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1、中华人民共和国通信行业标准 Y D / T 7 4 8 一 9 5 P D H数字通道差错性能的维护限值 本 标准 参照 采用I T U -T M . 2 1 0 0 和M . 2 1 1 0 建 议。 , 主肠内容与适用范围 1 门主题内容 本标准规定了数字通道维护工作所需要的投人业务的差错性能限值, 以便达到多种业务环境所给 出的性能指标。 1 . 2 适用范围 本标准适用于运行在P D H网上其传输速率从6 4 k b i t / , 到 1 3 9 2 6 4 k b i t / s 的各数字系列级的数字 通道差错性能的维护限值。 数字通道的差错性能限值只在通道的可用时间周期内 评估,
2、 , 。 注: 1 ) 不可用时 周期开始于连续1 0 。 期间, 当每秒均是S E S 时, 此1 0 s 包括在不可用时间内。 当连续l o g 期间, 每 秒均不是S E S时, 不可用时间结束, 此1 0 , 为可用时间。当通道的一个方向或两个方向处于不可用状态时, 则通道处于 不可用状态。总侧试时间减去不可用时间周期, 即为可用时间周期。 2 引用标准 G B 7 6 1 1 脉冲编码调 制通信系统网路数字接Q 参数 3 数字通道的定义 在 连接两个终 端设备或交 换的 数宇配线架( 或等效设备) 之间, 发送和 接收规定 速率的 数字信号的 全部手段。终端设备是规定比特率的信号始发
3、和终止的设备( 见图1 ) , 往: 一个数字通 道包含一个或多个数字段. 在适当的场合, 应当用比 特率来表明数字通道. 数字通道通过数字交换互连, 形成数字连接。 4 限值 4 . 1 差错性能参数 a . 差错秒( E S ) ; b . 严重差错秒( S E S ) , 4 . 2 开业务侧量评估E S / S E S 参数 4 . 2 . 1 E S和S E S 两者是从该网络级上有关的通道终端设备的开业务异常和开业务缺陷在 i s 的累计 周期上来评估的。 4 . 2 . 2 开业务异常信息 当通道附加位( P a t h o v e r h e a d ) 相对其正常值有任一变化
4、, 但总的通道信号相对其标准状态没有状 态变化, 即没有开业务缺陷存在的情况下, 则认为通道上有“ 开业务异常” 发生。 中华人民共和国邮电部1 9 9 5 一 0 4 一 2 4 批准1 9 9 5 一 1 1 一 0 1实施 Y D/ T 7 4 8 一 9 5 巴009叮。1卜工Q口 心孙翻 望忿二另落 城 刃1一q韶落 一-1- 一七趁常却 昙军姗峰哪竺 望村一q翎始 砌创娜初卜招 占.1!甲 啦 翎照件翻愁知台韶 翅卜翻掇 雄胜忆- 馨 ! 鬓 团件粗洲 橄称记1 节像贫昙军 署吸那也称月- 串军名铡暇饰撼T困 。十军招铡嗜安瀚饰粼专嗽园!肖 。国一自划嘱饰撼牲忆2专如却扣.哪井裕赞
5、忆!专!暇1!。 .杀雄1通中la搁暇补截弓刀龙妇书葱和翻簇叹补很、扣芝衬小,积bl .芝、1辱,I!魄国!欢.郎怜裕之名刃月哪。专的职切扣侧暇体级弓刀洲,.令1曦芝Iv。 .粥解傲卑名哪济截之祠洲芯嗽扣.哪密浙补抓之祠闷洲名专1喇国!叫0 恻圈件招四忿q召召 之签彭劝二万召召 石 班郭洲李 创孙翻滋忆一 测用补每称尧闪 翻招赢咯斋筒名稼喊禅脸甘娜补橄浙叹俗补拓翁神 、,“公 夜书截沂省联暇时件翻奈 侧圈件翻望忿q芝日 盛丁les.一llwe亡 心国 团件翻 催.决一 端蜷欲辈瓷闷昌或 娜蜷择竺 远忿q芝 创井妇 有里旦容奚 司件翻 毯万.刃 硬1q召召 白件翻 漆雄 叫盆趁常禅 且军绷哺释之
6、 翅忿q召洛 岛翅忿q苗召 Cm 忆 趁忿月一始 lrL e州 1 8 2 Y n / T 7 4 8 一 9 5 开业务异常的例子是: a . 帧定位信号( F A S ) 破坏; b . C R C代码字破坏; c奇偶校验比特破坏; d . 接口 代码破坏等。 4 . 2 . 3 开业务缺陷信息 当总的通道信号相对其正常状态有一个状态改变时, 认为通道上发生了一个“ 开业务缺陷” 。 开业务缺陷的例子是: a . 丢失信号( L O S ) ; b . 丢失帧定位( L O F ) ; c . 告警指示信号( A I S ) 等。 4 . 2 . 4 从通道终端设备上的每秒开业务异常和缺陷
7、判据可以评估E S 和S E S 参数, 异常导致E S , 缺陷 导致 S E S和E S . 4 . 3 停业务测量评估E S / S E S 参数 4 . 3 . 1 E S 和S E S两者是从该网络级相关的测试设备的停业务异常和停业务缺陷在适当的累计周期 上来评估的。 4 . 3 . 2 停业务异常信息 当测试信号相对其正常值有任一变化, 但总的测试信号相对其标准状态没有状态变化, 即没有缺陷 存在的情况下则认为停业务异常发生。 比特差错是能被测量的最基本的停业务异常。 4 . 3 . 3 停业务缺陷信息 当测试信号相对其正常状态有一个状态改变时, 则认为有一个停业务缺陷发生。 4
8、. 3 . 4 从测试设备中 停业务异常和缺陷信息评估E S 和S E S 由于通常有到比特级的分辨力, 对E S 和S E S 的参数的主要评估判据将是: E S 一个有1 个比特差错的i s 周期。 S E S 一个有连续计数B E R 1 0 - “ 的i s 周期。 此外, 如果测试设备中采用了一个嵌入在标准化通道信号中的伪随机比特序列( P R B S ) , 则也可以 使用4 . 2 条中的开业务异常和缺陷的E S / S E S 判据。但是如果测试设备中采用的是未嵌入在标准化通 道信号中的P R B S , 则能被考虑的附加异常或缺陷信息仅是: 异常接口代码破坏。 缺陷- - -
9、 A I S , L O S , 特别是, 一个有大于或等于1 L O S 的i s 周期应当认为会发生一次S E S ( 和一次E S ) . 如果A I S 有 足够持续时间引起任何I s 周期内B E R大于或等于1 0 - 3 , 则应认为是S E S ( +E S ) 事件。 4 . 4 性能指标 端到端差错参考性能指标( P O ) 见表1 . 表 1 速率, k b i t / s差错秒( F S) , % 严盆差错秒( S t s ) . % 通J日只日J气 6J4由0匕 OJ口甘月 勺R40甘 口gnj 1i 4 . 5 差错性能配额 Y D / T 7 4 8 一9 5 4
10、 . 5 . 1 C 2 以上高级数字通道的通道单元见表 2 0 表 2 通道类别 配额 , % 陆上通道或非光纤海缆 d 蕊5 0 0 k m 5 0 0 k m 7 5 0 0 k m 2 . 0 3 . 0 4 . 0 6 . 0 8 . 0 1 0 . 0 光纤海缆 d 簇5 0 0 k m d 5 0 0 k m 1 . 0 2 。 5 卫 星 2 0 n 注: 1 ) 在比特率高于一次群速率时, 还须证实. 4 . 5 . 2 C 2 -C 4 间的中级数字通道见表 3 , 表 3 通道配撅, % C2 - C3 C3 - C4 C4 - C5 4 . 0 4 . 0 6 . 0
11、4 - 5 . 3 以微波系统作传输手段的通道单元的S E S附加配倾 4 . 5 . 3 . 1 C 2 以上高级数字通道内的通道单元 若通道单元的长度为L , 附加配额值=( 5 0 0 o x L / 2 5 0 0 ) , 当L 2 5 0 0 k m 4 . 5 . 3 . 2 C 2 -C 4 的中级数字通道内的通道单元 C 2 -C 4 内, 若通道单元原配额为C , 则附加配额值=1 . 7 C , 4 . 5 . 4 选路系数( r f ) 4 . 5 . 1 条中所列通道单元长度是实际路由长度或者空间路由距离乘以适当的选路系数, 取其小者。 对于海缆应使用实际路由 长度,
12、选路系数( r f ) 见表4 , 表 4. 通道单元空间路由距离选路系数( r i ) 陆地 d 蕊1 0 0 0 k m d1 0 0 0 k i n l 1 . 5 1 . 2 5 4 . 6 投入业务( B I S ) 性能限值 投入业务限值的导出是给定通道单元的参考性能指标的配额和测量持续时间的函数, 井基于实用 原则。 通道单元的R P ( ) 和B I S限值之间的差称为老化边际, 该边际应尽可能大以便尽量减少维护干预。 对B I S 测试提供了两个限值S 1 和S 2 , 如果性能优于第一个限值S 1 , 则实体能以一定的置信度被投入业务。 如果性能在两个限值之间, 必 1 8
13、 4 Y D / T 7 4 8 一9 5 须进一步测试而实体仅能暂时地被接受。如果性能劣于第二个限值S 2 , 则需要较正动作。 4 . 6 . 1 B I S 限值的计算 对每个参数( E S和S E S ) 的B I S限值 S 1 和S 2 是在B I S指标的基础上计算的, 已确定它比R P O优 两倍( B I S 指标=R P O / 2 ) o R P O是由通道中全部通道单元以百分数表示的配额的总和来确定的。 当一个或多个通道单元的配 额有改变时, 要重新将各单元配额的百分数相加以求得全通道的R P O, 然后从全通道的R P O导出B I S 指标, S 1 和S 2 。但
14、是不应用单个通道单元的值求和来确定端到端 的B I S 指标、 S 1 和S 2 。这是为了 避免由于下述而引入的误差: a S 1 和S 2 值的固有的非线性; b B I S 指标、 S 1 和S 2 的累计取整误差: B I S 指标、 S 1 和S 2 计算如下: B I S指标=R P O / 2 S 1 =R P O/ 2 一D S 2 =RP O/ 2 +D 这里R P O = A X T P X P O D =2 X J 面 互猎 称 式中: A 通道配额; T P -测试周期, s ; P O -端到端参考性能指标。 限值S 1 和S 2 取整到最接近的整值。 T P的应用范
15、围从最小的二小时到几天。 4 . 6 . 2 B I S限值的数值 根据通道配额和测试持续时间计算得到的各B I S 限值见附录A -E 。注意S 1 和S 2 限值不用于七 天。 4 . 6 . 2 . 1 二十四小时B I S限值 附录表A 1 , B 1 , C 1 , D 1 , E 1 给出二十四小时测试周期的S 1 和S 2 限值。 4 . 62 . 2 七天B I S 限值 在某些情况必须有七夭的补充测试, 每个参数( E S 和S E S ) 必须满足七天的B I S 指标。 附录表A 2 , B 2 , C 2 , D 2 , E 2 给出不同通道配额的七天的B I S 指标
16、。 4 , 6 . 2 . 3 三天B I S 限值( 选用) 在某些情况必须有三天的补充测试, 每个参数( E S 和S E S ) 必须满足三天的B I S 限 值。 该限 值可如 下计算: .对E S , 取三天的限值 S 1 作为S E S . 。 即S E S , =S l ES 4 ; b . 对S E S , 根据二次抽样方案, 三天的限值 S S E S . 3 应小于一天的S 2 , 即S S E 5 . 3 -S 2 s n , r 1 附录表A 2 , B 2 , C 2 , D 2 , E 2 给出不同通道配额的三天限值。 4 . 6 - 2 . 4 二小时B I S
17、限值 当在同一个高次群数字通道上, 多于一个通道在同时投入业务, 有一个二小时的测试, 附录表A 3 , B 3 , C 3 , p 3 , E 3 给出 不同通道配板的二小时B I S 限值。 5 . 投人业务( B I S ) 的过程 5 . 1 确定B I S限值 根据通道组成的传输媒介、 传翰距离及通道的级别, 以本标准第4 章原则计算通道的配额。 按通道 运行的情况, 确定测量的持续时间。 以测量的持续时间、 不同比特率通道的性能指标以及通道的配额, 算出两个投人业务限值S 1 和 S 2 , 5 . 2 B I S测试方法 Y D / T 7 4 8 一9 5 投人业务测试是在通道
18、终点间采用符合G B 7 6 1 1 标准的伪随机序列( P R B S ) 的测量仪器进行停业 务测量。 测试可采用对测或环测。环测时只在一端需要测试仪器, 另一端置成环回( 在配线架上将抽出连到 输人) 。 当以环回方式进行测量时, B I S各参数的指标( 限值) 只按一个方向的距离考虑。 若环测失败, 则 可按对测方式重新测量, 对测仍失败者应查找原因。测量中应排除电源及局站设备对测量仪器的影响。 5 . 3 B I S 测试步骤 第1 步: 初始测量周期为十五分钟, 在此周期内应当没有差错和不可用事件, , , 然后投入第2 步测 试. 若在此周期内观察到任何事件, 则须重复本步骤多
19、至2 次。 如果第三次( 最后一次) 测试周期内仍观 察到一些事件, 则须查明原因, 清除故障。 十五分钟差错性能的 快速测试, 目 的在于确定是否可能进行第2 步的测试, 而不 保证通道能否 满足 B I S限值。 第2 步: 第1 步通过之后, 再进行连续二十四小时时间周期的测试。 在二十四小时测试周期结束时, 将所测的E S 和 S E S的事件与B I S 限值的S 1 和 S 2 相比较。若在 B I S 测试期间的任何时刻发生不可用事件, , , 应当查明原因, 重新安排新的B I S 测试。 注: 1 ) 不可用时间周期开始于连续1 0 s 期间, 当每秒均是S E S 时, 此
20、1 0 . 包括在不可用时间内。 当连续1 0 : 期间, 每秒均不是S E S时, 不可用时间结束, 此 1 0 , 为可用时间。当通道的一个方向或两个方向处于不可用状态时, 则通道处于不可用状态, 即出现不可用事件 5 . 3 . 1 在运行期间无I S M( 开业务监测) 的各通道投入业务 在完成第2 步测试结束时, 以二十四小时的B I S 限值S 1 与S 2 ( 见附录表A 1 , B 1 , C 1 , D 1 , E 1 ) 验收 通道。其中可能出现下述情况: a . 若E S 和S E S 两者均小于或等于它们各自 的S 1 , 则该通道被接受并投入业务。 b . 若E S
21、或S E S ( 或两者) 大于等于它们各自的S 2 , 则该通道不能被接受, 并哲不投入业务。 查明 原因清除故障。 c . 若E S或S E S ( 或两者) 大于它们各自的S 1 并小于各自的S 2 , 则通道暂时被接受或再测试。再 侧可延长至三天( 包括第一天的测试) 。 当三天所测的E S 和S E S 均不超出三天的B I S限值时, 通道被接 受, 否则暂不投入业务( 详见附录表A 2 , B 2 , C 2 , D 2 , E 2 ) , 5 . 3 . 2 在运行期间具有 I S M( 开业务监测) 的各通道投入业务 必须完成B I S 测试的上述的两个步骤, 在第2 步结束
22、时, 可能出现下述情况: a . 若E S 和S E S两者均小于或等于它们各自的S 1 值时, 则该通道被接受, 投入业务并进入正常 的I S M维护方式。 b . 若E S 和S E S ( 或两者) 大于或等于它们各自的S 2 值时, 则该通道被拒绝接受并进人故障定位 的I S M维护方式。 c . 若E S 或S E S ( 或两者) 大于各自的S 1 值, 但均小于各自 的S 2 值, 则该通道暂时被接受并采用 I S M方式进行延长七天的B I S 测试周期( 包括第一天的测试) 。 七天的I S M测试仅限于具有I S M功能, 并已 检出第二步的二十四小时测试结果为边界性能的通
23、道。 七夭的I S M测试结果应不超出七天的投入 业务限值( 详见附录表A 2 , B 2 , C 2 , D 2 , E 2 ) 则通道被接受并投人业务, 否则暂不投入业务进入故障定位 的I S M维护方式。 5 . 4 在同一高次群数字通道上, 同时将多个通道投入业务 5 . 4 . 1 在未投人业务的每个高于一次群速率的高次群通道 a . 最先投入业务的高次群数字通道的支路应测试二十四小时。 b . 其余高次群支路应测试二小时。 投入业务限值见附录表A 3 , B 3 , C 3 , D 3 , E 3 , c . 每个高次群的最先投入业务的一次群速率的数字通道, 不论是否有I S M均
24、应测试二十四小 时。 Y D / T 7 4 8 一 9 5 d . 其余的一次群通道, 每个通道应测试十五分钟。这些支路可按串联环路方式连接, 并同时测试 十五分钟。其B I S 限值仍按一个传输方向距离的十五分钟的B I S 限值衡量, 即在十五分钟的测量周期 内, 应当没有差错和不可用事件。 e . 上述b , d 中凡首次测试未达到接受限值的通道, 均应进行二十四小时的B I S 测试。 注: 申联环路方式连接时, 多支路申接后其抖动指标应满足G B 7 6 1 1 的要求。 5 . 4 . 2 在具有共同位于通道终点的已投人业务的高次群通道上, 多个一次群通道的投人业务 a . 若具
25、有I S M功能, 各支路均测试十五分钟或将它们串联环回测试十五分钟, 其B I S限值仍按 一条支路一个传抽方向的十五分钟限值衡量, 即在十五分钟的测量周期内, 应当设有差错和不可用事 件。 b . 若无I s m功能, 则第一条支路测试二十四小时, 其余各支路测十五分钟或将它们串联环回测 试十五分钟, 其B I S 限值仍按一条支路一个传翰方向的十五分钟限值衡量。 注: 申联环回时, 多支路申接后其抖动指标应满足G B 7 6 1 1 的要求. Y D/ T 7 4 8 一 9 5 附录A 6 4 k b i t / s 的投人业务( B I S ) 性能限值 ( 补充件) 表 A 1 测
26、试周期为l d 的B I S 限值( 6 4 k b i t / s ) 通道配额 % E S ( 4 % )S E S M 1 %) RP O B I S O Si S 2RP O BI S O Si S 2 0 . 5 1 . 0 1 . 5 2 . 0 2 . 5 3 . 0 3 . 5 4 . 0 4 . 5 5 . 0 5 . 5 6 . 0 6 . 5 7 . 0 7 . 5 8 . 0 8 . 5 9 . 0 9 . 5 1 0 . 0 1 5 . 0 2 0 . 0 2 6 . 0 3 0 . 0 3 5 . 0 4 0 . 0 4 5 . 0 5 0 . 0 5 5 . 0
27、1 7 9 3 1 5 3 5 1 7 9 2 6 5 2 2 5 1 6 3 6 6 9 3 5 2 3 4 6 8 6 4 3 3 0 5 6 1 0 4 5 2 3 7 6 6 1 2 1 6 0 4 5 7 6 1 3 8 6 9 5 2 8 6 1 5 6 7 8 6 0 9 5 1 7 3 8 5 6 5 1 0 5 1 9 0 9 5 7 6 1 1 5 2 0 7 1 0 4 8 3 1 2 4 2 2 5 1 1 2 9 1 1 3 4 2 4 2 1 2 1 9 9 1 4 3 2 5 9 1 3 0 1 0 7 1 5 2 2 7 6 1 3 5 1 1 5 1 6 2
28、2 9 4 1 4 7 1 2 3 1 7 1 3 1 1 1 5 6 1 3 11 8 0 3 2 8 1 6 4 1 3 9 1 9 0 3 4 6 1 7 3 1 4 7 1 9 9 5 1 8 2 5 9 2 2 7 2 9 1 6 9 1 3 4 6 3 0 8 3 8 3 8 6 4 4 4 2 3 9 0 4 7 4 1 0 3 7 5 1 8 4 7 3 5 6 4 1 2 1 0 6 0 5 5 5 6 6 5 4 1 3 8 2 6 9 1 6 3 9 7 4 4 1 5 5 5 7 7 8 7 2 2 8 3 3 1 7 2 8 8 6 4 8 0 5 9 2 3 1 9
29、 0 1 9 5 1 8 8 8 1 0 1 2 0 0 0 1 1 0 0 2 1 1 0 2 2 1 0 3 2 1 0 3 . 3 1 0 4 3 2 0 4 3 2 0 4 4 2 0 5 4 2 0 5 5 2 0 5 5 3 0 6 6 3 0 6 6 3 0 7 6 3 0 7 7 3 0 7 7 4 0 8 8 4 0 8 8 4 0 8 9 4 0 8 1 3 6 1 1 2 夕 1 7 9 3 1 5 2 2 1 1 4 1 7 2 6 1 3 6 2 0 3 0 1 5 7 2 3 3 5 1 7 9 2 6 3 9 1 9 1 1 2 8 4 3 2 2 1 2 3 1
30、 4 8 2 4 1 4 3 4 1 8 ft Y D / T 7 4 8 一 9 5 表 A 2 测试周期为 3 d 和 7 d 的B I S限值( 6 4 k b i t / s ) E S =4 0 oS E S = o . 1 % 通道配倾 % ES ( 3 d ) S ES( 3 d )E S( 7 d )S ES( 7 d ) B I S OS3B I S OS 3 B I S OB I S O 0 . 5 1 . 0 1 . 5 2 . 0 2 . 5 3 . 0 3 . 5 4 . 0 4 . 5 5 . 0 5 . 5 6 . 0 6 . 5 7 . 0 7 . 5 8 .
31、0 8 . 5 9 . 0 9 . 5 1 0 . 0 1 5 . 0 2 0 . 0 2 5 . 0 3 0 1 0 3 5 . 0 4 0 . 0 4 5 . 0 5 0 . 0 5 5 , 0 2 6 5 2 7 8 1 0 4 1 3 0 1 5 6 1 8 1 2 0 7 2 3 3 2 5 9 2 8 5 3 1 1 3 3 7 3 6 3 3 8 9 4 1 5 4 4 1 4 6 7 4 9 2 5 1 8 7 7 7 1 0 3 7 1 2 9 6 1 5 5 5 1 8 1 4 2 0 7 4 2 3 3 3 2 5 9 2 2 8 5 1 1 6 3 7 6 0 8 3
32、1 0 7 1 3 1 1 5 5 1 7 9 2 0 3 2 2 7 2 5 1 2 7 6 3 0 0 3 2 5 3 4 9 3 7 4 3 9 9 4 2 3 4 4 8 4 7 3 7 2 1 9 7 2 1 2 2 4 1 4 7 6 1 7 2 9 1 9 8 3 2 2 3 6 2 4 9 0 2 7 4 4 1 1 2 3 3 4 5 5 6 6 7 8 8 9 1 0 1 0 1 1 1 2 1 2 1 3 1 8 2 7 3 2 3 9 4 5 5 2 5 8 6 5 7 1 0 1 1 2 2 3 3 3 4 4 4 5 5 6 6 6 7 7 7 7 1 1 1 4
33、1 6 1 9 2 2 2 5 2 7 3 0 3 3 6 0 1 2 1 1 8 1 2 4 2 3 0 2 3 6 3 4 2 3 4 8 4 5 4 4 6 0 5 6 6 5 7 2 6 7 8 5 8 4 7 9 0 7 9 6 8 1 0 2 8 1 0 8 9 1 1 4 9 1 2 1 0 1 8 1 4 2 4 1 9 3 0 2 4 3 6 3 0 4 2 3 5 4 8 3 7 5 4 4 2 6 0 4 8 6 6 5 4 2 3 5 6 8 9 1 1 1 2 1 4 1 5 1 7 1 8 2 0 2 2 3 2 4 2 6 2 7 2 9 3 0 4 5 6 0
34、7 7 9 1 1 0 5 1 21 1 3 7 1 5 1 1 6 6 1 8 9 Y D / T 7 4 8 一 9 5 表 A 3 测试周期为2 h的B I S 限值( 6 4 k b i t / s ) 通道配额 % E S ( 4 % )S E S ( 0 . 1 %) RP O B I S O Si S 2RP O B I S O Si S 2 0 . 5 1 . 0 1 . 5 2 . 0 2 . 5 3 . 0 3 . 5 4 . 0 4 . 5 5 . 0 5 . 5 6 . 0 6 . 5 7 . 0 7 . 5 8 . 0 8 . 5 , , 0 9 . 5 1 0 .
35、0 1 5 . 0 2 0 . 0 2 5 . 0 3 0 . 0 3 5 . 0 4 0 . 0 4 5 . 0 5 0 . 0 5 5 . 0 1 1 0 2 3 1 0 4 4 8 0 5 6 3 0 6 7 4 0 7 9 4 0 8 1 0 6 1 1 0 1 2 6 1 1 1 1 3 6 1 1 2 1 4 7 2 1 3 1 6 8 2 1 4 1 7 9 3 1 5 1 9 9 3 I S 2 0 1 0 4 1 6 2 2 1 1 4 1 7 2 3 1 2 5 1 8 2 4 1 2 5 1 9 2 6 1 3 6 2 0 2 7 1 4 6 2 1 2 8 1 4 7
36、2 2 4 3 2 2 1 2 3 1 6 8 2 9 1 8 4 0 7 2 3 6 2 4 4 8 8 6 4 3 3 0 5 8 1 0 1 5 0 3 6 6 5 1 1 5 5 8 4 2 7 2 1 3 0 6 5 4 9 8 1 1 4 4 7 2 5 5 8 9 1 5 8 7 9 6 1 9 7 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0
37、2 1 0 0 2 1 0 0 2 1 1 0 2 1 1 0 2 2 1 0 3 2.1 0 3 2 1 0 4 3 1 0 4 3 2 1 4 4 2 1 4 4 2 1 5 1 9 0 Y D / T 7 4 8 一9 5 附录B 2 0 4 8 k b i t / , 的投人业务( B I S ) 性能限位 ( 补充件) 表 B 1 测试周期为i d 的B I S 限值( 2 0 4 8 k b i t / s ) 捅道即额 % E S ( 2 %)S E S ( 0 . 1 *%) RP O B I S O Si S 2R P O B I S O Si S 2 0 . 5 1 . 0
38、 1 . 5 2 . 0 2 . 5 3 . 0 3 . 5 4 . 0 4 . 5 5 . 0 5 . 5 6 . 0 6 . 5 7 . 0 7 . 5 8 . 0 8 . 5 9 . 0 9 . 5 1 0 . 0 1 5 . 0 2 0 . 0 2 5 . 0 3 0 . 0 3 5 . 0 4 0 . 0 4 5 . 0 5 0 . 0 5 5 . 0 9 4 0 8 1 7,3 1 5 2 6 1 3 6 2 0 3 5 1 7 9 2 6 4 3 2 2 1 2 3 1 5 2 2 6 1 6 3 6 6 0 3 0 1 9 4 1 6 9 3 5 2 3 4 6 7 8 3 9
39、 2 6 5 1 8 6 4 3 3 0 5 6 9 5 4 8 3 4 6 1 1 0 4 5 2 3 7 6 6 1 1 2 5 6 4 1 7 1 1 2 1 6 0 4 5 7 6 1 3 0 6 5 4 9 8 1 1 3 8 6 9 5 2 8 6 1 4 7 7 3 5 6 9 1 1 5 6 7 8 6 0 9 5 1 6 4 8 2 6 4 1 0 0 1 7 3 8 6 6 8 1 0 5 2 5 9 1 3 0 1 0 7 1 5 2 3 4 6 1 7 3 1 4 7 1 9 9 4 3 2 2 1 6 1 8 7 2 4 5 5 1 8 2 5 9 2 2 7 2 9
40、 1 6 0 5 3 0 2 2 6 8 3 3 7 6 9 1 3 4 6 3 0 8 3 8 3 7 7 8 3 8 9 3 5 0 4 2 8 8 6 4 4 3 2 3 9 0 4 7 3 9 5 1 4 7 6 4 3 2 5 2 0 0 0 0 1 1 0 0 2 1 1 0 2 2 1 0 3 2 1 0 3 3 1 0 4 3 2 0 4 3 2 0 4 4 2 0 5 4 2 0 5 5 2 0 5 5 3 0 6 6 3 0 6 6 3 0 7 6 3 0 7 7 3 0 7 7 4 0 8 8 4 0 8 8 4 0 8 9 4 0 8 1 3 6 1 1 2 1 7 9
41、 3 1 5 2 2 1 1 4 1 7 2 6 1 3 6 2 0 3 0 1 5 7 2 3 3 5 1 7 9 2 6 3 9 1 9 1 1 2 8 4 3 2 2 1 2 3 1 4 8 2 4 1 4 3 4 1 9 1 Y D / T 7 4 8 一 9 5 表 B 2 测试周期为3 d 和7 d 的B I S限值( 2 0 4 8 k b i t / s ) E S =2 %S E S =0 . 1 通道配额 % ES ( 3 d )S E S ( 3 d )E S ( 7 d ) S ES ( 7 d ) B I S OS 3B I S OS 3B I S O B I S O
42、 0 . 5 1 . 0 1 . 5 2 . 0 2 . 5 3 . 0 3 . 5 4 . 0 4 . 5 5 . 0 5 . 5 6 . 0 6 . 5 7 . 0 7 . 5 8 . 0 8 . 5 9 . 0 9 . 5 1 0 . 0 1 5 . 0 2 0 . 0 2 5 . 0 3 0 . 0 3 5 . 0 4 0 . 0 4 5 . 0 5 0 . 0 5 5 . 0 1 3 2 6 3 9 5 2 6 5 7 8 9 1 1 0 4 1 1 7 1 3 0 1 4 3 1 5 6 1 6 9 1 8 2 1 9 5 2 0 8 2 2 1 2 3 4 2 4 6 2 5 9
43、 3 8 9 5 1 9 6 4 8 7 7 8 9 0 7 1 0 3 7 1 1 6 7 1 2 9 6 1 4 2 6 6 1 6 2 7 3 8 4 9 6 0 7 2 8 4 9 5 1 0 7 1 1 9 1 3 1 1 4 3 1 5 5 1 6 7 1 7 9 1 9 1 2 0 3 2 1 5 2 2 7 3 5 0 4 7 3 5 9 7 7 2 2 8 4 7 9 7 3 1 0 9 9 1 2 2 4 1 3 5 0 1 1 2 3 3 4 5 5 6 6 7 8 8 9 1 0 1 0 1 1 1 2 1 2 1 3 1 8 2 7 3 2 3 9 4 5 5 2 5 8 6 5 7 1 0 1 1 2 2 3 3 3 4 4 4 5 5 6 6 6 7 7 7 7 1 1 1 4 1 6 1 9 2 2 2 5 2 7 3 0 3 3 3 0 6 0 9 1 1 2 1 1 5 1 1 8 1 2 1 2 2 4 2 2 7 2 3 0 2 3 3 3 3 6 3 3 9 3 4 2 3 4 5 4
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