基本IC测试原理介绍.ppt

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1、1.List:uGray-Scale TestuLCD Driver IC介绍介绍uLeakage testuopen&short test2.Gray Scale Test3.Gray Scale TestuGray Scale 测试目的以及原理测试目的以及原理Gary Scale 测试即灰阶测试测试即灰阶测试,主要是在主要是在Input 输入数据输入数据Code 下使下使Output 输出不同色输出不同色阶电压并判定各色阶电压是否在固定输出范围内的测试阶电压并判定各色阶电压是否在固定输出范围内的测试.灰阶测试可以保证屏幕上各像素点不会产生色差的状况灰阶测试可以保证屏幕上各像素点不会产生色差

2、的状况,芯片芯片Bit 数决定灰阶数数决定灰阶数6 Bit 芯片灰阶数量为芯片灰阶数量为 2*2*2*2*2*2=64阶阶4.Gray Scale Testu灰阶数与灰阶数与Gamma Pin 间关系间关系5.Gray Scale Testu灰阶数与灰阶数与Gamma Pin 间关系间关系6.Gray Scale Testu数据数据Code输入输入 LCD driver 可视为将数据输入可视为将数据输入Code 通过通过Gamma Pin 编码输出对应电压的编码输出对应电压的芯片，数据输入方式通过若干周期的数据输入对应至各芯片，数据输入方式通过若干周期的数据输入对应至各Output Pin 脚

3、位置脚位置 数据数据Code输入与输入与Output的输出时序由的输出时序由EIO1，2以及以及CLK 决定决定7.Gray Scale Testu测试测试Gray Scale Waveform波形波形 测试时由测试时由Input使使Output输出同阶输出同阶Code，采集各，采集各Output判断输出是否在规格判断输出是否在规格内内8.Gray Scale Testu测试测试Gray Scale Waveform波形波形 每一阶会采每一阶会采IC 所有所有Output的输出，绿色为测试数据，红色为的输出，绿色为测试数据，红色为H-Limit，黄色，黄色为为L-Limit9.Gray Sca

4、le Testu测试测试Gray Scale Waveform波形波形 各各Output Pin输出电压状况也会细微的差异，所以为保证各像素点在同阶内输出电压状况也会细微的差异，所以为保证各像素点在同阶内不会有明显的色差，各不会有明显的色差，各Output Pin 的的Devition也会做相关的测试也会做相关的测试 10.LCD Driver IC Introduction11.LCD Driver IC IntroductionuSource LCD Driver 基本电路介绍基本电路介绍12.LCD Driver IC IntroductionuSource LCD Driver Fun

5、ction IntroductionGamma Pin 分正负极分正负极,主要是配合液晶分子翻主要是配合液晶分子翻转方向有关转方向有关IC 电源电源Pin 由电压源由电压源VDD和和GND VSS 组成组成,由于由于IC各部分使用不各部分使用不同电路电源可能大于同电路电源可能大于2根而是一组根而是一组Osel 决定芯片输出管脚数量决定芯片输出管脚数量为为 384/360,R/L 决定输出决定输出的顺序的顺序Single Pin 分正负极分正负极,主要主要Single Pin 使用的使用的是差分信号输入是差分信号输入,主要有主要有RSDS,LVDS,Mini-LVDS13.LCD Driver

6、IC IntroductionuSource LCD Driver Function Introduction针对针对Source LCD Driver 我们可以直接把芯片看成将功能复杂我们可以直接把芯片看成将功能复杂D/A转换器转换器假设假设IC Work 在在Osel=H,R/L=H的模式下的模式下,信号输入与输出入下图信号输入与输出入下图:14.uSource LCD Driver 对应至对应至TFT-LCD 面板输出面板输出 Single Pin 直接设定各直接设定各Dots 的透光率使屏幕产生刷新的透光率使屏幕产生刷新,每个每个Pixel由由R,G,B三个三个Dot 组组合而成合而成

7、按此颗举例的按此颗举例的LCD Driver IC,是工作在是工作在Output 384 模式下使用模式下使用8ea Source Driver IC,而而Output 360模式是模式是For 宽屏使用宽屏使用,例如例如:14 宽屏宽屏1280*800 使用使用10ea Source Driver ICLCD Driver IC Introduction15.uGate LCD Driver 基本电路介绍基本电路介绍LCD Driver IC Introduction16.uGate LCD Driver Function IntroductionGate Driver 功能相对简单只是按

8、时钟信号对各输出脚位做按顺序升压选通的功能功能相对简单只是按时钟信号对各输出脚位做按顺序升压选通的功能LCD Driver IC Introduction17.uGate LCD Driver 对应至对应至TFT-LCD 面板输出面板输出 Gate Driver 直接连接在纵向直接连接在纵向,Gate Driver Output 256Pin时时,1024*768 屏幕屏幕使用的使用的3ea Gate DriverLCD Driver IC Introduction18.uSource&Gate Driver 配合配合TFT-LCD 电路电路 Source Driver 负责负责Dot 色彩的

9、选择色彩的选择,Gate Driver 选择刷新的哪一行选择刷新的哪一行,Driver IC 间时间时序的配合由序的配合由LCD Control 输入时钟信号决定时序输入时钟信号决定时序,此部分皆在此部分皆在IC 的的Input Side 实现实现LCD Driver IC Introduction19.Leakage Test Method20.Leakage Test MethoduLeakage 定义定义:Leakage 通常指漏电流之现象通常指漏电流之现象,某种意义上与某种意义上与Short 的状况类似的状况类似,也分单根也分单根Pin Leakage(对地或对电源对地或对电源Pin)

10、也分也分Pin to Pin 的的Leakage,只是只是Short 出现时基本上出现时基本上单单Pin与与Short 的部分不存在阻抗的部分不存在阻抗,但但Leakage 指相连的两部分有一定阻抗的状况指相连的两部分有一定阻抗的状况导致分流导致分流21.uLeakage 测试方法测试方法Input Pin Leakage:对电源对电源Pin Leakage IIH,对地对地Pin Leakage IILInput Signal Pin Leakage:Pull-Up Pin 对电源对电源Pin Leakage IIH,Pull-Down Pin 对地对地Pin Leakage IIH,GA

11、MMA Leakage 测试是测试是Pull Up/Down 两种测试方两种测试方法的结合法的结合Output Pin Leakage:对电源对电源Pin Leakage IOZH,对地对地Pin Leakage IOZLLeakage Test Method22.uInput Pin Leakage Test(对电源对电源Pin/对地对地/Pin to Pin)Leakage Test Method23.uInput Leakage 电路模拟电路模拟(IIL)(对电源对电源Pin/对地对地)IIL测试被测测试被测Pin 接地接地,正常状况在被测正常状况在被测Pin 基本无电流流过基本无电流流

12、过(下图是由于二极管负反下图是由于二极管负反馈导致出现出现微量电流馈导致出现出现微量电流)当被测当被测Pin与电源与电源Pin有阻抗且小于有阻抗且小于525K时电时电流小于流小于-10uA,一般一般测试测试SPEC 为为 -10uALeakage Test Method被测被测Pin无异常模拟电路无异常模拟电路被测被测Pin与电源与电源Pin出现阻抗模拟电路出现阻抗模拟电路24.uInput Leakage 电路模拟电路模拟(IIL)(Pin to Pin)被测被测Pin 接接0V,其他其他 Input 接接 5.25V=VDD,出现出现 Pin to Pin 的的Leakage 时仍然时仍然

13、会出现量测值会出现量测值-10uALeakage Test Method被测被测Pin无异常模拟电路无异常模拟电路被测被测Pin与电源与电源Pin出现阻抗模拟电路出现阻抗模拟电路26.uInput Leakage 电路模拟电路模拟(IIL)(Pin to Pin)被测被测Pin 接接5.25V,其他其他 Input 接接 0V,出现出现 Pin to Pin 的的Leakage 时仍然会出现时仍然会出现量测值量测值-10uA的状况的状况(阻抗小于阻抗小于525K状况状况)Leakage Test Method27.uPull-Up Pin 对电源对电源Pin Leakage IIH上拉上拉Pi

14、n 是在是在IC 内部被测内部被测Pin 与电源与电源Pin 间本来就有固定阻值的电阻间本来就有固定阻值的电阻,如下图如下图:被测被测试试Pin 与电源与电源Pin 间有间有 200K的阻抗的阻抗,正常正常测试测试的的结结果果电电流大流大约约在在-26uA,当当Pin对对电电源源Pin Leakage 时时会出会出现电现电流流变变小的状况小的状况-5.28mA,SPEC 设设定定为为-30uALeakage Test Method29.uPull-Down Pin 对电源对电源Pin Leakage IIH当当 Leakage 阻抗在阻抗在1K时时,电电流出流出现变现变化由化由26uA-5.2

15、8mA,SPEC 设设定定为为 30uALeakage Test Method30.uGAMMA Leakage 测试测试GAMMA Pin 结构是在两根结构是在两根GAMMA Pin 间都有不同间都有不同Ratio 的阻抗造成的阻抗造成GAMMA Pin 电压不同电压不同,用于灰阶计算用于灰阶计算,GAMMA Pin Leakage 测试为测试为Pull Down/Up Leakage 测试的结合测试的结合Leakage Test Method31.Open&Short Test Method32.Open&Short Test MethoduContact TEST OF SIGNAL P

16、INS(Include LCD PIN)Using A DC Test Unit(工程模式测方法工程模式测方法)uCONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PIN(工程模式测方法工程模式测方法)uCONTACT TEST OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)USING A PROGRAMMABLE LOAD(量产测试跑量产测试跑Pattern方法方法)33.Contact Test OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)Using A DC Test UnituSignal Pin 线路结构 Signal Pin 一端通

17、过二极管接一端通过二极管接Power Pin,P极极Signal Pin 一端通过二级管接一端通过二级管接GND,N极极部分产品部分产品 Signal Pin只有只有 N极或极或P 极良率极良率100%不需要做测试不需要做测试P极极N极极34.Contact Test OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)Using A DC Test UnituSignal Pin Test Using DC Unit(ISVM)测试时需将测试时需将Power Supply Pin 置置0V或或Open,GND Pin 接地接地测试测试P 极二极管通路时极二极管通路时,一般加一般加1

18、00uA电流电流,用电压表量测压降通常在用电压表量测压降通常在0.60.7V测试测试N极二极管通路时极二极管通路时,一般加一般加-100uA电流电流,用电压表量测压降通常在用电压表量测压降通常在-0.60.7V除被测除被测Pin需置需置0V,否则会干扰否则会干扰Short 测试测试35.Contact Test OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)Using A DC Test UnituSignal Pin Open Test Result当当IC出现出现Open 时候测试结果为钳制电压时候测试结果为钳制电压(避免出现大阻抗产生大电压避免出现大阻抗产生大电压)2V或

19、或-2V当当P 极和极和N极同时极同时 Open Fail Tape 内内/外引脚断裂的可能较大外引脚断裂的可能较大36.Contact Test OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)Using A DC Test UnituSignal Pin Short Test Result当当IC出现出现Short 时候测试结果为时候测试结果为0V,由于出现二极管被两段被连通的状况由于出现二极管被两段被连通的状况,0.7V压降压降不存在不存在Pin To Pin Short 被测被测Pin与其他与其他Pin Short,由于其他由于其他Pin直接置成直接置成0V,所以被测所以

20、被测Pin量测电压仍然为量测电压仍然为0V37.CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PINuPower Supply Pin 线路结构 Power Supply Pin 通过二级管接通过二级管接GND大部分产品大部分产品Power Supply Pin 不测试不测试Open/Short,由于出现由于出现Open/Short 所有的所有的项目将项目将Fail38.CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PINuPower Supply Pin Using DC Unit(VSVM)除被测除被测Pin需置需置0V,否则会干扰否则会干扰Shor

21、t 测试测试测试时在被测测试时在被测Pin上加电阻和电源上加电阻和电源(负向电源负向电源),测试二极管负载电压测试二极管负载电压39.CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PINuPower Supply Pin Test Result当出现当出现Open 时候测试结果为时候测试结果为 Vs 电压电压(电压表阻抗很大会抢大部分电压负载电压表阻抗很大会抢大部分电压负载)40.CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PINuPower Supply Pin Test Result当当IC出现出现Short 时候测试结果为时候测试结果为0V,由于

22、出现二极管被两段被连通的状况由于出现二极管被两段被连通的状况,0.7V压降压降不存在不存在Pin To Pin Short 被测被测Pin与其他与其他Pin Short,由于其他由于其他Pin直接置成直接置成0V,所以被测所以被测Pin量测电压仍然为量测电压仍然为0V41.CONTACT TEST OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)USING A PROGRAMMABLE LOADuPower Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOAD除被测除被测Pin需置需置0V,否则会干扰否则会干扰Short 测试测试使用使用 Programmab

23、le Load 测试速度比测试速度比DC(MDC/UDC)单元测试速度大幅提高单元测试速度大幅提高,测测试结果数值比对使用试结果数值比对使用Pattern方式方式42.CONTACT TEST OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)USING A PROGRAMMABLE LOADuPower Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOADVT=2V,实际是对被测实际是对被测Pin加加100uA电流电流,压降为压降为0.6V43.CONTACT TEST OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)USING A PROGRA

24、MMABLE LOADuPower Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOADVT=-2V,实际是对被测实际是对被测Pin加加-100uA电流电流,压降为压降为-0.6V44.CONTACT TEST OF SIGNAL PINS(Include LCD PIN)USING A PROGRAMMABLE LOADuPower Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOAD 实际测试中运用相邻相邻Pin VT打至不同的电压档位打至不同的电压档位,对相邻对相邻Pin输入输入100uA/-100uA 电流电流,测试测试Open/Short的部分的部分单根单根Pin的的Open量测值仍然为量测值仍然为Clamp 电压电压,Short量测值为量测值为0VPin To Pin Short 测出为测出为0V,比较容易查找到比较容易查找到Pin To Pin 异常异常相邻相邻Pin电流电流 Loading 的数值为等值反向的数值为等值反向Pin to Pin Short45.uend