光缆测试报告.doc
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1、MLC项目通信传输系统光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日一、 光缆测试说明1、 通信系统说明MLC项目配套工程包括通信传输系统,由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设备,三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网,通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接,实现各线LC业务接入MLC。2、 光纤使用说明1)西直门8层MLC机房(灾备中心)至京投大厦西辅楼一层MLC机房(生产中心),占用南环4芯光纤;2)西直门8层MLC机房(灾备中心)至
2、京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备,占用北环4芯光纤;3)京投大厦西辅楼一层MLC机房(生产中心)至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备,新敷设1根24芯光纤;4)西直门8层MLC机房(灾备中心)至西直门7层通信机房(南环、北环均在此处上光纤配线架),新敷设1根24芯光纤;5)京投大厦西辅楼一层MLC机房(生产中心)至京投大厦西辅楼B1层通信配线间(南环在此处上光纤配线架),新敷设1根24芯光纤;6)京投大厦西辅楼一层MLC机房(生产中心)至京投大厦西辅楼7层配线间,新敷设2根4芯多模光缆。(此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统,是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆);此
3、次测试针对以上6部分进行。3、 测试仪器采用信维牌OTDR(光时域反射仪),具体型号为S20。4、 相关图纸MLC项目通信系统光纤传输路由图二、 光缆测试内容光缆测试包括以下内容: 光缆熔接损耗(MLC项目中的光缆熔接点); 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减;具体说明如下:光缆熔接损耗:西直门本项目敷设的1根24芯光缆;京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆;京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆;3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减:西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减;西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链
4、路衰减;京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减;三、 测试目的序号测试内容测试目的合格标准备注1光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗0.08dB光纤熔接规范2西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰减的要求3西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰减的要求4京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量15dB通信设备对光衰减的要
5、求四、 光缆测试记录1、 西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录在西直门8层MLC机房,对本项目敷设的24芯光纤进行测试;然后在西直门7层通信配线间,对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试;测试结果如下:光纤芯数合格标准(双向测试平均值)测试地点:8层MLC机房测试地点:7层通信配线间双向测试取平均值是否合格8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.0
6、8dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.
7、08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论: 通过 不通过施工单位(签字): 监理单位(签字):日 期: 日 期:2、 京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房,对本项目敷设的24芯光纤进行测试;然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间,对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试;测试结果如下:光纤芯数合格标准(双向测试平均值)测试地点:1层MLC机房测试地点:B1层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08
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