集成电路原理与设计补充.ppt
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1、集成电路设计原理集成电路设计原理巢湖学院陈初侠The Principles of Integrated Circuit Design7/11/20251课程介绍课程介绍课程任务课程任务课程教学内容及安排课程教学内容及安排教材及参考书教材及参考书成绩考核办法成绩考核办法第一章7/11/20252课程任务本课程的任务是:在巩固电子类专业基础课(电路分析、数电、模电)及相关专业课程(半导体物理、半导体工艺原理、微电子器件)的前提下,学习并掌握IC的基本单元结构、工作原理及其电学特性以及集成电路工艺及其进展,能利用MOS器件构建数字集成电路并根据不同设计要求(面积,速度,功耗和可靠性),进行电路分析和
2、优化设计的能力。返回7/11/20253课程教学内容及安排总学时:总学时:64学时(课堂教学64学时)课堂教学内容:课堂教学内容:第一章:绪论(2课时)第二章:集成电路制作工艺(8课时)第三章:集成电路中的器件及模型(8课时)第四章:数字集成电路的基本单元电路(20课时)第五章:数字集成电路中的基本模块(8课时)第六章:COMS集成电路的I/O设计(4课时)第七章:MOS存储器(6课时)第八章:集成电路的设计方法和版图设计(4课时)返回7/11/20254教材及参考书教材:教材:甘学温,赵宝瑛等著,集成电路原理与设计,北京大学出版社,2006。参考书目:参考书目:Jan M.Rabaey等著,
3、周润德等译,数字集成电路:电路、系统与设计(第2版),电子工业出版社,2004年;Sung-Mo Kang等著,王志功等译,CMOS数字集成电路分析与设计(第3版),电子工业出版社,2004年。7/11/20255参考书目:参考书目:R.Jacob Baker等著,陈中建译,CMOS电路设计、布局与仿真,机械工业出版社,2006年;Neil H.E.Weste,David Harris等著,CMOS大规模集成电路设计(英文版 第3版),影印本,机械工业出版社,2005年。返回7/11/20256成绩考核办法考核方式平时(上课、作业等情况)理论笔试(考试)总成绩总成绩=0.7笔试成绩0.3平时成
4、绩(考勤+作业)返回7/11/20257第一章第一章绪绪论论1.1集成电路的重要作用集成电路的重要作用1.2集成电路及其分类集成电路及其分类1.3描述集成电路工艺技术水平的五个技术指标描述集成电路工艺技术水平的五个技术指标1.4集成电路设计与制造的主要流程框架集成电路设计与制造的主要流程框架1.5集成电路的发展历史集成电路的发展历史1.6集成电路的发展规律集成电路的发展规律1.7未来的发展和挑战未来的发展和挑战1.8我国微电子的发展概况我国微电子的发展概况课程介绍7/11/20258 实现社会信息化的网络及其关键部件不管是各种计算机和/或通讯机,它们的基础都是微电子(集成电路)。1.1集成电路
5、的重要作用集成电路的重要作用7/11/20259集成电路集成电路12元元电子产品电子产品10元元国民经济产值国民经济产值100元元?集成电路的战略地位首先表现在当代集成电路的战略地位首先表现在当代国民经济的国民经济的“食物链食物链”关系关系?进入信息进入信息化社会的判据:化社会的判据:半导体产值半导体产值占工农业总产值的占工农业总产值的0.5%7/11/202510据美国半导体协会(据美国半导体协会(SIA)预测预测 电子信息服务业电子信息服务业30万亿美元万亿美元相当于相当于1997年全世界年全世界GDP总总和和电子装备电子装备6-8万亿元万亿元集成电路产值集成电路产值1万亿美元万亿美元GD
6、P50万亿美元万亿美元2012年年7/11/202511其次,统计数据表明,发达国其次,统计数据表明,发达国家在发展过程中都有一条规律家在发展过程中都有一条规律集成电路(集成电路(IC)产值的增长率(产值的增长率(RIC)高于高于电子工业产值的增长率(电子工业产值的增长率(REI)电子工业产值的增长率又高于电子工业产值的增长率又高于GDP的增长率的增长率(RGDP)一般有一个近似的关系一般有一个近似的关系RIC1.52REIREI3RGDP7/11/202512世界世界GDPGDP增长与世界集成电路产业增长情况比较(资料来源:增长与世界集成电路产业增长情况比较(资料来源:ICEICE商业部)商
7、业部)v抓住集成电路产业,就能促进抓住集成电路产业,就能促进GDP高速增长高速增长7/11/202513我国台湾地区我国台湾地区60年代后期人均年代后期人均GDP200-300美元美元(1967年为年为267美元)美元)70-80年代大力发展集成电路产业年代大力发展集成电路产业90年代年代IT业高速发展业高速发展97年人均年人均GDP=13559美元美元返回7/11/2025141.2集成电路及其分类集成电路及其分类1.什么是集成电路?什么是集成电路?IntegratedCircuit,缩写IC通过一系列特定的加工工艺,将晶体管、二极管等有源器件和电阻、电容等无源器件,按照一定的电路互连,“集
8、成”在一块半导体单晶片(如硅或砷化镓)上,封装在一个外壳内,执行特定电路或系统功能的微型结构。7/11/202515几个概念几个概念微电子学微电子学:Microelectronics一门学科,一门研究集成电路设计、制造、测试、封装等全过程的学科半导体半导体:Semiconductor内涵及外延均与微电子类似,是早期的叫法集成电路集成电路IC(IntegrateCircuit):一类元器件的统称,该类器件广泛应用于电子信息产业,几乎所有的电子产品均由集成电路装配而成芯片芯片:chip/die没有封装的集成电路,但通常也与集成电路混用,作为集成电路的又一个名称集成系统芯片集成系统芯片SoC(Sys
9、temonaChip):微电子学和集成电路技术发展的产物,指在单芯片上实现系统级的功能7/11/2025162.集成电路的分类集成电路的分类7/11/202517按器件结构类型分类按器件结构类型分类双极集成电路:主要由双极晶体管构成双极集成电路:主要由双极晶体管构成 只含只含NPNNPN型晶体管的双极集成电路(数字电路)型晶体管的双极集成电路(数字电路)含含NPNNPN型及型及PNPPNP型晶体管的双极集成电路(模拟电路)型晶体管的双极集成电路(模拟电路)金属金属-氧化物氧化物-半导体半导体(MOS)集成电路:主要由集成电路:主要由MOS晶体管晶体管(单极晶体管单极晶体管)构成构成 NMOSN
10、MOS PMOSPMOSCMOS(互补MOS)双极双极-MOS(Bi-MOS)集成电路集成电路:同时包括双极和MOS晶体管的集成电路为Bi-MOS集成电路,综合了双极和MOS器件两者的优点,但制作工艺复杂优点是速度高、驱动能力强,优点是速度高、驱动能力强,缺点是功耗较大、集成度较低缺点是功耗较大、集成度较低功耗低、集成度高,随着特征功耗低、集成度高,随着特征尺寸的缩小,速度也可以很高尺寸的缩小,速度也可以很高7/11/202518按集成电路规模分类按集成电路规模分类集成度:每块集成电路芯片中包含的元器件数目集成度:每块集成电路芯片中包含的元器件数目小规模集成电路小规模集成电路(SmallSca
11、leIC,SSI)中规模集成电路中规模集成电路(MediumScaleIC,MSI)大规模集成电路大规模集成电路(LargeScaleIC,LSI)超大规模集成电路超大规模集成电路(VeryLargeScaleIC,VLSI)特大规模集成电路特大规模集成电路(UltraLargeScaleIC,ULSI)巨大规模集成电路巨大规模集成电路(GiganticScaleIC,GSI)尽管英语中有VLSI,ULSl和GSI之分,但VLSI使用最频繁,其含义往往包括了ULSI和GSI。中文中把VLSI译为超大规模集成,更是包含了ULSI和GSI的意义。7/11/202519规摸大小通常按集成度或每个芯片
12、的门数来划分,如下表所示(以逻辑IC为例)。集成电路规模的划分集成电路规模的划分IC规模的划分SSIMSILSIVLSIULSIGSI芯片所含元件数109芯片所含门数108此外,还有按其他标准的一些此外,还有按其他标准的一些IC分类,如按电路功能和所处理分类,如按电路功能和所处理信号的不同,可分数字或逻辑信号的不同,可分数字或逻辑IC(Digital/LogicIC)、模拟)、模拟IC(AnalogIC)和数模混合)和数模混合IC(Digital-AnalogMixedIC););根据所采用晶体管的不同,又可分为双极型根据所采用晶体管的不同,又可分为双极型IC和和MOS型型IC。返回7/11/
13、2025201.3描述集成电路工艺技术水平描述集成电路工艺技术水平的五个技术指标的五个技术指标1.集成度(IntegrationLevel)2.特征尺寸(FeatureSize)3.晶片直径(WaferDiameter)4.芯片面积芯片面积(ChipArea)5.封装封装(Package)7/11/2025211.集成度(IntegrationLevel)是以一个IC芯片所包含的元件(晶体管或门/数)来衡量,(包括有源和无源元件)。随着集成度的提高,使IC及使用IC的电子设备的功能增强、速度和可靠性提高、功耗降低、体积和重量减小、产品成本下降,从而提高了性能/价格比,不断扩大其应用领域,因此集
14、成度是IC技术进步的标志。为了提高集成度采取了增大芯片面积、缩小器件特征尺寸、改进电路及结构设计等措施。为节省芯片面积普遍采用了多层布线结构,现已达到7层布线。晶片集成(Wafer Scale Integration-WSI)和三维集成技术也正在研究开发。自IC问世以来,集成度不断提高,现正迈向巨大规模集成(Giga Scale Integration-GSl)。从电子系统的角度来看,集成度的提高使IC进入系统集成或片上系统(SoC)的时代。返回7/11/202522特征尺寸从4m70nm的成比例减少的线条2.特征尺寸(FeatureSize)/(CriticalDimension)特征尺寸定
15、义为器件中最小线条宽度(对MOS器件而言,通常指器件栅电极所决定的沟道几何长度),也可定义为最小线条宽度与线条间距之和的一半。减小特征尺寸是提高集成度、改进器件性能的关键。特征尺寸的减小主要取决于光刻技术的改进。集成电路的特征尺寸向深亚微米发展,目前的规模化生产是0.18m、0.15 m、0.13m工艺,Intel目前将大部分芯片生产制成转换到0.09 m。下图自左到方给出的是宽度从4m70nm按比例画出的线条。由此,我们对特征尺寸的按比例缩小有一个直观的印象。返回7/11/202523尺寸从尺寸从2寸寸12寸成比例增加的晶圆寸成比例增加的晶圆3.晶片直径(WaferDiameter)为了提高
16、集成度,可适当增大芯片面积。然而,芯片面积的增大导致每个圆片内包含的芯片数减少,从而使生产效率降低,成本高。采用更大直径的晶片可解决这一问题。晶圆的尺寸增加,当前的主流晶圆的尺寸为8吋,正在向12吋晶圆迈进。下图自左到右给出的是从2吋12吋按比例画出的圆。由此,我们对晶圆尺寸的增加有一个直观的印象。返回7/11/202524通过下图以人的脸面相对照,我们可以对一个12吋晶圆的大小建立一个直观的印象。一个一个12吋晶圆与人脸大小的对比吋晶圆与人脸大小的对比7/11/2025254.芯片面积芯片面积(ChipArea)随着集成度的提高,每芯片所包含的晶体管数不断增多,平均芯片面积也随之增大。芯片面
17、积的增大也带来一系列新的问题。如大芯片封装技术、成品率以及由于每个大圆片所含芯片数减少而引起的生产效率降低等。但后一问题可通过增大晶片直径来解决。5.封装封装(Package)IC的封装最初采用插孔封装THP(through-hole package)形式。为适应电子设备高密度组装的要求,表面安装封装(SMP)技术迅速发展起来。在电子设备中使用SMP的优点是能节省空间、改进性能和降低成本,因SMP不仅体积小而且可安装在印制电路板的两面,使电路板的费用降低60,并使性能得到改进。返回7/11/202526设计设计芯片检测芯片检测单晶、外单晶、外延材料延材料掩膜版掩膜版芯片制造芯片制造过程过程封装
18、封装测试测试系系统统需需求求1.4集成电路设计与制造的主要流程集成电路设计与制造的主要流程框架框架7/11/202527ProductionProcessFlow晶圆片多探针晶圆片多探针测试,坏的芯测试,坏的芯片打标记片打标记IC制造有以下制造有以下5个过程个过程硅晶圆片硅晶圆片晶圆处理制程晶圆处理制程打字、最后测试打字、最后测试封装封装布满芯片的硅晶圆片布满芯片的硅晶圆片 7/11/202528集成电路的设计过程:集成电路的设计过程:设计创意设计创意 +仿真验证仿真验证集成电路芯片设计过程框架集成电路芯片设计过程框架是是功能要求功能要求行为设计(行为设计(VHDL)行为仿真行为仿真综合、优化
19、综合、优化网表网表时序仿真时序仿真布局布线布局布线版图版图后仿真后仿真否否是是否否否否是是Singoff7/11/202529 硅单晶片与加工好的硅片硅单晶片与加工好的硅片7/11/202530集成电路芯片的显微照片(集成电路芯片的显微照片(44mm)7/11/20253164MSDRAM(华虹NEC生产)芯片面积5.899.7=57mm2,1个IC中含有1.34亿只晶体管7/11/202532集成电路的内部单元集成电路的内部单元7/11/202533封装好的集成电路返回7/11/2025341.5集成电路的发展历史集成电路的发展历史1.晶体管的发明晶体管的发明 1946年1月,Bell实验室
20、正式成立半导体研究小组,W.Schokley肖克莱,J.Bardeen巴丁、W.H.Brattain布拉顿。Bardeen提出了表面态理论,Schokley给出了实现放大器的基本设想,Brattain设计了实验。1947年12月23日,第一次观测到了具有放大作用的晶体管7/11/202535肖克莱肖克莱肖克莱肖克莱(WilliamWilliamShockley)Shockley)巴丁巴丁巴丁巴丁(JohnBaJohnBardeenrdeen)布拉顿布拉顿布拉顿布拉顿(WalterWalter Brattain)Brattain)7/11/202536 二战结束时,诸多半导体方面的研究成果为晶体
21、管的发明作好了理论及实践理论及实践上的准备。1946年1月,依据战略发展思想,Bell实验室成立了固体物理研究组及冶金组,开展固体物理方面的研究工作。在系统的研究过程中,肖克莱肖克莱根据肖特基的整流理论,预言通过“场效应”原理,可以实现放大器,然而实验结果与理论预言相差很多。经过周密的分析,巴丁巴丁提出表面态理论表面态理论,开辟了新的研究思路,兼之对电子运动规律的不断探索,经过多次实验,于1947年12月实验观测到点接触型晶体管放大现象。第二年1月肖克莱提出结型晶体管理论,并于1952年制备出结型锗晶体管,从此拉开了人类社会步入电子时代的序幕。7/11/202537 1956年诺贝尔物理学奖授
22、予美国加利福尼亚州景山(Mountain View)贝克曼仪器公司半导体实验室的肖克莱肖克莱(William Shockley,19101989)、美国伊利诺斯州乌尔班那伊利诺斯大学的巴丁巴丁(John Bardeen,19081991)和美国纽约州缪勒海尔(Murray Hill)贝尔电话实验室的布拉顿布拉顿(Walter Brattain,19021987),以表彰他们在1947年12月23日 发明第一个对半导体的研究和NPN点接触式Ge晶体管效应的发现。7/11/202538世界上第一个世界上第一个Ge点接触型点接触型PNP晶体管晶体管蒸金箔蒸金箔塑料楔塑料楔金属金属基极基极锗锗发发射射
23、极极集集电电极极0.005cm的间距的间距7/11/2025392.集成电路的发明集成电路的发明1952年5月,英国科学家G.W.A.Dummer达默 第一次提出了集成电路的设想。1958年以德克萨斯仪器公司的科学家基尔比(Clair Kilby)为首的研究小组研制出了世界上第一块集成电路,并于1959年公布了该结果7/11/2025401958年第一块集成电路:年第一块集成电路:TI公司的公司的Kilby,12个器件,个器件,Ge晶片晶片获得获得2000年年Nobel物理奖物理奖7/11/2025411958年发明第一块简单年发明第一块简单IC的美国的美国TI公司公司JackS.Kilby杰
24、克杰克基尔比、美国加利福尼亚大学的赫伯特基尔比、美国加利福尼亚大学的赫伯特克勒默和俄罗斯圣克勒默和俄罗斯圣彼得堡约飞物理技术学院的泽罗斯彼得堡约飞物理技术学院的泽罗斯阿尔费罗夫一起获得阿尔费罗夫一起获得2000年年Nobel物理奖,以表彰他们为现代信息技术的所作出的基础性物理奖,以表彰他们为现代信息技术的所作出的基础性贡献,特别是他们发明的贡献,特别是他们发明的IC、激光二极管和异质晶体管、激光二极管和异质晶体管。赫伯特赫伯特克勒默克勒默杰克杰克基尔比基尔比泽罗斯泽罗斯阿尔阿尔费罗夫费罗夫7/11/202542 19591959年年 美国仙童美国仙童/飞兆公司(飞兆公司(FairchildsF
25、airchilds )的)的R.NoicyR.Noicy诺依斯开发出用于诺依斯开发出用于ICIC的的SiSi平面工艺技术,从而推动了平面工艺技术,从而推动了ICIC制造业的制造业的大发展。大发展。1959年仙童年仙童公司公司制造的制造的IC年轻时代的诺伊斯年轻时代的诺伊斯7/11/202544 6060年年代代 TTLTTL、ECLECL出出现现并并得得到到广广泛泛应应用用。19661966年年 MOS LSIMOS LSI发明(集成度高,功耗低)发明(集成度高,功耗低)7070年年代代 MOS MOS LSILSI得得到到大大发发展展(出出现现集集成成化化微微处处理理器器,存储器)存储器)V
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