IEC-TS-61094-7-2006.pdf
SPÉCIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 61094-7 Première édition First edition 2006-05 Microphones de mesure Partie 7: Valeurs des différences entre les niveaux d'efficacité en champ libre et en pression des microphones étalons de laboratoire Measurement microphones Part 7: Values for the difference between free-field and pressure sensitivity levels of laboratory standard microphones Numéro de référence Reference number CEI/IEC/TS 61094-7:2006 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numérotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolidées Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros dédition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplémentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette publication, y compris sa validité, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets à létude et lavancement des travaux entrepris par le comité détudes qui a élaboré cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont également disponibles par lintermédiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des recherches textuelles, par comité détudes ou date de publication. Des informations en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- nible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tél: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- SPÉCIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 61094-7 Première édition First edition 2006-05 Microphones de mesure Partie 7: Valeurs des différences entre les niveaux d'efficacité en champ libre et en pression des microphones étalons de laboratoire Measurement microphones Part 7: Values for the difference between free-field and pressure sensitivity levels of laboratory standard microphones Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE L Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 TS 61094-7 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplication 8 2 Références normatives.8 3 Termes et définitions8 4 Conditions ambiantes de référence.8 5 Contexte.10 6 Valeurs des différences entre le niveau defficacité en champ libre et le niveau defficacité en pression.10 6.1 Généralités10 6.2 Origine des données .10 6.3 Expression de la différence entre le niveau defficacité en champ libre et le niveau defficacité en pression 10 6.4 Incertitude sur le niveau d'efficacité calculé en champ libre.12 Annexe A (informative) Données dorigine .16 Annexe B (informative) Remerciements .18 Annexe C (informative) Données anciennes.20 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- TS 61094-7 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope.9 2 Normative references .9 3 Terms and definitions .9 4 Reference environmental conditions.9 5 Background 11 6 Difference values of free-field and pressure sensitivity levels .11 6.1 General.11 6.2 Data sources.11 6.3 Expression for the difference between free-field and pressure sensitivity levels 11 6.4 Uncertainty on the calculated free-field sensitivity level.13 Annex A (informative) Source data.17 Annex B (informative) Acknowledgements .19 Annex C (informative) Historical data.21 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 TS 61094-7 CEI:2006 COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MICROPHONES DE MESURE Partie 7: Valeurs des différences entre les niveaux defficacité en champ libre et en pression des microphones étalons de laboratoire AVANT-PROPOS 1) La Commission Électrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI entre autres activités publie des Normes internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés “Publication(s) de la CEI“). Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations. 2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés sont représentés dans chaque comité détudes. 3) Les publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées comme tels par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final 4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière. 5) La CEI na fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilité nest pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à lune de ses normes. 6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication. 7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé. 8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication. 9) Lattention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente publication CEI peuvent faire lobjet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété ou de ne pas avoir signalé leur existence. La tâche principale des comités détudes de la CEI est lélaboration des Normes inter- nationales. Exceptionnellement, un comité détudes peut proposer la publication dune spécification technique lorsquen dépit de maints efforts, laccord requis ne peut être réalisé en faveur de la publication dune Norme internationale, ou, le sujet est encore en évolution dun point de vue technique ou, pour toute autre raison, il existe une possibilité dans lavenir mais pas dans limmédiat pour un accord sur une norme internationale. Les spécifications techniques sont révisées dans les trois années qui suivent leur publication pour décider si elles peuvent être transformées en Normes internationales. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- TS 61094-7 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ MEASUREMENT MICROPHONES Part 7: Values for the difference between free-field and pressure sensitivity levels of laboratory standard microphones FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non- governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC c