HALTandHASS.pdf

高加速寿命试验（HALT ）与高加速应力筛选（HASS ） 一、研究开发 HALT 和 HASS 的背景情况 以往，环境试验被作为一种产品预期要经受外场实际环境的模拟试验。研制产品时通常把技术条件规 定的应力极限值作为鉴定或考核产品的条件。但是，即使已顺利通过了设计阶段的鉴定试验和生产阶段的验 收试验，残留的潜在缺陷仍然很多，大量产品使用时可靠性差，平均故障间隔时间（MTBF ）短，外场返修频 繁，导致担保费用、维修费用居高不下，用户或客户不满意，严重影响研制部门和制造厂商的信誉。 传统的可靠性试验（包括环境应力筛选（ESS ） 、可靠性增长试验和可靠性鉴定试验等）大多也是在模 拟环境下进行的试验，以ESS为例，最早电子产品的ESS是根据美国海军1979年 NAVMAT-P9492生产筛选 试验大纲确定的。温度范围一般采用技术条件规定的上下限，温度循环次数由产品的复杂程度决定，如表 1 所示。随机振动采用梯型谱，2080Hz为+3db/OCT ，80350Hz, 为功率谱密度 0.02 0.04g2/Hz 的平直 谱,3502000Hz为 3db/OCT ，振动时间为单向 10min，三向时每向 5min。90 年制定的国军标 GJB1032 电子 产品环境应力筛选方法参照MIL-STD-2164-85 ，强调无故障检验要求，规定环境应力筛选应包含两部分 试验。第一部分为缺陷剔除试验（尽可能激发故障、并修复），要求完成 40h 温度循环和 5min 随机振动。第 二部分为无故障检验试验，以验证筛选的有效性，其应力量级与第一部分试验相同，要求完成80h 温度循环 中连续 40h 循环无故障和 15min 中连续 5min 无故障振动试验。每一次循环时间约4h，变温率为 5/min ， 振动要求与早期标准相一致。可靠性增长试验则选用模拟现场实际的综合环境条件进行。GJB1407-92 可靠 性增长试验规定可靠性增长的总试验时间一般为（525）MTBF 。这些试验费用昂贵，试验时间长，而价 格和研制周期已成为当今市场激烈竞争的焦点。因此研究开发一种快速、经济、有效的新的可靠性试验方法 已势在必行。 表 1 根据元器件数量规定的温度循环次数 产品元器件数量 100 100500 5001000 10002000 20004000 循环次数2 4 6 8 12 高效价廉的新试验设备的推出和确认使可靠性试验新方法的使用和推广成为可能。新试验设备是由用 液氮制冷的高变温率温箱和气动式三轴六自由度（6DOF ）振动台组成的。目前OVS2.5HP HALT/HASS 试验系 统的主要性能参数已达到：随机振动的频率带宽从2Hz 10KHz ；温度范围从 - 100+200；变温率 60/min 。 这种新的可靠性试验方法就是高加速寿命试验（HALT ） 和高加速应力筛选（HASS ） ， 它们都是由美国 Hobbs 工程公司的 Gregg K Hobbs博士研究并于 1988年在讲授“筛选技术”课程时提出来的， 从九十年代开始 HALT 和 HASS 获得推广应用。与传统的可靠性试验不同，HALT试验的目的是激发故障，即把产品潜在的缺陷激发 成可观察的故障。因此，它不是采用一般模拟实际使用环境进行的试验，而是人为施加步进应力，在远大于 技术条件规定的极限应力下快速进行试验，找出产品的工作极限甚至最终达到的损坏极限（工作极限和损坏 极限的几个具体定义见附录A） 。然后，根据 HALT确定的极限来制订HASS 方案，通过 HASS 剔除生产制造缺 陷，使产品快速达到高可靠性。 附录 B给出的是美国 Tandem 计算机公司在一种容错计算机的CPU 上进行的 HALT和 HASS 研究，从中可 以看出产品正常工作环境极限，HALT极限和给出的 HASS 极限之间的大致数值关系，无可置疑地说明了经过 HALT和 HASS 后，在正常使用条件下产品所具有的高可靠性。 HALT的主要优点归纳如下： a消除设计缺陷，大大提高设计可靠性，确保能获得早期高可靠性，使设备具有高的外场可靠性； b大大减少鉴定试验时的故障，经过HALT的产品，鉴定试验已不重要，仅是一种形式而已； c降低寿命周期费用； d能确切了解工作极限和损坏极限，为制定HASS 方案，确定应力量级提供依据。 HASS 的主要优点归纳如下： a能用最低费用和最短时间激发出产品的潜在缺陷； b能用最低费用和最短时间检测出尽可能多的缺陷； c提高产品外场可靠性； d降低产品生产、筛选、维修和担保总费用。 二、高加速的基本原理 1、疲劳损伤与机械应力之间的关系 众所周知提高应力能加速产品失效，疲劳损伤与机械应力具有如下关系： D n （1） 式中： D是累积的疲劳损伤； n 是应力循环次数； 是机械应力，即单位面积的作用力（由热膨胀，静载荷，振动或任何其它导致机械应力的作用所引 起） ； 是疲劳试验确定的材料常数，其变化范围为8-12。 一般来说，有缺陷部件和元器件（如焊点有气泡，元器件引线有划痕等）之所以容易失效是由于有缺 陷部件的应力比无缺陷的要高，筛选的目的就是要剔除有缺陷的部件或元器件。 Gregg K. Hobbs 根据 1973 年 Steinberg “电子设备振动分析”一文从试片拉伸疲劳试验给出的应力与 失效循环次数关系图（见图1）证明了公式（ 1）的存在，并证明失效循环次数与应力呈指数函数关系，应 力相差一倍，失效循环次数相差1000倍， （相当于寿命相差1000倍） 。这种由机械应力引起的疲劳损伤是累 积的，不可逆的，通常不能消除。一般情况下有缺陷部件引起的应力集中系数可达到2 或 3，其应力是无缺 陷部件的 2 或 3 倍，因而可使疲劳寿命相应降低好几个数量级。 2、温度变化率与激发缺陷所需温度循环次数之间的关系 温度循环属热疲劳性质，S.A. Smithson在 1990 年环境科学学会年会发表的论文中给出了如表2 所示 的不同变温率下的筛选效果，图2 和图 3 给出了相应关系的曲线图。 表 2 筛选效果相同条件下不同变温率与循环次数的关系 变温率（ /min ） 5 10 15 18 20 25 30 40 循环次数 400 55 17 10 7 4 2.2 1 min/ 次 66 33 22 22 18.3 16.5 13.2 8 筛选时间（ h） 440 30 6 3.0 3.0 1.9 0.9 0.1 表 2和图 2、 3说明变温率 5/min 下进行 400个 66min/ 次的温度循环与变温率40/min 进行 1个 8min/ 次循环的效果是一样的，而两者所化的时间比达到4400:1。筛选应力越高，产品的疲劳和破坏越快，但有 缺陷的高应力部位累积疲劳损伤比低应力部位要快得多，这样，就有可能使产品内有缺陷元器件与无缺陷元 器件在相同应力下拉开疲劳寿命的档次，使缺陷迅速暴露的同时，无缺陷部位损伤很小。HALT和 HASS 就是 利用高机械应力和高变温率来实现高加速的。 图 2 变温率与激出缺陷所需温度循环次数的关系 HALT用于产品设计阶段， HASS 用于生产制造阶段。为了尽可能缩短筛选时间，HASS 采用尽可能高的 应力，从而使试验费用尽可能降低，达到快速、经济、高效的目的。 图 3 变温率与激出缺陷所需温度循环次数的关系 三、HALT/HASS 试验过程及方法 对研制的产品来说， HALT/HASS 是一个整体（美国 Tandem计算机公司把 HALT和 HASS 统称为加速应力 试验 AST ） 。HALT采用步进应力的方法进行试验，故HALT又称步进应力试验（美国波音公司把HALT和步进 应力试验称为可靠性强化试验RET ） 。HALT试验过程就是以步进方式对产品施加一系列单应力（如多轴随机 振动，温度循环，电应力等）和组合应力，并逐步增加强度直至产品失效的过程（HALT试验实例见附录C ） 。 在 HALT过程中对发生的每一个失效都进行根本原因分析（Root Cause Analysis） ，不断进行试验、分析、 验证和改进。 HALT是进行 HASS 的前提，只有完成了适当的HALT ，而且所发现的问题均已得到解决，才允许 进行 HASS 。Gregg K. Hobbs 认为不管采用什么筛选方法，筛选过程总要消耗产品一部分疲劳寿命，如果使 用应力和损坏应力之间的余量很小，就根本不能运用任何应力筛选方法进行筛选。因此必须根据HALT得到 的工作极限和损坏极限，摸清产品的设计余量，以此来制订HASS 方案，确定 HASS 的量级，以保证筛选所消 耗的疲劳寿命的量是可以接受的。 产品从 HALT到生产制造中的 HASS ，要完成 HASS 研究。“ HASS 研究”的目的是提供最快捷最有效的筛 选。筛选的有效性是以充分激发产品缺陷又不过量消耗产品使用寿命（即不损坏好的硬件） 的能力来度量的。 HASS 研究过程通常包括HASS 夹具的设计、制造和鉴定，剖面研究和最后的筛选验证（Proof-of-Screen） 。 HASS 夹具应能提供合适的振动传输率、热均匀性和均衡的温度变化率，以使每个试验部位应力量级的变化 最小，振动能量从振动台面到被测单元的传递最大为最佳。剖面研究是要确定应力筛选的试验剖面，包括筛 选选用的应力类型，应力量级，施加应力的顺序、保持时间等。筛选验证首先是要确定通过筛选检测制造缺 陷的有效程度，其次是要证明产品经过筛选后不会过量消耗其使用寿命。剖面设计是一个反复实验的过程。 图 4、图 5 给出了 QualMark 公司对所委托的不间断电源（UPS ）最初设计的 HASS 剖面和最终确定的HASS 剖 面。最初设计的最高剖面温度为83，最低剖面温度为 - 53，平均变温率为 45/min ， 剖面的振动从 5Grms 到 30Grms ， 剖面持续的时间为60min。 最终确定的 HASS 剖面为最高剖面温度为83，最低剖面温度为 -30， 平均变温率为 45/min ，剖面的振动从5Grms到 20Grms ，剖面持续的时间仍为60min。 筛选验证完成后，产品就作好了进行生产制造筛选的准备。对每个产品在生产制造筛选过程中应连续 监测。根据制造数据和现场数据，允许改变试验剖面，但每次变动前都必须仔细考虑和分析。如果筛选遗留 了缺陷或突然出现高的失效率，都必须分析了解原因，根据需要可以修正剖面应力，但任何应力的变动都要 求重新进行筛选验证，如果设计有较大变更，应重新做HALT 。 图 4 最初的 HASS 剖面 QualMark 公司可靠性加速试验中心Mike Silverman 在 2000 年 R&M 年会上介绍 HASS 研究的四种方法归 纳于表 3。 四、开展 HALT 和 HASS 的几点看法 a不同产品有不同的工作极限和损坏极限，因此，对所有产品不存在统一的进行HALT和 HASS 的应力。 不同产品筛选的应力类型是不一样的，应根据产品各自的特点，选择产品最敏感的应力进行筛选。 b故障根本原因分析（ RCA ）和改进措施是HALT和 HASS 的核心。因此，在HALT和 HASS 过程中不能 放过任何一个被激发出的故障，是设计问题就要改进设计，是工艺问题就要改进工艺。只有采用有效的纠正 措施，才能加速设计和工艺的成熟，才能充分发挥HALT和 HASS 的长处。 cHALT和 HASS 需要大量资源设备和专职人员。 因此，一个产品的 HALT和 HASS 计划必须由管理部门、 开发部门和生产部门共同支持。 设计开发工程部、生产制造部和质量可靠性部有关人员都应关心HALT和 HASS 工作，提供时间、经费和受试产品等资源并迅速支持失效分析工作，试验时受试产品的设计师应做到随叫随 到。 图 5 最终的 HASS 剖面 d 应在研制部门大力推广开展HALT和 HASS ，设法使产品的 HALT和 HASS 成为研制部门领导自觉的 需求，可首选在新研制的关键产品上进行试点，摸索和积累经验，然后全面推广。 附录 A 工作极限（ Operating Limit）和损坏极限（ Destruct Limit）的几个具体定义： 工作温度下限产品停止工作或不再满足技术条件要求，但温度上升后，产品仍能恢复正常工作的 那个温度值。 损坏温度下限产品停止工作或不再满足技术条件要求，且温度上升后，产品已不能恢复正常工作 的那个温度值。 表 3 HASS研究的四种方法 方法序 号 应力确定过程 HASS 研究所需 样本量 (套) HASS 研究 所需时间 ( 天) 适用性 方法 1 选一个低于 HALT 工作极限应力作 为初始剖面，运 行 10 次不失效、 若有失效，则降 低应力再试验， 直到运行 10次不 失效为止，然后 将故意引入工艺 缺陷的“种子样 本”（例如冷焊 接和有划痕的引 线等）进行试验， 以确保产品具有 足够强的极限。 1 4 适用于能产生 “种子 样本”的产品 方法 2 同方法 1 运行 10 次，若失效则降 低应力再试验， 否则提高应力重 新试验，直至失 效，以保证应力 足够强。 1 4 适用于产品昂 贵，可靠性十分 关键的产品 方法 3 选一个比损坏极 限稍低一点的应 力，运行 10 次， 因接近破坏应 力，失效可能性 极大，失效后降 低应力，重复试 验，直至运行 10 次不失效，此法 与方法 2 相比， 应力量级更高。 34 5 适用于可靠性很 关键，但不太贵 的产品 方法 4 同方法 1，若失 效，则降低应力 再试验 1 2 适用于只对统计 样本做筛选（不 要求做 100%HASS） ，只要 求发现大致工艺 问题的产品 工作温度上限产品停止工作或不再满足技术条件要求，但温度下降后，产品仍能恢复正常工作的 那个温度值。 损坏温度上限产品停止工作或不再满足技术条件要求，且温度下降后，产品已不能恢复正常工作 的那个温度值。 工作振动极限产品停止工作或不再满足技术条件要求，但振动强度下降后，产品仍能恢复正常工 作的那个振动强度值。 损坏振动极限产品停止工作或不再满足技术条件要求，且振动强度下降后，产品已不能恢复正常 工作的那个振动强度值。 附录 B Tandem 计算机公司引入一种称为HIMALAYA 的新型最佳典型容错计算机的生产线，由于CPU 是最关键 也是最费钱的分系统，因此作为HALT和 HASS 最早研究的对象，研究结果示于图B 图 B 根据图示，内框是指一般的产品要求（GPR ） ，即产品在正常环境下的工作极限，外框为HALT极限，它 是根据三块样板获得的结果，中间框为确定的ESS （即 HASS ）极限：振动取 HALT极限值的 50% ，温度在 HALT 极限值内下调 10、变温率为 30/min 。 1996年 Tandem计算机公司在环境科学学会（IES）年会上以“通过 ESS使新计算机可靠性提高”为题 发表论文，介绍该公司进行三年HALT和 HASS 研究的成果。 附录 C HALT试验实例 （1）波音 777 飞机电子设备进行的试验，试验都在外场可更换单元(LRU)上进行。 施加温度循环、随机振动和两者的组合应力。温度循环分四档进行，即-15+70，-30+85， - 40+100和 -55+115。保温时间为 120min，变温率为 20/min（要求最低变温率为15/min ） 。 每档进行 11 个周期，每个周期施加表C1中所示电应力。 表 C1 周期号 1 2 3 4 5 6 7 电源电平正常值 最大值 +10% 最大值 +10% 最小值 -10% 最小 值 -10% 最小值最大值 信号电平 正常值最小值最大值最小值最大最大值最大值 周期号 8 9 10 11 电源电平 最大值最小值最大值最小值 信号电平 最小值-10% 最小值最小值最大值 在每个极端温度上保温10min。 振动从 2Grms ，10min 开始，按 2Grms步长施加。每步均观察产品有无损坏直至28Grms 。 试验设备性能：变温率为30/min ，温度范围 - 60+150，采用三轴六自由度激振台，振动量级 可控制在 230Grms之内。 波音 777 未做可靠性强化试验 (RET)的 LRU的更换率为 35% ，而经 RET的 LRU的更换率只有 4% 。 波音公司要求所有新研制的设备和在服役中可靠性低或需大修和重新鉴定的现有设备都必须做RET 。 （2）美 QualMark 公司可靠性加速试验中心在1998年 R&M 年会上“ HALT和 HASS 效果总结”一文中， 对所完成的 19 个不同行业 33 个公司 47 种产品的数据进行分析和总结，被试产品大多是电子、电气产品， 其中有些产品含有机械部件。 进行的 HALT过程包括温度循环、快速温度变化、全向（6 自由度）随机振动，以及组合环境，根据需 要还施加产品规定的其它应力，如电应力（通断）电压拉偏、频率拉偏等。施加的各种应力如下： 温度步进应力从 20开始，以 10为步长下降 （或升温） 直至工作下限 （上限）和损坏下限 （上限） ， 每步保温时间为 10min。 快速温度变化，采用温箱的最高和产品允许的变温率。随机振动从3-5Grms，10min 开始，以 3-5Grms 为步长增加直至工作极限和损坏极限。 组合环境采用单应力下确定的温度工作极限为温度剖面的上下限。对大多数产品而言，取决于最大变 温率和功能测试时间，每个温度循环所需时间约30min，在每个极限温度上保温时间约10min。在温度剖面 中施加随机振动，从 3-5Grms开始，按 5-10Grms步长增加。尽可能确定组合环境下的工作极限和损坏极限。 一个完整的 HALT平均时间为 4 天。 经统计不同应力下失效所占的百分比示于表C2 。 表 C2 应力类型 低温步进 应力 高温步进 应力 快速温度 变化 振动步进 应力 振动和快速温变 的组合应力 百分比 % 14 17 4 45 20 受试产品按军用，民用和外场使用分组得出的HALT极限值列于表 C3 表 C3 不同使用场合的产品HALT极限值 产品应用 类别 温度振动 Grms LOL LDL UOL UDL VOL VDL 军用 -69 -78 116 123 121 124 外场 -57 -74 94 115 64 66 民用 -48 -73 90 95 32 39 表中 LOL 工作温度下限 LDL 损坏温度下限 UOL 工作温度上限 UDL 损坏温度上限 VOL 工作振动极限 VDL 损坏振动极限 所有试验都是在 Qualmark OVS 2.5HP组合试验系统上完成的。