《JJG-1026-1991.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《JJG-1026-1991.pdf(21页珍藏版)》请在三一文库上搜索。
1、中 华人民 共和国国家 计量 技术规范 7 7 G 1 0 2 6 -9 1 光子和高能电子束吸收 剂最测定方法 1 9 9 1 年 5月 1 0 日批准1 9 9 2 年 1 月 1日实施 国 家 技 术 监 督 局 光子和高能电子束吸收 剂量测定方法 At s o r b e d Do s e De t e r mi n a t i o n i n P h o t o n a n d El e c t r o n B e a ms ,.命 令. 命. 今. 令 令 令. 争、 士币 J JC 10 26 - 91 4i t毒 、- 扣,一如扣二扩 本技术规范经国家技术监督局于1 9 9 1
2、 年5 月1 0 日 批准 ,并自 1 9 9 2 年1 月 1 A起施行。 归口单位.中国计量科学研究院 起草单位:中国计苗科学研究院 本 规范技 术条文由起草单位负责解释。 本规范主要起草人: 王 肖兰 张之彬 ( 中国计量科学研究院) ( 中国计量科学研究院) 目录 一概述. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 。 一 二辐射质和辐射质的测定方法 , , 三 在水模体中测量时的 参考条件 四 电离室的校准 ” t. . “ ” ” . ” ” “ ” 五水中
3、校准点吸收剂量的测定 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 六侧t水中吸收剂量的不确定度 , , 附录 有关主 要名词及符号解释. . . . . . . . . . . . . . . . . , 一 (1) 一( 1) ( 5) 一(6) (8) ( I 4 ) ( 1 5 ) J I G 1 0 2 6 -9 1共1 6 页第 1页 光子和高能电子束吸收剂最 测定万法技术规范 本技术规范规定了用电离室对1 0 0 - 3 0 0 k V X射线、C o - 6 0 , C s - 1 3 7 的7 射线 及1 -3 5 MV X射线和5 - -
4、3 5 M e V电子束进行剂量测 定的 方法。 一扭述 鉴于剂量学理论的发 展,常用物理参数的改进,考虑到电 离室结 构、成分对测量结果的影响,为提高放射治疗剂量测量的准确度,本 技术规范对 “ 关于肿瘤放射治疗剂量学 的若干规定,中的测量方法和 数据做了修改和补充.医用加速器的剂量侧t应按本技术规范 进 行。 二 辐射质和辐射质的测定方法 I 高能电子束 1 . 1高能电子 束的辐射 质用模体表面的平均入射能量L - 7 . 、任一 深 度z 处的平均能量 E : 及实用射程R , 表征。 1 . 2测定方法 1 . 2 . 1万. 对 R o -1 5 M e V 的电子束选用大于1 2
5、 x 1 2 c m , 对若 o % 1 5 ri f e V的 电子束选用2 0 x 2 0 c m的照射野, S S D = 1 0 0 c m ,在标准水模体中测 量沿射束轴的百分深度剂量曲线,求出半峰值处有效测量点对应的深 度R - 。 ,如图 1 ,则模体表面的平均人射能量可按下式计算 R, = C “ R , o ( 1 ) C=2 , 3 3 Me V / c m ( 5 Me V +o -3 5 Mc V ) 亦可在上述m J . 后由 表 1中查出1 , . . 1 . 2 , 2 R, f - 6 贡第 2页J J G 1 u 2 6 -9 1 一 乃泣 咨冲酬尾娜奋 图
6、 1 电子束在水模休中的吸收刘量分布 D。 一P大剂M, D, -“致? n 射剂R, R 。 一最大剂量的深度,Rs o -5 0 绍吸收剂量对应的深度1 丑P -实用射程 衰)电 子 束 在 水 棋休 表 面 的 平 均 能 .9 。 和 从 吸 收剂 . 或 电 离曲线浦,求出 的半值深度的关系 fi u ( Me V ) R 兄 ( C II I )R孟 ( c m) 一一一一一 叭巴 , 月. , , ., 尸, 一 一. ,- 一一, 户 巴 ,一 力 G 1 0 2 6 - - 9 1 共 1页第 3页 续 表 石 。 ( Me V) R 0 ( c m ) , .吕 4.3 6
7、 . 1 6. 0 , 二 日 二 9 . 4 1 0 . T 1 2二 1 4.已 R ,I. ( c m ) 日 .8 4.3 6 . 1 .9 二T 7二 t.盛 口 . 皿 1 0.4 1 2.7 1 4. 0 .10招“1.比二”加朽 衰2在 水 摸 体中 电 子束 在 深 度Z 处 的 平 均 他 皿后 二 和 在 杭 体 表 面的平均能. 8 。的比值 表面平均能量云 。 2 瓜 ,5 Me V 1 o Me V 2 0 Me V 3 0 + I V n Q Me v 5 0 Me V O . OC 0. 05 0. 10 0. 15 0.2 0 0.2 5 0 . 6 0 0
8、. 2 6 0 . 4 0 0 . 4 5 0 . 6 0 0. 65 0 . 60 0.86 0.7 0 O.T 5 0.8 0 0 . 8 6 0. 90 0. 95 1. 0 0 1 . 000 0. 9A3 0. 日8 8 0.83 1 0 . 77 2 0. 7 1 2 0 . 6 5 1 0.5 87 0 . 6 2 7 0. 465 0. 4 1 1 0一8 59 0. 3 1 3 0. 27 0 0 . 231 0 . 19 7 C.18 4 0.13 7 0.11 4 0. 091 0.077 1. 00 0 0 一 541 0.8 84 0.8 26 0.76 6 0.7
9、05 0.6 45 0.6 83 0 . 5 2 3 0. 462 0. 407 0.3 55 O.R p9 0. 265 0. 226 0. 1 91 : : 1:1! ) 1 .0 00 0.93 6 0.6 75 0.呵t E 0.7 54 0.6 92 0.6 33 0.5 74 0一 51 4 0一 45 6 0一3 99 0.3 48 0.3 00 0.2 55 0.2 16 0.1 ,80 0.1 49 0 .12 0 0 .09 6 0.0 76 0.0 59 1 . 0 0 0 1 . 0 0 0 1 一 c o o 0 . 9 2 9 0 . 9 2 2 0 . 9 1 5
10、 , . 8 6 3 0 . 8 4 9 0 . x 3 5 0 . 7 9 7 . . 1 7 9 0 . 7 6 1 0 . 7 3 2 . . 7 1 2 0 . 6 9 2 0 . 6 6 9 0 . 6 4 8 0 . 6 2 7 0 . 6 0 7 0 .5 8 4 0 . 5 6 1 0 . 5 4 7 0 . 5 2 5 0 . 5 0 3 0 . 4 8 8 0 . 4 6 6 0 . 4 4 4 0 . 4 3 1 0 . 4 1 1 0 . 3 9 9 0 . 3 .7 9 0 . 3 6 1Q . 3 4 5 0 . 3 2 9 0 . 3 1 4 0 . 2 9 9
11、0 . 2 8 2 0 . 2 6 9 0 . 2 5 6 0 . 2 3 9 0 . 2 2 8Q . 2 1 7 0 . 2 0 2 0 . 1 9 2 0 . 1 9 2 0 . 1 6 8 0 . 1 6 9 0 . 1 5 0 0 . 1 3 80 . 1 3 1 0 .1 2 今 + . 1 1 1 0 . 1 0 5 0 . 0 9 9 0 . 0 容 日0 . 0 3 4 0 . 0 7 9 0 . 0 6 9 0 . 0 6 50 . 0 6 1 0 . 0 5 3 O . C 49 0 . 0 4 5 . . . 种 . . . . .,. ,. 阳 曰 . , . . .
12、口侧 .曰. . 共1 6 页第4页J J G1 0 2 6 -9 1 R , 定义:深度剂量曲 线的最陡 下降 部分的斜线与韧致 辐射剂m外 延部分的交点所对应的深度,如图 1 所示。 1 . 2 . 3 E. 由表2 根据E , , R , 查出 。 亦可用R , 从下式近似计算出水深t 处的平均能量后 : : F 二E , ( 1 一 : / R , ) ( 2 ) 这个近似式用子1 0 Me V以下电子束及2 较小 时的高能电子束。 2 高能 X射线 2 . 1辐射质用水深 2 0 c m与工 0 c m处吸收剂量的比值D 二 表征. 2 . 2测定方法 如图2 ,射野为1 0 c m
13、 x 1 0 c m , S S D= 1 0 0 c m . 测量时源皮距保持一定,探测器由水深1 0 c m移至 2 0 c m ,测量出 两点的剂量值。 、 S S D10 0 c m t、 尹、| . J,毛1 llj - lOcmxiOcml- i 1 D- n 2 c m 图2 测量加过器 X射线辐射质的实验配置 7 7 G 1 0 2 8 - 9 1共1 6 页第 弓页 3 1 0 0 -3 0 0 k V X射线 3 . 1 辐射质用半值层表征.同时注明X射线管管电 压和过滤 片。 3 . 2半值层的测定 半值层的数据用铝或铜的厚 度表示.建议有条件的单位测 量第二 半值层.用
14、于测量半值层的吸收片 材料的纯度应达到9 9 . 5 Y. ,吸收片 厚度均匀 ,无气孔、裂隙等缺陷。厚度值准确 度为士5 0 0 . 实验装置 配置如图3 . 、 一 月 一 ,一 片 工 二 刃 牡 三 - 一 ) I 1! 一 衬S 二召 图 3 测定半值层的实验装置 F -X管 焦斑,L 一过滤片,M 一准 直器 , S -附加吸收片,N一探测器, D D: 一分别为X管焦点至 附加吸收片和附加吸收片至探测器的距离, D, D,( 一般取5 0 c m) 三 在水模体中测凰时的参考条件 参考条件用一组影响量描述.在这个条件下测 量,使用校准因子 不需加其他修正。在水模体中 用电离宝U
15、!I 定吸收剂量规定的参考条件 如表3 . 戮压 6 负第6贫习 万 C, 0 2 右 一9 1 表3在水摸体中匣用电离宣侧定吸收荆,时照射.考条件 辐射束辐射质 摸 体中校 准 澡 度 ( c m) 电离宣有 效测 最点 SSD 照 剔野 ( e m x c m) 中能 2m . A t 0 . 7 0 H ./ Me v 5 M e V的电子 束,可用圆柱形电离 室.电 离 室 的 体 积在 0 . 1 1 c m 0 ,空腔内径 2 5 MC V J C O - 6 0 和光 子 E S2 5 Me V 0 , 5 1 . 0 1 .5 2. 5 1. 00 8 1 . 0 1 6 1.
16、 02 0 1. 03 2 1 .0 0a 1 . 0 0 8 1 .0 10 1. 016 1.0 00 1. 000 1. 000 1. 000 P . - 尼龙 1 . 0 1 1 _ A- 1 5 0 黑 乡牙弓 1 . 0 0 石 . 0 . 9 9 C- 5 5 2 0 . 9 8 L0 . 56 0 C 0 6 . 0 ( T P R l o ) 图5 各 种室壁材料电 离室的 扰动修 正因子P v 和 光 子辐射质的关系假定电离室是指形, 壁厚等于0 . 5 m m M . 0 水对空气的 平均阻止本领比,其值如裹8 ; P- 一 扰动因 子,其值 如图5 1 T P R f
17、. 值可由表8 从D s 0 I D 1 。 值 查出, J J G 1 2 6 -9 1共1 6 页第1 3 页 裹 3 门 用. . 月, , . . 、 、 .知,一一 ! 络 9 士 光子京的水对空气的限止*饭比 ( 5 . 1 . ) 与光子辐射质的关系 T P 尺 , . 质 D. W Du ( S a . 1. ) 今考深度 ( c m ) 能量 ht v 55610lQ101010拍IQ6 0 9 0 .53 D. 5已 9. 59 0 . 6 2 0. 65 0一 6日 0 一 ? 0 0 . 7 2 0. 74 0.76 0 . 了 3 0 .B 0 0 . a 2 0.8
18、 4 C 8 - 1 3 7 Co - 6 0 0. 44 0. 47 0. 49 05 2 0.5 4 0.5 6 0. 5习 0. 6D 0. 61 0. 63 0. 65 0. 66 0. 68 0. 69 0.71 1 .13 5 1 .13 4 1 .1 32 1 一 1 3 0 1 . 1 2 7 1.1 23 1.1 19 1.11 6 1 . 1 1 1 1 . 1 0 6 1. 099 1. 09 0 1. 08 0 1 . 0 6 9 1 .05 9 1 . 1 3 6 1. 13 3 P . . 1 - 一 中 央收集极修正,石墨、塑料收集极P . . 1 = 1 ,对铝
19、收集 极型的F a r me r 电离室其值如表 7 . 8 中能 X射线 1 0 0 - 3 0 0 k V 计算公式为: D w 二 M . N 二 W/ e ( 1 一 s ) 一 “ k . ( u . . / P ) . 1 . P . ( b ) 式中:k一考虑校准时的能谱与测量时能谱不同引入的修正因 子,如电 离室满足规定的要求,取k之 1 1 (p . . / P ) . . 水对空气的质能吸收系数之比,数值列于表9 3 B -一对于中能X射线,9 取为。 , P- - 一 扰动修正因子,如表 1 0 . 共1 6 页第1 4 贾J J G 1 0 2 6 - 9 1 .s 射
20、坟质能吸收系数的比位 ( A . . 加, 。 : , 和HV L的关系 ( 直径 1 1 . 3 c m 圆形野 A S D = 1 0 0 c m z 为水深) 管电压 kV 7 1 VL ( mm) 人 1 C u I t ! P . . 1 r 名 一 0 . 0 c 口 ,2- 2 亡 m之-5e 们 比 l 00 1 29 1 4 0 15 0 20 0 26 0 2 80 4. 2 8 0.1 7 0.3 0 0.4 8 0.8 3 I一 60 2. 47 3. 37 1 .0 27 1 .03 6 1 . 047 1. 061 1. 080 1. 092 1.1 0 0 1 .
21、 027 1 . 036 1. 045 1 . 0 5 8 1 .07 5 1 . 0 8 9 1 . 097 咤. 0 2 8 1 . 0 3 6 1 . 0 4 4 1.0 5 7 1. 073 1. 086 1. 094 表 1 0X 射线在摸体中s c m深度处,指形电离室的 扰动 修正因子 ( 电离室体积 0 . 3 - 1 c m) 管 终 ( kV ) HV L m m Alm m cu 扰动 修正 因子 Pe 1 09 1 20 1 40 1 60 200 26 0 280 : : 0 . 1 7 0.9 0 0 . 4 9 0. 日, 1 . 7 0 2 . 4 7 9 .8
22、7 1 一 1 0 1. 09 1 . 0 8 1 . 0 6 1 . 0 4 1 .02 1 . 0 1 六测f水中吸收剂且的不确定度 按 L 面的规定程序,测定校准点水中的吸收剂量的不确定度,按 方和根计 算 ( o ),对中能X射线为2 . 0 %, C O - 6 0 Y 射线为1 . 8 %, 高 能X射线为1 . 9 y o ,高能电子束为2 . 1 %, J J G 1 0 2 6 - 9 1共 1 6 页第1 5 页 附录 有关主要名词及符号解释 射线 质: 射线质指的射线能量.主要表示射线贯穿物体的能力。 半值 层;使原射线量减弱一半所需要的 某种吸收材料的厚 度,亦 称为第
23、一半值层.再减弱一半所需要的厚度称第二半值层。 射线中心轴:表示射线束的中心对称轴线。临床上一般用放射洱 S 通过最后一个限 束器中心的连线作为 射野中心轴. 参考点:一般情况 下,为剂量计算或测量参考, 规定 棋体表面下 射线中心轴上的一点,如4 0 0 k V以下X射线,参考点取在模体 表 面,对高能X线或丫 射线参考点取在模体表面下最大剂量点位 置, 其位置随能量而定.模体表而到参考点的 深度为 参考深 度 ( d o ) . 校准点:在射线中心轴上指定的测量点。模体表面到校准点的深 度为校准深 度 ( d ) . P . r t :电 离室的有效测量点.它位于电离室几何中心前面.对电
24、离室测量体积内的通量梯度进行修正。 S S D .源皮距。表示沿 射线中心轴从射线源到模体表面 的距 离。 R , :对电子束,测量的百分深度电离曲线中 ,半峰值处有效测 量点刘应的水深。 R , :对电子束,测量的百分深度吸收剂量曲线中,半峰值处有效 测量点对应的水深. D;a :在固定源皮距时,水深2 0 c m与水深 1 0 c m处吸收剂量的比 值. T P R ; e ,在固定源 一探测器距离时, 水深2 0 c m与水深1 0 c m处吸 收剂量的比值. 共1 6 页第1 6 页J J G 1 0 2 8 -9 1 k , , t ;在校准时 考虑电离室室壁 的吸收和散射引入 的修
25、正因 子。 礼: 在校准时考虑电 离室壁及平衡帽非空 气等 效 引入的修正因 子。 P:电 离室在用户射束中 使用时,考虑到电离室非水等效引入的 修正因子.进行这项修正时,要使用电离室的有效测量点。 *草庐一苇草庐一苇*提供优质文档, 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件, 请发站内 信和我联系!我一定帮你解决! 提供优质文档, 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件, 请发站内 信和我联系!我一定帮你解决! 本人有各种国内外标准 20 余万个, 包括全系 列 GB 国标国标及国内行业行业及部门标准部门标准,全系列 BSI EN DIN JIS NF AS NZS GOST ASTM ISO ASME SSPC ANSI IEC IEEE ANSI UL AASHTO ABS ACI AREMA AWS ML NACE GM FAA TBR RCC 各国船级 社 船级 社 等大量其他国际标准。豆丁下载网址:豆丁下载网址: http:/
链接地址:https://www.31doc.com/p-3787649.html