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    SJ-T-10044-1991.pdf

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    SJ-T-10044-1991.pdf

    L - i 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 0 4 2 1 0 0 4 8 -9 1 S J / T 1 0 0 7 8. 1 0 0 8 6 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路T T L电路 ( 一 ) 1 9 9 1 一 0 4 - 0 8 发布1 9 9 1 一 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 工 业 行 业 标 准 电子元器件详细规范 半导体集成电路 C T 5 4 L S 2 8 3 / C T 7 4 L S 2 8 3 型 4 位二进制超前进位全加器 S 7 / T 1 0 0 4 4 - -9 1 De t a i l s p e c i f i c a t i o n f o r e l e c t r o n i c c o mp o n e n t s S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t C T 5 4 L S 2 8 3 / C T 7 4 L S 2 8 3 4 - b i t b i n a r y f u l l a d d e r 本规范规定了半导体集成电路 C T5 4 L S 2 8 3 / C T7 4 L S 2 8 3型 4 位二进制超前进位全加器 质量评定的全部内容。 本标准符合 G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和 G B / T 1 2 7 5 0 K 半导 体集成电路分规范( 不包括混合电路) 的要求。 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 批准1 9 9 1 - 0 7 - 0 1 实施 一2 9 一 3 ,1 / T 1 0 0 4 4 -9 1 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质t的依据: G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和 集成电 路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范 ( 不包括混合电路) S J / T 1 0 0 4 4 -9 1 C T 5 4 L S 2 8 3 / C T 7 4 L S 2 8 3 型4 位二 进制超前进位全加器详细规范 订货资 料: 见本规范第7 章。 1 机械说明 外 形依据: G B 7 0 9 2 半导体集成电 路外形尺寸 。 外形图: G B 7 0 9 2 奎 ,R 5. 3. 1 ;A 5.4.1s'rr, : c ; v,。 习 v + B , C2 I S 二B z : 亡3, 、 ) , F , C 413 习F , Q习A , B , q、 门 。 。 C1 . r7I。 , F GNDL89 JCD, 引出端符号名称见本规范第 1 1 . 1 条。 标志: 按 G B 4 5 8 9 . 1 第 2 . 5 条及本 规范第6 章。 2 简典说明 双极型全加器电路 半导体材料: 硅 封装: 空封、 非空封 逻辑图、 功能表: 见本规范第 1 1章. 品种 : 众 0 - 7 0 ' C ( C) 一 5 5 - 1 2 5 0 ( M ) 陶瓷直擂( D ) IQ T5 4 L S 2 8 3 MD 肠 J . 1 I s . . 2盆 5 3 4 s l a 6 1 1 7 1 0 8 9 黑瓷直擂( J )CT7 4 LS 2 8 3 CJC T5 4 LS 2 8 3 MJ 塑料直擂( P )C T7 4 LS 2 8 3 CP 多层宵瓷扁平( F )C T5 4 LS 2 8 3 MF l 3 质ja评定类别 I,IA 二B, . C S J / T 1 0 0 4 4 - 9 1 极限值 ( 绝对最大额定值) 若无其他规 定, 适用于全工作温度范 围。 条软号参数符号 数值 单位 最小最大 4 . 1工作环境温度 5 4 T. . b 一 5 51 2 5 07 07 4 4 . 2贮存温度T , tg一 6 51 5 0 4 . 3电深电压V 比7 v 4 . 4输入电压v ,7 v 4 . 5 多发射极晶体管 输入端间的电压 V .5 .5 V 电工作燕件和电特性 电特性的检验要求见本规范第 s 章。 电工作条件 若无其他规定, 适用于全工作温度范围。 条 款 号参数符号 数值 单位 最小最大 5 . 1 . 1电饵电压 5 4 V + 4 . 55. 5 v 4. 7 55 . 257 4 5 . 1 . 2 输入高电平电压 V I Hzv 5 . 1 . 3 输入低电平电压 5 4 V 让 0 . 7 v 0 . s7 4 5 . 1 . 4 输出高电平电流 l o x一 4 0 0 产 A 5 . 1 . 5 输出低电平电流 5 4 / o a m A 8 m A 7 4 电特性 若无其他规定, 适用于全工作温度范围。 S J / T 1 0 0 4 4 -9 1 条 款 号 特性和条件曰 符号 规范值 单 位 试 验 最小最大 5 - 2 . 1 输出高电平电压 V 。 二最小V ,=2 V V a二最大l o二一4 0 0 p A 5 4 V . . 2 . 5 v A 3 A 3 z A 3 b 2 . 7 一 5 . 2 . 2 输出低电平电压 V m=最小V ,=2 v V I I 二最 大 5 4I o i =4 mA V o , 0 . 4 v A 3 A 3 a A 3 b 0 . 4 7 4 I o i =4 mA 0 . 51 - = 8 .A 5 . 2 . 3 输入钳位电压 V =最小h . =一1 8 mA V水一 1 . 5 v A 3 A 3 a A 3 b 52 4 一 - 输入高电平电流 V c.。 二最大协. -2 . 7 V 1 ' . 2 0 p A A 3 A 3 . A 3 b 5 . 2 . 5 一 输入低电平电流 V c c 二最大V u . =0 . 4 V 一 0 . 4- A A 3 A 3 . A 3 b 5 . 2 . 6 最大输入电压下的输入电流 V cc = 最 大V 】一 7V / ,一 盯 - 一 . I - A 一 A 3 A 3 a I A 3 b 5 . 2 . 7 一 。 出 短 ,各 电 流 v 二二最大 I -一 2 0 一 1 0 0. A一 一 一 厂一 万砚 一 ” “ A3 b 5 . 2 . 8 电源电流 VC 。 二最大 输 出 端 开 路 所有输入端接地 了 仪 39 一- -一 . A . A 3 A3 n A 3 b 所有输入端接 4 . 5 V 3 4 所有 b; 接 V n 其他输 入接 4 . 5 V 3 4 5 . 2 . 9 传 输 时 间 C r, =1 5 p F 尺 . = 2 k 口 T a m b = 2 5 V c c = 5 V C l u - F l r 川2 4 nS 一 A4 一 一 t “ . .2 4 A 、 B- F t r v . r ,2 4 t -2 a C l a “ C O, t v , . H1 7 t -2 2 A, B - - C O. L P L I1 7 t . . ,1 7 注: 1 ) 条件中“ 最大” 或“ 最小” 指的是 5 . 1 条规定的值 6 标志 一3 2 一 S J / T 1 0 0 4 4 -9 1 器件上的标志示例 : 认证合格标志( 适用时 弓.* 端 识 别 标 二 一 J 邵 一 口 CF 7 4 L 4 2 8 3 CP 旦号 一质量评 定类匆 制 造单 位商标 检脸 批识 别代码 由于器件尺寸的限制. 允许将“ 检验批识别代码” 、 “ 质t评定类别” 标在器件背面。 订货资料 若无其他规定, 订购器件至少需要下列资料: 8 . 产品型号, b . 详细规范编号, c . 质量评定类别; d . 其 他。 试 验余件和检验英求 抽样要求: 根据采用的质 f评定类别, 参照G B / T 1 2 7 5 0 第9 章的有关规定。 A组检验的抽样要求 分组 A QL I 类 I类 I LA QL I L A QL A 1 l0. 6 5且0 . 6 5 A 2 1 0. 1 10 . 1 A3 l 0. 1 5 1 0 . 1 5 M aS 41 . 0S 41 . 0 A 3 bS 41 . 0S 41 . 0 A4S 41 . 0S 41 . 0 B组、 C组和D组检验的抽祥要求 分组 L T Y D . 类 ,类 ABC B 1I S1 51 51 5 C 12 02 02 02 0 S J / T 1 0 0 4 4 -9 1 续表 分组 LT P D I类 , 类 人B C C 2 b1 51 51 51 5 B 3 C 31 51 51 51 5 B 4 C41 01 01 01 0 BS C51 01 01 01 0 C62 02 02 02 0 C 7 1 51 51 5 1 5 B8 C 81 0571 0 C 9 1 55? 1 5 C 1 12 0 2 02 0 2 0 B2 12 0 1 0 1 01 5 C2 32 0 1 01 52 0 C2 42 01 01 52 0 D8 1 0 57 1 0 A组逐批 所有 试验均 为非破坏性的 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定 T a m s e 2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检验 要 求 规 范 值 A l 分组 外部目检 GB 4 5 8 9 . 1 . 第4 . 2 . 1 . 1 条 GB 4 5 8 9 . 1 第4 . 2 . 1 . 1条 标志清晰. 表面无损 伤和气孔 A2 分组 2 5 下的功能验证 按本规范 5 . 2 . 1条, 5 . 2 . 2条和 1 1 . 3条 按本规范 5 . 2 , 1条、 5 . 2 . 2条和 1 1 . 3条 A3 分组 2 5 下的静态特性 G B 3 4 3 9 半导体集 成电路 T T L电路侧 试方法的荃本原理 按本规范 5 . 2 . 1 条至5 . 2 . 8 条和 1 0 . 1 条 按本规范 5 . 2 . 1 条至 5 . 28条 A3 a分组 最高工作温度下 的静态伶性 G B 3 4 3 9 T,.6按本规范 4 . 1条规定的最 大值.条件: 同A3 分组同A3 分组 一3 4 一 S J / T 1 0 0 4 4 -9 1 A组 逐批 ( 续) 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定, T. m b =2 5 C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 枪 脸 要 求 规 范 值 A3 b 分组 最低工作温度下 的静态特性 A4 分组 2 5 下的动态特性 GB 3 4 3 9 T . m b 按本规范 4 . 1条规定的最 小值。 条件: 同A3分组 同A3分组 GB 3 43 9 按本规范 5 . 2 . 9 条和 1 0 . 2条按本规范 5 . 2 . 9 条 B组逐批 标有( D) 的试验是破坏性的 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定, T. m b = 2 5 C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范 值 B1 分组 尺寸 G B 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 2 条及附录 B 按本规范第1章 B 4分组 可焊性 G B 4 5 9 0 半导体集成电 路机械和气候试验方法 第 2 . 5 条 按方法b ( 槽焊法)怪润良好 B 5 分组 温度快速变化 空封器件 盆度快速变化 随后进行: 电 测 t 密封: 细检肠 粗检偏 b . 非空封和环城封的 空封器件 温度快速变化 随后进行: 外部目检 橄态湿热 电测t G B 4 5 9 0第3 . 1条 G B 4 5 9 0第3 . 1 2 条 G B 4 5 9 0第3 . 1 3 条 G B 4 5 9 0第3 . 1条 G B 4 5 8 9 . 1第 . 2 . 1 . 1 条 G B 4 5 9 0 第 3 . 7 条 温度按本规范第4 . 2条规定 循环次数: 1 0 次 同A2 , A 3分组 按规定 按 规 定 温度按本规范第4 . 2条规定 循环次数: 1 0 次 按规定 严格度 A 时间: 2 4 h 同A2 和A3分组 同A2 , A3 分组 同 A1 分组 同 A 2和A3 分组 B 8 分组 电耐久性( 1 6 8 h ) 最后测t ( 同A2 , A3和 A 4分 组 ) G B / T 1 2 7 5 0第 1 2 . 3 条T e m b按本规范4 . 1 条规定的. 大值. 其 他按 本规范1 0 . 3 条. 同A2 , A3 和 A4 分组同 A 2 , A3 和A4分组 一3 5 一 S J / T 1 0 0 4 4 -9 1 B组逐批 ( 续 ) 检 脸 或 试 验 引 用 标 准 条件 若无其他规定. Te m b - 2 5 C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范 值 B 2 1 分 组 高压燕汽( D) ( 非空封器件) 最后侧t ( 同A2 和 A3 分组) GB 4 5 9 0 第4 . 5条严格度C时间: 2 4 h 同A2 和 A3 分组同A2 和 A 3分组 C RR L分组 就B 4 , B 5 , B 8 和B 2 1 分组提供计致检查结果。 C组周期 标有( D) 的试验是破坏性的 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定, T. m b = 2 5 C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 位 验 要 求 规 范 值 C1 分组 尺寸 GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 2 条及附录B 按本规范第 1 章 C 2 b 分组 最高和.低工作 温度下的电特性 G B 3 4 3 9 温度按本规范第 4 . 1 条 同A4 分组 规范值为A4 分组最大值的 1 . 5 倍 C 3 分组 引线强度 拉力( D) 弯曲( D) G B 4 5 9 0 第 2 . 1 条 GB 4 5 9 0 第 2 . 2 条 外加力的值按2 . 1 条表 1 外加力的值按2 . 2条表 2 按 G B 4 5 9 0第2 . 1 . 5条 无 损 伤 C 4 分组 耐焊接热( D) 最后侧t ( 同A 3分组) GB 4 5 9 0 第 2 . 条按方法 1 ( 2 6 0 'C 槽焊) 同A3 分组同 A3 分 组 C 5分组, , 温度快速变化( D ( 非空封和环氧 封的空封器件) 随 后 进 行 : 外部目检 祖态湿热 电测t ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 第3 . 1 条 GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 1 . 1 条 GB 4 5 9 0 第 3 . 7 条 Tq = 一 6 5 ' C 7 '. = 1 5 0 'C 循环次数: 5 0 0 严格度A 2 4 1 同A3 分组 同Al 分组 同 A3 分 组 一3 6 一 S ) % T 1 0 0 4 4 - 9 1 C组周期( 续) 检 脸 或试 验引用 标 准 条件 若无其他规定, T . m b - 2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范 值 C 6 分组, , 粗态加速度( D) ( 空封器件) .后侧t ( 同A3 分组) C旧 4 5 9 0 第2 . 1 0 条加速度: 按规定 同 A 3分组同A3 分组 C 7 分组 艳态湿热( D ) a . 空 封 器 件 1) b . 非空封器件 最 后 侧 t ( 同A2 , A 3分组) GB 4 5 9 0 第 3 . 条 GB 4 5 9 0 第 3 . 7 条 严格度 D 严格度 A. 时间: 1 0 0 0 h 同 A 2 , A3 分组同A2 , A3 分组 C 8分组 电耐久性( 1 0 0 0 h ) 最后侧t ( 同B 8 分组) GB 4 5 9 0 第 4 . 7 条同B 8 分组 同B8 分组同B 8分组 C 9分组 高祖贮存( D ) 最后侧t ( 同B 8 分组) G B 4 5 9 0 第 3 . 3 条沮度按 T . , e ( ma x ) 时间: 1 0 0 0 h 同B8 分组同iB 8分组 C 3 1 分组 标志耐久性G B 4 5 9 0 第4 . 3 条 按方法 2溶液: A型 按4 . 3 . 2条 C 2 3分组 抗溶性( D) ( 非空封器件) G B 4 5 9 0 第4 . 4 条 按GB 4 5 9 0 第 4 . 4 . 2 条按GB 4 5 9 0 镇 4 4 . 2 备 C 2 4分组 易嫩性( D) ( 非空封器件) GB 45 9 0 第4 . 1 条按GB 4 5 9 0 第 4 . 1 . 2 条按GB 4 5 9 0 镇 4 . 1 . 7各 C R R L分组 就C2 6 , C 3 , C 4 , C S , C 6 , C 7 , C8 , C9 , C1 1 , C 2 3和C2 4分组提供计数检查结果. 注: 1 )连续三次通过后, 周期可放宽为一年一次。 9 D组 3 7 一 s 7 / T 1 0 0 4 4 -9 1 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行, 其后每年进行一次. 检 脸 或 试 脸引 用 标 准 条件 若无其他规定. T . . 6 - 2 5 1 0 ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 4 章) 位 脸 要 求 规 范 值 D 8分组 电附久性( D) 最后侧t ( 同B 8 分组) GB / T 1 2 7 5 0第 1 2 . 3条1 类, 2 0 0 0 h ,类, 3 0 0 0 h 其他同B 8 分组 同B 8分组同8 8 分组 1 0 附加资科 1 0 . 1 静态特性的测2 静态特性的测I按G B 3 4 3 9 半导体集成电路T T L电 路侧试方法的基本原 理 . 1 0 . 2 动态特性的测盆 1 0 . 2 . 1 动态特性的测童按 G B 3 4 3 9 . 1 0 . 2 . 2 负载线路 目 试点 搜 被目枯 出端 一甲Jeees F sP 1 0 . 3 电耐久性试验线路 v . 二3 V f . =1 0 0 k H z V 。 二5 V R=2 k f 1 s , / T 1 0 0 4 4 -9 1 1 日几 l 5 L 4 1 3 1 2 1 1 ,. J .1 0 令 、 朴 型号说明 1逻辑符号 1111. 引出端符号名称 A, - A, B , - B ,运算数翰入 Cl , 进位翰入 C O,进位输出 F , -F ,和翰出 3 9 S ) / T 1 0 0 4 4 -9 1 1 1 . 2 逻 辑图 4 0 S J / T 1 0 0 4 4 - 9 1 们 3 功能表 输人 输出 cl 。 二 L / 以 , =1cl = 日 / C o , = H A, / A, / B , / B , Az / A , B , / B ,F , / F , F , / F , C O, / C OF , / F , F 州F , C O, / C o L L工11 , 1 . 1H L I HL L LH L L1 . H 1 . L H L tH 1 . IIH1 H H L L1 , H IHH1 L L H LIHIHHI _ H L H LH H IL LH L H H LHHLL L H H H H LL L HH L H L L LHL H L H H I H L L HH H I L L H LH1 .HH H IL L H H H L HL IHH I _ H L L H H 一 一 一 一 H I. H I _ H HHIHHH L H L H H HH I _ HI _ H H H H HHL H HHHH 41 S J / T 1 0 0 4 4 - 9 1 附录A 筛选 ( 补充件 ) , 类器件: 生产厂自行规定筛选条件。 , 类器件: 筛选项目和条件如下: 等级 A等级 B 内 部 目检 G B 4 5 9 0 46 条 稳态加速度” GB 4 5 9 0 2 . 1 0 条 老化 GB 4 5 9 0 4 . 7 条 。 T. m b 最大、 1 6 8 11 一l 老化后电测t 同A3 分组 刻除不合格品. 若不合格品率大子 5 %. 则该批拒收. 等级 C 内部 目检 GB 45 9 0 4 . 6条 老 化 前 电测 t 同A 3分组 易 q 除不合格品 老化 G B 4 5 9 0 4 . 7 条 , T . m b 最大、 1 6 8 11 老 化 后 电 测 t 同A3 分组 易 组 除 不 合 格 品一 习 注: 1 )不适用于非空封器件。 一4 2 一 S J / T 1 0 0 4 4 -9 1 附加说明: 本标准由全国集成电 路标准化分技术委员会提出。 本标准由北京八七八厂负贵起草。 本标准主要起草人: 孙人杰。 *草庐一苇草庐一苇*提供优质文档, 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件, 请发站内 信和我联系!我一定帮你解决! 提供优质文档, 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件, 请发站内 信和我联系!我一定帮你解决! 本人有各种国内外标准 20 余万个, 包括全系 列 GB 国标国标及国内行业行业及部门标准部门标准,全系列 BSI EN DIN JIS NF AS NZS GOST ASTM ISO ASME SSPC ANSI IEC IEEE ANSI UL AASHTO ABS ACI AREMA AWS ML NACE GM FAA TBR RCC 各国船级 社 船级 社 等大量其他国际标准。豆丁下载网址:豆丁下载网址: http:/www.docin.com/liuyx866

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