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    中华人民共和国国家计量检定规程.docx

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    中华人民共和国国家计量检定规程.docx

    1、国家计量技术规范探测(测量)线圈校准规范试验报告探测(测量)线圈校准规范编制工作组2025年8月一、试验目的依据探测(测量)线圈校准规范中第6条所列的校准项目和校准方法,对探测(测量)线圈进行校准,通过对试验数据的计算和分析,验证该校准规范的正确性和可行性。二、试验项目依据探测(测量)线圈校准规范中规定的校准项目来确定试验项目,详见表1。表1试验项目序号校准项目校准方法条款1线圈常数6.2.2三试验方法依据探测(测量)线圈校准规范中规定的三种校准方法进行试验,具体的试验方法见表2。表2试验方法校准项目试验方法线圈常数冲击法抽拉法低频交流法四试验设备本次试验使用的测量标准及其他设备见表3。表3本

    2、次试验使用的测量标准及其他设备测量标准及其他设备型号规格仪器编号螺线管SL1200YP151009-192磁通计LakeShore480LSBlDM直流电源648LSA13GX电磁铁SG-220YP150130-21磁强计PT20253670直流电源IPAlIO-IOLAB0000A06数字多用表134465AMY54500886数字多用表234410AMY47027795频率计53220AMY58140133交流电源6813BMY41001852分流器TH0400-10A05155846五、试验对象试验对象相关信息见表4。表4试验对象相关信息名称型号编号生产厂家检定结果探测(测量)线圈圆型O

    3、l中国测试技术研究院827.6cm2探测(测量)线圈/中国计量科学研究院8330cm2六试验结果1、外观及工作正常性检查:正常2、线圈常数2.1冲击法冲击法校准电路如图1所示。图1冲击法校准电路冲击法试验过程如图2所示。图2冲击法试验过程冲击法试验数据如表5和表6所示,试验条件为温度:22,湿度:59%RH0表5线圈常数为827.6cm2的探测(测量)线圈冲击法试验数据电压(V)线圈常数(mTV)标准磁场(mT)磁通计示值CmWb)接通或切断电源线圈常数(Cm2)0.7830127.7199.9978.2581接通电源825.810.7830127.7199.9978.2583825.830.

    4、7830127.7199.9978.2576825.760.7830127.7199.9978.2582825.820.7830127.7199.9978.2584825.840.7830127.7199.9978.2587825.870.7830127.7199.9978.2585825.850.7830127.7199.9978.2599825.990.7830127.7199.9978.2593825.930.7830127.7199.9978.2593825.930.7830127.7199.9978.2630断开电源826.300.7830127.7199.9978.2617826.

    5、170.7830127.7199.9978.2628826.280.7830127.7199.9978.2630826.300.7830127.7199.9978.2632826.320.7830127.7199.9978.2629826.290.7830127.7199.9978.2624826.240.7830127.7199.9978.2633826.330.7830127.7199.9978.2631826.310.7830127.7199.9978.2634826.340.3916127.7150.0114.130接通电源826.00.3916127.7150.0114.130826

    6、00.3916127.7150.0114.131826.20.3916127.7150.0114.130826.00.3916127.7150.0114.129825.80.3916127.7150.0114.131826.20.3916127.7150.0114.130826.00.3916127.7150.0114.130826.00.3916127.7150.0114.129825.80.3916127.7150.0114.130826.00.3916127.7150.0114.133断开电源826.60.3916127.7150.0114.133826.60.3916127.7150

    7、0114.133826.60.3916127.7150.0114.132826.40.3916127.7150.0114.133826.60.3916127.7150.0114.133826.60.3916127.7150.0114.133826.60.3916127.7150.0114.133826.60.3916127.7150.0114.133826.60.3916127.7150.0114.133826.6表6线圈常数为8330ci112的探测(测量)线圈冲击法试验数据电压(V)线圈常数(mTV)标准磁场(mT)磁通计示值(mWb)接通或切断电源线圈常数(Cm2)0.7830127.

    8、7199.99783.25接通电源83250.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.2683260.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.2583250.7830127.7199.99783.27断开电源83270.783

    9、0127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.7830127.7199.99783.2783270.3916127.7150.01141.63接通电源83240.3916127.7150.01141.6383240.39

    10、16127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.63断开电源83240.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.6383240.3

    11、916127.7150.01141.6483260.3916127.7150.01141.6483260.3916127.7150.01141.6483260.3916127.7150.01141.6483260.3916127.7150.01141.6483260.3916127.7150.01141.6383240.3916127.7150.01141.648326试验结论:1、验证了冲击法校准探测(测量)线圈的可行性;2、采用断开电源的方式进行冲击法试验得到的探测(测量)线圈常数试验数据更接近探测(测量)线圈的实际校准数据;3、在较大的磁场中测得的探测(测量)线圈常数试验数据比较小的磁场

    12、中数据更接近探测(测量)线圈的实际校准数据。2.2抽拉法抽拉法校准电路如图3所示。图3抽拉法校准电路抽拉法试验过程如图4所示。图4抽拉法试验过程抽拉法试验数据如表7和表8所示,试验条件为温度:20,湿度:52%RHo表7线圈常数为827.6cm2的探测(测量)线圈抽拉法试验数据标准磁场(mT)磁通计示值(mWb)线圈常数(Cm2)100082.70827.082.70827.082.70827.082.70827.082.72827.282.72827.282.72827.282.72827.282.72827.282.72827.250041.33826.641.33826.641.3382

    13、6.641.33826.641.33826.641.33826.641.33826.641.33826.641.33826.641.33826.6表8线圈常数为8330cm2的探测(测量)线圈抽拉法试验数据标准磁场(mT)磁通计示值(mWb)探测(测量)线圈常数(Cm2)300249.98330.0250.08333.3249.98330.0250.28340.0250.38343.3250.28340.0250.18336.7250.28340.0249.98330.0250.08333.3试验结论:1、验证了抽拉法校准探测(测量)线圈的可行性;2、在较大的磁场中测得的探测(测量)线圈常数试

    14、验数据比较小的磁场中数据更接近探测(测量)线圈的实际校准数据。2.3低频交流法低频交流法校准电路如图5所示。图5低频交流法校准电路低频交流法试验过程如图6所示。图6低频交流法试验过程低频交流法试验数据如表9所示,试验条件为温度:22,湿度:48%RHo表9线圈常数为827.6cm2的探测(测量)线圈低频交流法试验数据标准电阻的电压有效值Ui(V)探测(测量)线圈的感应电压有效值U2(V)分流器电分流器阻值R()螺线管常数或磁场线圈常数K(mTA)电流的频频率/(Hz)线圈常数KSN(Cm2)50.00933.2400.1127.7110828.3450.00833.2470.1127.7110

    15、828.5350.00233.2490.1127.7110828.6850.00033.2300.1127.7110828.2450.00033.2390.1127.7110828.4650.00033.2350.1127.7110828.3649.99633.2450.1127.7110828.6850.00133.2300.1127.7110828.2250.00533.2470.1127.7110828.5850.00133.2380.1127.7110828.42试验结论:1、验证了低频交流法校准探测(测量)线圈的可行性。七试验结论试验结果表明探测(测量)线圈校准规范中提出的校准项目和采用的测量标准及其他设备合理可行,校准方法具有可操作性,设定的技术指标合理有效,适用于对探测(测量)线圈的校准。八实验时间和人员1、试验时间:2024年4月-2025年8月2、试验人员:李龙,白凌志


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