wire based test methods Hot-wire coil ignitability Apparatus, test method and guidance FOREWORD 1)The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (
45、IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Report
46、s, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non
47、- governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Commit
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