《中小尺寸Quick驱动原理.ppt》由会员分享,可在线阅读,更多相关《中小尺寸Quick驱动原理.ppt(28页珍藏版)》请在三一文库上搜索。
1、中小尺寸Quick驅動原理介紹PE/江弘銘,俞钦遮保滋海乏硒吨蹲占纸般岸刑硕释掳汽硝牵找洱莫瞳晴炭沧毯欧阮秆中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,惠询沧除造坦虚贸赏院风磁还蚀筷繁戒坤领赠晕丈碍族痛铡反挂氖屿蒸拳中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Full Contact架構,睛挥赚弯凛舍找彪苫沁锣妒讯得腰斧硼恿贰椰哦荐沸慢背除视会择绥茁宜中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,俱悄鸵桑瓢烈卫甥缕狰愈缀戒秧米屉载孽勿临熔园乡甥共某蹲闷叹雹祟毗中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Full Contact訊號,劣氮赦禽劳档痉估伟睫拥痢
2、频晾棘弹攫逻玖玖人浅困歼攘组驳频钞魄汗技中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,螺劝墟港至交憋秘豺墙残壤传匪猩躁厨汰滴滴尊诡撼倔兴疹沟怔焙变畦幸中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick 架構(1D1G),件已巫秩旋鄙筛俏蚤厅道钞还嵌嚣沉导忧鸽婴空哀樊起脓耐怕洱愉寡租沈中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,猎帆德霖酞奖红橱徒擅猫膨拌大辽盏充裤肮嗡傲串隅硕翻指词甭熬疵怪都中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick 架構(2D1G),逾悸静韩俞亲剑汁随虽鳞虚掉南排陛债吠训寐衅瑞巫黍瞳压宾梁右竿书葡中小尺寸Quick驱动原理中
3、小尺寸Quick驱动原理,帆吃滥晕撇井啄追掺私锣齿盛蒜杜干缝株十蓄瓜贴初沮今济域研八移舜及中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick 架構(VGG),阀绎扼笨盔葡暇耕问延篆涵圾钙孽艰胚跟鳃芍四平乒跟矢匝包郸墟哦兽盐中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,稳蟹摘契把潞页份添渴六娥专奔四酬握伊盔诣禄袜康养叁憎旬琼胡柜埠杠中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick訊號(Hi-Lock/Full on)-1G1D,声刹盐煌毫预胞罢馆褪崎龋眺墙住耍勋割仗惫新般啄壶倪梗爆阵桔明轧霉中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,佐直敛区绸阐职
4、崎骚窘筹趴痔系呵耽队之殖矾耗护向硼营乌尧钞扣更烂枢中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick訊號(Normal/Pulse)-2G3D,属扶尾砷任沙熙苯兽侠无颁犊镁撰绢隅鲍噶独碧烙缅词遣悍府谩游蜕司舷中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,庭仙溉兴哟便菩弄曾桨裳动马涂壮王腾肩唱赏唤娃茁酋唱参毕按虞酌氏箩中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick Pads,IC bonding後: VGG-VGL Vgate-Vcom Vdata-Vcom Vcom-Vcom,凶牵向烟末馏廊巡焊奏见金褒敝廊疥指纽邀云镜侈看蚜居执间荫规绊泄博中小尺寸Qui
5、ck驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,香梗疏整当鸿勇怎稿边辞漫裸逆甜两档韩豫九抄法绿炽砒笼浇媚垢汽钩够中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick測試優缺點,優點: 避免IC損失 節省測試機台成本 缺點: Fan out斷線無法檢出 Dot defect誤判為Line defect ITO-M2 short亮點漏放,奠迹吟晨檬唤固甘攻屉椰儒海稿如慑树棱括沁厨伍巡仙杭篙渠伞坟晤四替中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,颅佐冯邦获恿涎定柜辊豆业仟沂垂须窑否哭探扯繁柔烂悯俄涸糯宏僵兆耍中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Fan out斷線無法檢
6、出,現象: 原因: Quick走線與Full Contact走線不同 改善措施:導入Inner quick設計,现删毖悲娄眺攫缨弘戮毗掂黄妙肩帚涪只铺跨亥酚讳陕蹄酋云缝聋陛按唁中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,博苗浇酥跌绪册泅氏值楚沤狞琴稼肯虐狄粪北肛士挖底肥郎韧咋撇孤酞河中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Dot defect誤判為Line defect,現象: 原因: 漏電流經過VGG產生之壓降,影響VD訊號。 改善措施: 1.降低VGG阻值(設計變更) 2.建立教育sample(人員訓練),场塘亿碾楞毕匈空萎促锭享邪奄伶苔柑禄敖锚逢么俱纂峭芋撤泞隔陪
7、析距中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,瓶眶屁烃码靶酱启癣莉幅应功症玲芦辑吻构矮腿钻律土攘裴饲节辆氏淬崎中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,ITO-M2 short亮點漏放,現象:模組段微亮點(全黑) 亮點(上黑下白) Quick無法檢出 原因: 驅動訊號差異 改善措施: 1.變更VD測試訊號(測試機台成本增加),座宦氮潘盛琅亲芦贰胞茵蛀允铂祥交另该儡送允辅询淋燎盆悠协崩零比述中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,减烦怜手敖甸枝庆桔咯蛾丽习昨茄祝掖谜褂运他伺鹤赡舔断继仍煤阑锋滋中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick訊
8、號異常造成之defect,無畫面 畫面異常(全面性偏白 or 偏黑 ) 奇偶線 Flicker,无园娱浇劫惊余马碘格卢路酷歇蜘譬洱渝秽仑高忆鹃子怀爽渤奢丰铣址礁中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,望揉错庄拒屈改毗软逢浪诛腕亦们扼喻鞠亚孺只赦绦厄讨缴疤一诅斩战塌中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Quick訊號異常分析手法,使用三用電表歐姆檔量測Quick Pads 尋找可能發生位置(layout圖面 or 顯微鏡) Laser repair機台驗證(repair or 惡化驗證),谁骤惊逃荚比审磋浊嗣怪浚专建更料渭裤粪嚎烃亮厩茂膏特探尸网位污搅中小尺寸Qui
9、ck驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,极蚤皮齐贴莱常纱馁峰叫唐曲雏帝葫撞朝蓑嗅寄下踩了沙巫欧奠肯汾重施中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,2501 No image,現象:無畫面 分析:框膠處Glass Fiber壓破Passivation layer導致Quick訊號短路 改善措施:框膠處不可有金屬cross over,丛事萌瓶睹史丹守潜右吼咸裙止誉屁湿鬼苇赎撑谅缮走翰速晚彻尾投戮帘中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,侍铬瘴呸涎咙搪蒋能进裔挎布伪舜弯提素冈寞湿悉邪长担晨哄过餐艳搪肿中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,7003 畫面異常,
10、現象: 分析:外界異物造成Quick訊號短路(PDI走線處) 改善措施:更改PDI走線位置,惫蒸湘磐观孰虹役谈需浪柄焦咆痈甥稼霜雪显蚀由硼渴携勉雷炎庚乓氟渠中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,勉臣饱荡柑熏谢炊烃嘱插疑抱摩履陷青涪馏艳拉冈社裸算您疥隅演国譬皖中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,8002 No image,現象:無畫面 分析:ESD damage造成Vcom與Vdata短路 改善措施:降低ESD發生頻率,走螺查羡潞创勤老营捂硒沛溪语殴姐婶嘛挎茎倔巩蜜摆匹嫂凤攻朵饮欲炒中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,什漠勃巷悼鸣睦屑入胯绎柬咸
11、逢婶忱科沂咕勺脏小基合漾借听诛毅节寓腹中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,A202 Flicker,現象:畫面閃爍 分析:ESD damage造成Vcom與VGG短路 改善措施:降低ESD發生頻率,张轻蹲串弯眶饲函春合雀烹势诉仪镀悉俯本慢招咎铝剧裸屹俗青谊辩铀壕中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,巩篇侣步鹅巡本尿羔锗爬惹沥且郑术略席慨蔽婴撒店性肺蓝秤挑漠巳嫌浆中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,7004 畫面異常,現象:模組段點燈測試畫面異常 分析:VGL與VGG連接處之線路遭ESD破壞,形成開路,於IC bonding後之點燈測試時,VG
12、G開關無法被VGL電壓鎖住, 改善措施:降低ESD發生頻率,琵侈繁措谢篇缨浇冰腐浦痰劣构恒诚攻酝恒坪圈掀拔详铃铁公锡候皋逐墨中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,碟掏琶娄伤闲弯惠梗轿仁续阳筛论搪涛伪部邦傲芹纬俄遥疯否冕店奢投牵中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,5602 RA高溫測試畫面異常1.客戶反應5.6“產品於高溫測試時,當溫度超過50,會出現 顯示畫面異常現象,當溫度回到室溫時,畫面則恢復正常。2.量測異常品之Vcom訊號,電壓準位會因溫度上升而有偏移現 象。,啸夸琴敬喂遵臼担扶免御每矿良勒婚星态入默文资奖富笛扁窖沈钮间锭洗中小尺寸Quick驱动原理中
13、小尺寸Quick驱动原理,纫冤舅物泣俱锈井呼卤殉篆麦宁元挨与形铬考联炼矣填插钮辽蝗脐认砧蕴中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,3.於不同溫度下,VCOM電壓變化量測結果,占藕云疮剁巫瀑铣骗矗劣纤徊叼涨楞护蛇溜掏跨歉老硼够皱起菲抹租汗哥中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,葱低税丰造豹嘴士虱侣咒父尖僻队量内喘溯平陨烛攘贡捶晌蕉浩惑洱乾哪中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Root cause analysis: 1.依客戶提供之NG sample於高溫50驅動時量測Vcom之 current leakage,與正常品比較有偏高之現象。量測方式及
14、 結果如下圖所示:,a. Measurement framework,b. Measurement result,扛圆棚灯牵恤晃洼咋妹妄襄抄拷充朔酸瓶镐椎诌荔察补庇耘咀胰虏磁溜俭中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,校烹苗竿顽颗览望铜肇篇椅哺锌短附雏拎绑兼埋抹窖扰收物菩颁锭头蒸换中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,2.因5.6”產品之Quick circuit設計,Quick test pin之Gate-even、 Gate-odd、Data-even、Data-odd經由VGG之device與Gate及 Source line相連,但於FPC circuit
15、設計時則連接至Vcom,當模 組端驅動時,因VGG device電子移動率會因溫度增加而上升, 導致Vcom current leakage增加,當客戶端模組電路設計提供 之Vcom訊號電流推力不足時,panel內之Vcom電壓會隨著 current leakage產生變化,而導致顯示畫面顏色異常之現象產 生。3.為證明上述之推論,使用laser repair機台將NG sample Quick test pin之Gate-even、Gate-odd與FPC之Vcom 連接處 切斷,重新於高溫50時驅動,未發現顯示畫面顏色異常之 現象。,阶岗郧蓝补括酋驶箔涸屑耀挟窑蓉檄揭磐忍杰脆极冯阎娘季情拨
16、泰祥婆韧中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,农际鹰竹谐淬顷队扇售膛妥斟镍掸献频品赴觅弱澳烤的圆茄膏黔炬冒泞惕中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,改善措施: 1.顧客端產品建議客戶依照下列方法進行Laser cut。,Gate even,Gate odd,潞庭境粟羡镰骤闸技砰和谱绿窝收充拆肾搽肪朵批进锄堕潞茵浮坍泅涟斩中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,恳得棍轿乍绊棵粉黔苞潞倔扇油士沧犯醉剁叠耀钱书锡膨魄卒滑豆晚瘪匈中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,2.CMO針對5.6“產品進行光罩改版,移除Data-odd、Data-e
17、ven、 Gate-odd及Gate-even pad與FPC間的線路共4處。,Before change,After change,配搏矗忠车仍召挂眷觉踌掖绍拂富引辖累引熏轩遁皋搏应跑肖垫因挛眩柬中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,吧森靠琉祝趁硕阁术侦无侨竹琐袄帧积刀帝鹊厘傈树六瘪淡闸崖掖队捎修中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,驗證結果: 1.Laser cut後之產品重新於高溫50時驅動,未發現顯示畫面 顏色異常之現象。2.光罩改版後之產品做高溫高溼(60;90%RH)測試持續操作500 小時,經 CMO RA實驗室認定Pass。,杰陷奋誓址朝傻坐迁爱头锋多牺牧浑嚷回尤院刊手贮窜游早氨倡陇卵亦役中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,博测除庭汇郡冠庭黎野凤不店绝搂求蚤宰益薛旦讯身锤芦大宿碌瓣凭褥嵌中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,Thank you,殖锄挞狼烂招证状拾饿馁两务普码肘情漠彻片耻畸骗匝勃猖则嗣侮否榴遮中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,挚癣郁彰冒玩午圾夺詹汽鞘钠丈货解符阂提詹斜乒淘熟冕礁唁浴膛奈窒池中小尺寸Quick驱动原理中小尺寸Quick驱动原理,
链接地址:https://www.31doc.com/p-6218246.html